Просвечивающий электронный микроскоп (Jeol JEM-F200 в конфигурации Ultra High Resolution, 2019 г.) (ЦКП ЮФУ)

Просвечивающий электронный микроскоп нового поколения JEOL JEM-F200 позволяет получать высококачественные изображения с увеличением в просвечивающем режиме ; х2 млн., а в сканирующем просвечивающем режиме - х150 млн.

Технические характеристики

Разрешение микроскопа достигает 0.1 нм., что гораздо меньше длины связи в углерод-углерод (0.154 нм.) в этане.

Диапазон ускоряющего напряжения электронов от 20 до 200 кВ.

Возможность перемещения образа в рабочей области по осям X, Y, Z с шагом 1 нм.