Рентгеновский дифрактометр Aeris производства PanAnalytical, Нидерланды

Описание

Фазовый анализ образцов, уточнение кристаллической структуры

Технические характеристики

Базовая система: дифрактометр с фокусировкой по Брэггу-Брентано, с вертикальным θ-θ гониометром

 

Щели фиксированной апертуры

 

Диапазон углов (2θ): от -3° до 145°

 

Радиус гонеометра: 145 мм

 

Высоковольтный генератор Базовый: 300 Вт, стандартный режим 40 КВ/7,5 мА

 

Повышенной мощности: 600 Вт, 40 КВ/15 мА

 

Излучение: Cu Ka1, Ka2

 

Программное обеспечение: HIGH SCORE