Рентгеновский дифрактометр Aeris производства PanAnalytical, Нидерланды
Описание
Фазовый анализ образцов, уточнение кристаллической структуры
Технические характеристики
Базовая система: дифрактометр с фокусировкой по Брэггу-Брентано, с вертикальным θ-θ гониометром
Щели фиксированной апертуры
Диапазон углов (2θ): от -3° до 145°
Радиус гонеометра: 145 мм
Высоковольтный генератор Базовый: 300 Вт, стандартный режим 40 КВ/7,5 мА
Повышенной мощности: 600 Вт, 40 КВ/15 мА
Излучение: Cu Ka1, Ka2
Программное обеспечение: HIGH SCORE