В ИОНХ РАН открыт прием заявок на обучение по программе повышения квалификации «Растровая электронная микроскопия для изучения микроструктуры материалов»

Курс «Растровая электронная микроскопия для изучения микроструктуры материалов» направлен на ознакомление с основами метода растровой (сканирующей) электронной микроскопии, а также сопряженных методов анализа (рентгеноспектральный микроанализ и дифракция отраженных электронов), формирование представления об устройстве электронных микроскопов и современных инструментальных возможностях методов при исследовании различных материалов. В рамках курса будут рассмотрены физические основы электронной микроскопии, изучены реальные случаи применения электронной микроскопии при исследовании микроморфологии, структуры и состава объектов. Курс будет полезен научным сотрудникам и начинающим операторам, позволит грамотно спланировать проведение экспериментов на растровом электронном микроскопе, а также поможет в достоверной интерпретации полученных результатов.

Продолжительность курса — 5 дней (очно), по 6 академических часов в день. Количество мест в группе ограничено - не более 10 человек.

Обучение будет проходить в ноябре-декабре 2022 г.

Место проведения – г. Москва, Ленинский проспект, 31, ИОНХ РАН.

Стоимость участия – 29 000 рублей с человека. Заявки на обучение в свободной форме можно направлять по адресу: edu@igic.ras.ru

С аннотацией программы и другими направлениями деятельности ИОНХ РАН по дополнительному образованию можно ознакомиться на сайте института: