Просвечивающий электронный микроскоп JEOL JEM-2010

Исследование структуры и микроструктуры образцов осуществляли методом просвечивающей электронной микроскопии высокого разрешения (ПЭМВР) – на электронном микроскопе JEM 2010 (JEOL, Japan) c ускоряющим напряжением 200 кВ и предельным разрешением по решетке 0.14 нм. Запись изображений осуществлялась с помощью ПЗС матрицы Soft Imaging System (Germany). Прибор оснащен энергодисперсионным спектрометром рентгеновского характеристического излучения (EDX) XFlash (Bruker, Germany) с полупроводниковым Si-детектором с разрешением по энергии 130 эВ.

Доступно в лаборатории

Лаборатория Электронной Микроскопии
Институт катализа им. Г.К. Борескова СО РАН
Институт катализа им. Г.К. Борескова СО РАН
Лаборатория электронной микроскопии в Институте катализа СО РАН является одним из ведущих подразделений института. Ее работа сосредоточена на проведении фундаментальных исследований в области катализа, физической химии и материаловедения с использованием передовых методов электронной микроскопии.
Катализ
Материаловедение
Неорганическая химия