Combining Negative Selection Techniques for Triplet Mining in Deep Metric Learning

Тип публикации: Proceedings Article

Дата публикации: 2022-07-06

DOI: 10.1109/iccc202255925.2022.9922727

Скопировать DOI

Для доступа к списку цитирований публикации необходимо авторизоваться.

Для доступа к списку профилей, цитирующих публикацию, необходимо авторизоваться.

	1
Engineering Applications of Artificial Intelligence	Engineering Applications of Artificial Intelligence, 1, 25% Engineering Applications of Artificial Intelligence 1 публикация, 25%
Sensors	Sensors, 1, 25% Sensors 1 публикация, 25%
Expert Systems with Applications	Expert Systems with Applications, 1, 25% Expert Systems with Applications 1 публикация, 25%
	1

	1 2
Elsevier	Elsevier, 2, 50% Elsevier 2 публикации, 50%
MDPI	MDPI, 1, 25% MDPI 1 публикация, 25%
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)	Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 1, 25% Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) 1 публикация, 25%
	1 2

Создайте профиль, чтобы получать персональные рекомендации коллег, конференций и новых статей.

Метрики

Издатель

Ошибка в публикации?