Рентгеновский компьютерный микротомограф Zeiss Xradia Versa 520

Основное назначение — неразрушающее исследование геометрии и внутренней структуры с высоким пространственным разрешением (не хуже 1 мкм).

Возможности:

1. Количественное определение плотности (в г/см3) в любой точке образца.

2. Получение виртуальных срезов и секций образца без его разрушения.

3. Обнаружение и измерение микродефектов, пустот и включений.

4. Количественное определение общей пористости материала.

5. Картирование плотности, маркировка участков по уровням плотности.

6. Экспорт объёмной геометрии образца в формате .STL для 3D печати, программирования ЧПУ станков или для компьютерного моделирования (ANSYS и др.)

Характеристики:

‒ тип рентгеновского источника: закрытая трубка прострельного типа,

‒ ускоряющее напряжение: от 20 кВ до 160 кВ,

‒ мощность: от 1 до 10 Вт,

‒ максимальный размер образца: диаметр – до 260 мм, высота – до 300 мм,

‒ пространственное разрешение: не хуже 700 нм,

‒ минимальный размер вокселя: 70 нм.