,  том 51 ,  издание 3 ,  страницы 428-432

Trace element laser microanalyzer with freedom from chemical matrix effect

Тип публикации: Journal Article
Дата публикации: 1979-03-01
SCImago Q1
Tоп 10% SCImago
WOS Q1
БС1
SJR: 1.358
CiteScore: 10.7
Impact factor: 7.3
ISSN: 00032700, 15206882, 21542686
Analytical Chemistry
Для доступа к списку цитирований публикации необходимо авторизоваться.
Для доступа к списку профилей, цитирующих публикацию, необходимо авторизоваться.

Топ-30

Журналы

1
2
3
4
5
6
7
8
9
Spectrochimica Acta, Part B: Atomic Spectroscopy
9 публикаций, 16.98%
Applied Spectroscopy
7 публикаций, 13.21%
Applied Optics
4 публикации, 7.55%
Journal of Applied Spectroscopy
2 публикации, 3.77%
Journal of Analytical Atomic Spectrometry
2 публикации, 3.77%
Applied Physics Reviews
1 публикация, 1.89%
Physical Review A
1 публикация, 1.89%
Microchimica Acta
1 публикация, 1.89%
Russian Chemical Reviews
1 публикация, 1.89%
Journal Physics D: Applied Physics
1 публикация, 1.89%
International Journal of Mass Spectrometry and Ion Physics
1 публикация, 1.89%
Optics Communications
1 публикация, 1.89%
Science of the Total Environment
1 публикация, 1.89%
Journal of Mass Spectrometry
1 публикация, 1.89%
C R C Critical Reviews in Analytical Chemistry
1 публикация, 1.89%
Analytical Spectroscopy Library
1 публикация, 1.89%
Springer Series in Materials Science
1 публикация, 1.89%
Cluster Models for Surface and Bulk Phenomena
1 публикация, 1.89%
Optics Express
1 публикация, 1.89%
Optics Letters
1 публикация, 1.89%
Laser and Particle Beams
1 публикация, 1.89%
Advances in Imaging and Electron Physics
1 публикация, 1.89%
Reviews of Modern Physics
1 публикация, 1.89%
IEEE Transactions on Plasma Science
1 публикация, 1.89%
Journal of Applied Physics
1 публикация, 1.89%
Talanta
1 публикация, 1.89%
1
2
3
4
5
6
7
8
9

Издатели

2
4
6
8
10
12
14
16
Elsevier
16 публикаций, 30.19%
SAGE
7 публикаций, 13.21%
Springer Nature
6 публикаций, 11.32%
Optica Publishing Group
6 публикаций, 11.32%
Wiley
3 публикации, 5.66%
AIP Publishing
2 публикации, 3.77%
American Physical Society (APS)
2 публикации, 3.77%
Royal Society of Chemistry (RSC)
2 публикации, 3.77%
Autonomous Non-profit Organization Editorial Board of the journal Uspekhi Khimii
1 публикация, 1.89%
IOP Publishing
1 публикация, 1.89%
Taylor & Francis
1 публикация, 1.89%
Cambridge University Press
1 публикация, 1.89%
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
1 публикация, 1.89%
2
4
6
8
10
12
14
16
  • Мы не учитываем публикации, у которых нет DOI.
  • Статистика публикаций обновляется еженедельно.

Вы ученый?

Создайте профиль, чтобы получать персональные рекомендации коллег, конференций и новых статей.
 Войти с ORCID
Метрики
53
Поделиться
Цитировать
ГОСТ |
Цитировать
Kwong H. S., Measures R. M. Trace element laser microanalyzer with freedom from chemical matrix effect // Analytical Chemistry. 1979. Vol. 51. No. 3. pp. 428-432.
ГОСТ со всеми авторами (до 50) Скопировать
Kwong H. S., Measures R. M. Trace element laser microanalyzer with freedom from chemical matrix effect // Analytical Chemistry. 1979. Vol. 51. No. 3. pp. 428-432.
RIS |
Цитировать
TY - JOUR
DO - 10.1021/ac50039a025
UR - https://doi.org/10.1021/ac50039a025
TI - Trace element laser microanalyzer with freedom from chemical matrix effect
T2 - Analytical Chemistry
AU - Kwong, H. S.
AU - Measures, R. M.
PY - 1979
DA - 1979/03/01
PB - American Chemical Society (ACS)
SP - 428-432
IS - 3
VL - 51
SN - 0003-2700
SN - 1520-6882
SN - 2154-2686
ER -
BibTex |
Цитировать
BibTex (до 50 авторов) Скопировать
@article{1979_Kwong,
author = {H. S. Kwong and R. M. Measures},
title = {Trace element laser microanalyzer with freedom from chemical matrix effect},
journal = {Analytical Chemistry},
year = {1979},
volume = {51},
publisher = {American Chemical Society (ACS)},
month = {mar},
url = {https://doi.org/10.1021/ac50039a025},
number = {3},
pages = {428--432},
doi = {10.1021/ac50039a025}
}
MLA
Цитировать
Kwong, H. S., and R. M. Measures. “Trace element laser microanalyzer with freedom from chemical matrix effect.” Analytical Chemistry, vol. 51, no. 3, Mar. 1979, pp. 428-432. https://doi.org/10.1021/ac50039a025.
Ошибка в публикации?