2021 IEEE International Conference on Manipulation, Manufacturing and Measurement on the Nanoscale (3M-NANO)

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)

Вы ученый?

Создайте профиль, чтобы получать персональные рекомендации коллег, конференций и новых статей.
 Войти с ORCID
Варианты названий
2021 IEEE International Conference on Manipulation, Manufacturing and Measurement on the Nanoscale (3M-NANO)
Публикаций
1
Цитирований
4
Индекс Хирша
1
Публикаций
1
Цитирований
4

Наиболее цитируемые за 5 лет

Топ-100

Цитирующие журналы

1
Silicon
1 цитирование, 25%
Processes
1 цитирование, 25%
Physics of Atomic Nuclei
1 цитирование, 25%
npj Biosensing
1 цитирование, 25%
1

Цитирующие издатели

1
2
Springer Nature
2 цитирования, 50%
Pleiades Publishing
1 цитирование, 25%
MDPI
1 цитирование, 25%
1
2

Публикующиеся организации

1
Национальный исследовательский технологический университет «МИСиС»
1 публикация, 100%
Институт проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов РАН
1 публикация, 100%
1

Публикующиеся страны

1
Россия, 1, 100%
Россия
1 публикация, 100%
1