Proceedings of 2017 20th IEEE International Conference on Soft Computing and Measurements, SCM 2017

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)

Вы ученый?

Создайте профиль, чтобы получать персональные рекомендации коллег, конференций и новых статей.
 Войти с ORCID
Варианты названий
Proceedings of 2017 20th IEEE International Conference on Soft Computing and Measurements, SCM 2017

Наиболее цитируемые за 5 лет

Топ-100

Публикующиеся страны

1
2
Россия, 2, 100%
Россия
2 публикации, 100%
1
2