Strukturbestimmung an einigen Phasen in den Systemen: Zr-Al-Si und Hf-Al-Si{ZrAl3(Si); ZrSi(Al), Hf(Si, Al); Zr3Si2; Hf3Si2}

Die ZrAl3-Struktur wird bestätigt; man findet jedoch in deren Nachbarschaft bei Si-haltigen Legierungen eine weitere Kristallart Zr(Al, Si)3, welcher der TiAl3-Typ zukommt. Die Gitterkonstanten dieser Phase sind:a=5,509,c=8,990 kX·E. undc/a=1,632. Die früher als U II bezeichnete Kristallart im System: Zr−Si wird als ein Monosilicid mit CrB-Typ erkannt und durch Aluminium stabilisiert. Die Abmessungen der Elementarzelle liegen zwischen:a=3,754 und 3,780;b=9,892 und 10,050 bzw.c=3,746 und 3,78 kX·E., wobei die hohen Werte einer Zusammensetzung Zr(Al∼0,3Si∼0,7) entsprechen. Ähnlich wie bei Ti(Al, Si)2 führt die Al/Si-Substitution zu einer pseudotetragonalen Symmetrie. Eine analoge, jedoch ternäre Kristallart Hf(Al∼0,5Si∼0,5) kristallisiert ebenfalls im CrB-Typ mit den Parametern:a=3,707;b=9,870;c=3,746 kX·E. Im Mittelgebiet: Hf−Si tritt eine sehr stabile Kristallart Hf3Si2 mit U3Si2-Struktur auf:a=6,986;c=3,664 kX·E. undc/a=0,5245. Mit Hilfe dieser Kristallart gelingt nunmehr auch der Nachweis der Existenz von Zr3Si2 mit U3Si2-Typ, was die Angaben vonL. Brewer undO. Krikorian bzw.C.H. Dauben bestätigt. Als Gitterkonstanten werden:a=7,068;c=3,707 kX·E. undc/a=0,5245 ermittelt.