Advanced electron microscopy for advanced materials
Тип публикации: Journal Article
Дата публикации: 2012-08-21
SCImago Q1
Tоп 10% SCImago
WOS Q1
БС1
SJR: 8.266
CiteScore: 42
Impact factor: 29.1
ISSN: 09359648, 15214095
PubMed ID:
22907862
General Materials Science
Mechanical Engineering
Mechanics of Materials
Краткое описание
The idea of this Review is to introduce newly developed possibilities of advanced electron microscopy to the materials science community. Over the last decade, electron microscopy has evolved into a full analytical tool, able to provide atomic scale information on the position, nature, and even the valency atoms. This information is classically obtained in two dimensions (2D), but can now also be obtained in 3D. We show examples of applications in the field of nanoparticles and interfaces.
Найдено
Ничего не найдено, попробуйте изменить настройки фильтра.
Для доступа к списку цитирований публикации необходимо авторизоваться.
Для доступа к списку профилей, цитирующих публикацию, необходимо авторизоваться.
Топ-30
Журналы
|
1
2
3
4
5
6
7
8
|
|
|
Ultramicroscopy
8 публикаций, 6.5%
|
|
|
Nanoscale
6 публикаций, 4.88%
|
|
|
ACS Nano
5 публикаций, 4.07%
|
|
|
Nano Letters
4 публикации, 3.25%
|
|
|
Particle and Particle Systems Characterization
3 публикации, 2.44%
|
|
|
Journal of Physical Chemistry C
3 публикации, 2.44%
|
|
|
Journal of Applied Physics
3 публикации, 2.44%
|
|
|
Minerals
3 публикации, 2.44%
|
|
|
Nano Energy
3 публикации, 2.44%
|
|
|
Advanced Materials
3 публикации, 2.44%
|
|
|
Physical Review B
2 публикации, 1.63%
|
|
|
Acta Crystallographica Section B: Structural Science, Crystal Engineering and Materials
2 публикации, 1.63%
|
|
|
Nanomaterials
2 публикации, 1.63%
|
|
|
Materials Characterization
2 публикации, 1.63%
|
|
|
Nanotechnology
2 публикации, 1.63%
|
|
|
Small
2 публикации, 1.63%
|
|
|
Microscopy and Microanalysis
2 публикации, 1.63%
|
|
|
Chinese Chemical Letters
1 публикация, 0.81%
|
|
|
Beilstein Journal of Nanotechnology
1 публикация, 0.81%
|
|
|
Physical Review Letters
1 публикация, 0.81%
|
|
|
Physical Review A
1 публикация, 0.81%
|
|
|
American Mineralogist
1 публикация, 0.81%
|
|
|
Advanced Science
1 публикация, 0.81%
|
|
|
Mineralogical Magazine
1 публикация, 0.81%
|
|
|
MRS Bulletin
1 публикация, 0.81%
|
|
|
Nano Research
1 публикация, 0.81%
|
|
|
Chemical Research in Chinese Universities
1 публикация, 0.81%
|
|
|
Science China: Physics, Mechanics and Astronomy
1 публикация, 0.81%
|
|
|
Journal of Materials Research
1 публикация, 0.81%
|
|
|
1
2
3
4
5
6
7
8
|
Издатели
|
5
10
15
20
25
30
35
|
|
|
Elsevier
31 публикация, 25.2%
|
|
|
American Chemical Society (ACS)
21 публикация, 17.07%
|
|
|
Wiley
20 публикаций, 16.26%
|
|
|
Springer Nature
9 публикаций, 7.32%
|
|
|
Royal Society of Chemistry (RSC)
8 публикаций, 6.5%
|
|
|
MDPI
5 публикаций, 4.07%
|
|
|
IOP Publishing
5 публикаций, 4.07%
|
|
|
American Physical Society (APS)
4 публикации, 3.25%
|
|
|
AIP Publishing
3 публикации, 2.44%
|
|
|
International Union of Crystallography (IUCr)
2 публикации, 1.63%
|
|
|
Oxford University Press
2 публикации, 1.63%
|
|
|
Beilstein-Institut
1 публикация, 0.81%
|
|
|
De Gruyter Brill
1 публикация, 0.81%
|
|
|
Mineralogical Society
1 публикация, 0.81%
|
|
|
Cambridge University Press
1 публикация, 0.81%
|
|
|
Science in China Press
1 публикация, 0.81%
|
|
|
Japan Institute of Light Metals
1 публикация, 0.81%
|
|
|
Cellule MathDoc/Centre Mersenne
1 публикация, 0.81%
|
|
|
American Association for the Advancement of Science (AAAS)
1 публикация, 0.81%
|
|
|
5
10
15
20
25
30
35
|
- Мы не учитываем публикации, у которых нет DOI.
- Статистика публикаций обновляется еженедельно.
Вы ученый?
Создайте профиль, чтобы получать персональные рекомендации коллег, конференций и новых статей.
Войти с ORCID
Метрики
123
Всего цитирований:
123
Цитирований c 2025:
4
(3.26%)
Цитировать
ГОСТ |
RIS |
BibTex |
MLA
Цитировать
ГОСТ
Скопировать
Van Tendeloo G. et al. Advanced electron microscopy for advanced materials // Advanced Materials. 2012. Vol. 24. No. 42. pp. 5655-5675.
ГОСТ со всеми авторами (до 50)
Скопировать
Van Tendeloo G., Bals S., Van Aert S., Verbeeck J., Van Dyck D. Advanced electron microscopy for advanced materials // Advanced Materials. 2012. Vol. 24. No. 42. pp. 5655-5675.
Цитировать
RIS
Скопировать
TY - JOUR
DO - 10.1002/adma.201202107
UR - https://doi.org/10.1002/adma.201202107
TI - Advanced electron microscopy for advanced materials
T2 - Advanced Materials
AU - Van Tendeloo, Gustaaf
AU - Bals, Sara
AU - Van Aert, Sandra
AU - Verbeeck, J.
AU - Van Dyck, Dirk
PY - 2012
DA - 2012/08/21
PB - Wiley
SP - 5655-5675
IS - 42
VL - 24
PMID - 22907862
SN - 0935-9648
SN - 1521-4095
ER -
Цитировать
BibTex (до 50 авторов)
Скопировать
@article{2012_Van Tendeloo,
author = {Gustaaf Van Tendeloo and Sara Bals and Sandra Van Aert and J. Verbeeck and Dirk Van Dyck},
title = {Advanced electron microscopy for advanced materials},
journal = {Advanced Materials},
year = {2012},
volume = {24},
publisher = {Wiley},
month = {aug},
url = {https://doi.org/10.1002/adma.201202107},
number = {42},
pages = {5655--5675},
doi = {10.1002/adma.201202107}
}
Цитировать
MLA
Скопировать
Van Tendeloo, Gustaaf, et al. “Advanced electron microscopy for advanced materials.” Advanced Materials, vol. 24, no. 42, Aug. 2012, pp. 5655-5675. https://doi.org/10.1002/adma.201202107.
Ошибка в публикации?