Determination of optical parameters of GeTe semiconductor films after thermal treatment
Тип публикации: Journal Article
Дата публикации: 2000-08-01
SCImago Q1
WOS Q1
БС1
SJR: 0.654
CiteScore: 7.9
Impact factor: 4.3
ISSN: 09253467, 18731252
Electronic, Optical and Magnetic Materials
Organic Chemistry
Inorganic Chemistry
Physical and Theoretical Chemistry
Spectroscopy
Atomic and Molecular Physics, and Optics
Electrical and Electronic Engineering
Краткое описание
The optical parameters of GeTe semiconductor films after various thermal treatments have been measured using a novel method. A comparative study using a spectrum ellipsometer is presented. The optical parameters of the films were extracted precisely by data analysis and corrections have been made to previous calculations. Calculations based on the spectral ellipsometry measurements are presented finally, and the complex refractive index curves of the samples in the spectral range from 250 to 830 nm have been obtained.
Найдено
Ничего не найдено, попробуйте изменить настройки фильтра.
Для доступа к списку цитирований публикации необходимо авторизоваться.
Топ-30
Журналы
|
1
2
|
|
|
Journal Physics D: Applied Physics
2 публикации, 15.38%
|
|
|
Optics and Laser Technology
2 публикации, 15.38%
|
|
|
Mendeleev Communications
1 публикация, 7.69%
|
|
|
Journal of Applied Physics
1 публикация, 7.69%
|
|
|
Vacuum
1 публикация, 7.69%
|
|
|
Journal of Non-Crystalline Solids
1 публикация, 7.69%
|
|
|
Journal of Alloys and Compounds
1 публикация, 7.69%
|
|
|
Radiation Physics and Chemistry
1 публикация, 7.69%
|
|
|
Physica Status Solidi (A) Applications and Materials Science
1 публикация, 7.69%
|
|
|
Optical Materials Express
1 публикация, 7.69%
|
|
|
1
2
|
Издатели
|
1
2
3
4
5
6
7
|
|
|
Elsevier
7 публикаций, 53.85%
|
|
|
IOP Publishing
2 публикации, 15.38%
|
|
|
AIP Publishing
1 публикация, 7.69%
|
|
|
Wiley
1 публикация, 7.69%
|
|
|
Optica Publishing Group
1 публикация, 7.69%
|
|
|
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
1 публикация, 7.69%
|
|
|
1
2
3
4
5
6
7
|
- Мы не учитываем публикации, у которых нет DOI.
- Статистика публикаций обновляется еженедельно.
Вы ученый?
Создайте профиль, чтобы получать персональные рекомендации коллег, конференций и новых статей.
Войти с ORCID
Метрики
13
Всего цитирований:
13
Цитирований c 2025:
0
Цитировать
ГОСТ |
RIS |
BibTex |
MLA
Цитировать
ГОСТ
Скопировать
Li J. et al. Determination of optical parameters of GeTe semiconductor films after thermal treatment // Optical Materials. 2000. Vol. 14. No. 4. pp. 337-343.
ГОСТ со всеми авторами (до 50)
Скопировать
Li J., Gan F., Zhengtian Gu 顾., Xie Q., Ruan H., Liang P. Determination of optical parameters of GeTe semiconductor films after thermal treatment // Optical Materials. 2000. Vol. 14. No. 4. pp. 337-343.
Цитировать
RIS
Скопировать
TY - JOUR
DO - 10.1016/S0925-3467(00)00008-2
UR - https://doi.org/10.1016/S0925-3467(00)00008-2
TI - Determination of optical parameters of GeTe semiconductor films after thermal treatment
T2 - Optical Materials
AU - Li, Jing
AU - Gan, Fuxi
AU - Zhengtian Gu, 顾铮天
AU - Xie, Quan
AU - Ruan, Hao
AU - Liang, Peihui
PY - 2000
DA - 2000/08/01
PB - Elsevier
SP - 337-343
IS - 4
VL - 14
SN - 0925-3467
SN - 1873-1252
ER -
Цитировать
BibTex (до 50 авторов)
Скопировать
@article{2000_Li,
author = {Jing Li and Fuxi Gan and 顾铮天 Zhengtian Gu and Quan Xie and Hao Ruan and Peihui Liang},
title = {Determination of optical parameters of GeTe semiconductor films after thermal treatment},
journal = {Optical Materials},
year = {2000},
volume = {14},
publisher = {Elsevier},
month = {aug},
url = {https://doi.org/10.1016/S0925-3467(00)00008-2},
number = {4},
pages = {337--343},
doi = {10.1016/S0925-3467(00)00008-2}
}
Цитировать
MLA
Скопировать
Li, Jing, et al. “Determination of optical parameters of GeTe semiconductor films after thermal treatment.” Optical Materials, vol. 14, no. 4, Aug. 2000, pp. 337-343. https://doi.org/10.1016/S0925-3467(00)00008-2.
Ошибка в публикации?