Российская конференция «Рентгеновские методы исследования веществ и материалов»

Страна проведения

Россия

Место проведения

Москва, ИОНХ РАН

Даты проведения

20-24 апреля 2026

Сроки подачи тезисов

До 27 февраля 2026

Способы проведения

Офлайн

Языки

Русский

Области науки

Дифракция Рентгеновское излучение Материаловедение

Сайт конференции

О конференции

Приглашаем Вас принять участие в работе I-ой Российской конференции «Рентгеновские методы исследования веществ и материалов», которая состоится в ИОНХ РАН (г. Москва).

Настоящая конференция охватывает практически все актуальные направления использования рентгеновского излучения для анализа и диагностики веществ и материалов: рентгеновская дифрактометрия, порошковая и монокристальная, рентгеновская спектрометрия по первичным спектрам (электронно-зондовый рентгеноспектральный микроанализ) и по вторичным спектрам – рентгенофлуоресцентный анализ. В программу конференции включены работы в области рентгеновской спектрометрии поглощения, в частности спектрометрия главного края рентгеновского поглощения (XANES) и исследование дальней тонкой структуры рентгеновских спектров поглощения (EXAFS). Применению синхротронных источников во всех видах рентгеновской спектрометрии будет посвящена отдельная секция. В рамках специальной секции будут обсуждаться проблемы рентгеновской рефлектометрии и применения для диагностических целей малоуглового рассеяния рентгеновских лучей. Работа конференции, публикуемые материалы внесут вклад в решение фундаментальных проблем материаловедения, создания новых функциональных материалов.