Заведующий лабораторией

Сафаров Ильфат М

к.т.н.
Публикаций
36
Цитирований
463
Индекс Хирша
11
Необходимо авторизоваться.

Группа Электронно-микроскопических исследований решает задачи аналитической и количественной микроскопии, локального элементного анализа, кристаллографического анализа в микрообластях.

  1. Просвечивающая микроскопия высокого разрешения
  2. Сканирующая электронная микроскопия (СЭМ)
  3. Энергодисперсионная рентгеновская спектроскопия
  4. Атомно-эмиссионная спектрометрия с индуктивно-связанной плазмой
Растровый электронный микроскоп предназначен для исследований микроструктуры материалов в режиме регистрации вторичных электронов (рельеф) и обратно отраженных электронов (фазовый контраст). Оснащен детектором Inca X-Act (Oxford Instruments, Англия) для энерго-дисперсионного анализа (ЭДА) элементного состава материалов.
Растровый электронный микроскоп высокого разрешения предназначен для исследований микроструктуры материалов в режиме регистрации вторичных электронов (рельеф) и обратно отраженных электронов (фазовый контраст). Оснащен детектором Nordlys (Oxford Instruments, Англия) для EBSD анализа кристаллографических ориентировок структуры материалов.
Микроскоп позволяет проводить исследования атомно-кристаллической и аморфной структуры с высоким разрешением различных объектов (металлических керамических, биологических). Микроскоп оснащен приставкой для нагрева и охлаждения непосредственно в колоне микроскопа (in situ).
Сафаров Ильфат М
Ильфат Сафаров
Заведующий лабораторией
Ирек Мусабиров 🥼 🤝
Старший научный сотрудник
Руслан Гайфуллин 🤝
Младший научный сотрудник
Всего публикаций
6
Всего цитирований
139
Цитирований на публикацию
23.17
Среднее число публикаций в год
0.19
Годы публикаций
1994-2024 (31 год)
h-index
2
i10-index
1
m-index
0.06
o-index
15
g-index
6
w-index
1
Описание метрик
h-index
Учёный имеет индекс h, если h из его N статей цитируются как минимум h раз каждая, в то время как оставшиеся (N - h) статей цитируются не более чем h раз каждая.
i10-index
Число статей автора, получивших не менее 10 ссылок каждая.
m-index
m-индекс ученого численно равен отношению его h-индекса к количеству лет, прошедших с момента первой публикации.
o-index
Среднее геометрическое h-индекса и числа цитирований наиболее цитируемой статьи ученого.
g-index
Для данного множества статей, отсортированного в порядке убывания количества цитирований, которые получили эти статьи, g-индекс это наибольшее число, такое что g самых цитируемых статей получили (суммарно) не менее g2 цитирований.
w-index
Если w статей ученого имеют не менее 10w цитирований каждая и другие статьи меньше, чем 10(w+1) цитирований, то w-индекс исследователя равен w.

Топ-100

Области наук

1
2
3
General Materials Science, 3, 50%
General Materials Science
3 публикации, 50%
Condensed Matter Physics, 2, 33.33%
Condensed Matter Physics
2 публикации, 33.33%
Metals and Alloys, 1, 16.67%
Metals and Alloys
1 публикация, 16.67%
Electronic, Optical and Magnetic Materials, 1, 16.67%
Electronic, Optical and Magnetic Materials
1 публикация, 16.67%
1
2
3

Журналы

1
Transactions of the Indian Institute of Metals
1 публикация, 16.67%
Metals
1 публикация, 16.67%
Journal of Magnetism and Magnetic Materials
1 публикация, 16.67%
Materials Today Communications
1 публикация, 16.67%
Letters on Materials
1 публикация, 16.67%
Nanostructured Materials
1 публикация, 16.67%
1

Цитирующие журналы

2
4
6
8
10
12
14
16
Materials Science & Engineering A: Structural Materials: Properties, Microstructure and Processing
16 цитирований, 11.51%
Acta Materialia
13 цитирований, 9.35%
Журнал не определён, 11, 7.91%
Журнал не определён
11 цитирований, 7.91%
Physics of Metals and Metallography
9 цитирований, 6.47%
Journal of Materials Science
6 цитирований, 4.32%
Materials Science Forum
5 цитирований, 3.6%
Materials Science and Technology
5 цитирований, 3.6%
Nanostructured Materials
5 цитирований, 3.6%
Journal of Alloys and Compounds
4 цитирования, 2.88%
Progress in Materials Science
4 цитирования, 2.88%
Metallurgical and Materials Transactions A: Physical Metallurgy and Materials Science
4 цитирования, 2.88%
Materials Transactions
3 цитирования, 2.16%
Applied Mechanics and Materials
3 цитирования, 2.16%
Philosophical Magazine Letters
2 цитирования, 1.44%
Metals
2 цитирования, 1.44%
IOP Conference Series: Materials Science and Engineering
2 цитирования, 1.44%
Journal of Magnetism and Magnetic Materials
2 цитирования, 1.44%
Surface and Coatings Technology
2 цитирования, 1.44%
Scripta Materialia
2 цитирования, 1.44%
Journal of Materials Research and Technology
2 цитирования, 1.44%
Advanced Engineering Materials
2 цитирования, 1.44%
Wear
2 цитирования, 1.44%
Solid State Phenomena
1 цитирование, 0.72%
Materials Letters
1 цитирование, 0.72%
Journal of Materials Processing Technology
1 цитирование, 0.72%
Journal of Communications Technology and Electronics
1 цитирование, 0.72%
Transactions of Nonferrous Metals Society of China
1 цитирование, 0.72%
Defect and Diffusion Forum
1 цитирование, 0.72%
Journal of Materials Engineering and Performance
1 цитирование, 0.72%
Steel in Translation
1 цитирование, 0.72%
Metals and Materials International
1 цитирование, 0.72%
Science and Technology of Welding and Joining
1 цитирование, 0.72%
Doklady Physics
1 цитирование, 0.72%
Surface Engineering
1 цитирование, 0.72%
Journal of Superhard Materials
1 цитирование, 0.72%
Materials Characterization
1 цитирование, 0.72%
International Materials Reviews
1 цитирование, 0.72%
Materials Today Communications
1 цитирование, 0.72%
Crystals
1 цитирование, 0.72%
Minerals, Metals and Materials Series
1 цитирование, 0.72%
Uspehi Fiziki Metallov
1 цитирование, 0.72%
JOM
1 цитирование, 0.72%
Key Engineering Materials
1 цитирование, 0.72%
Letters on Materials
1 цитирование, 0.72%
Journal of Nanomaterials
1 цитирование, 0.72%
NanoScience and Technology
1 цитирование, 0.72%
Manufacturing Letters
1 цитирование, 0.72%
Proceedings of the Institution of Mechanical Engineers, Part B: Journal of Engineering Manufacture
1 цитирование, 0.72%
Frontiers in Materials
1 цитирование, 0.72%
Materials
1 цитирование, 0.72%
Philosophical Magazine A
1 цитирование, 0.72%
Физика металлов и металловедение
1 цитирование, 0.72%
The Philosophical Magazine
1 цитирование, 0.72%
Радиотехника и электроника
1 цитирование, 0.72%
Material Sciences
1 цитирование, 0.72%
2
4
6
8
10
12
14
16

Издатели

1
2
3
Elsevier
3 публикации, 50%
Springer Nature
1 публикация, 16.67%
MDPI
1 публикация, 16.67%
Institute for Metals Superplasticity Problems of RAS
1 публикация, 16.67%
1
2
3

Организации из публикаций

1
2
3
4
5
6
Институт проблем сверхпластичности металлов РАН
6 публикаций, 100%
Институт радиотехники и электроники имени В.А. Котельникова РАН
2 публикации, 33.33%
Челябинский государственный университет
2 публикации, 33.33%
Уфимский университет науки и технологий
2 публикации, 33.33%
Институт низких температур и структурных исследований им. Влодзимежа Тшебятовского, Польская академия наук
2 публикации, 33.33%
Национальный исследовательский технологический университет «МИСиС»
1 публикация, 16.67%
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН
1 публикация, 16.67%
Институт физики металлов имени М. Н. Михеева УрО РАН
1 публикация, 16.67%
Южно-Уральский Государственный Университет
1 публикация, 16.67%
Институт экспериментальной минералогии им. Д.С. Коржинского РАН
1 публикация, 16.67%
Дагестанский федеральный исследовательский центр РАН
1 публикация, 16.67%
Университет Неймегена
1 публикация, 16.67%
Университет Гренобль-Альпы
1 публикация, 16.67%
Университет Тулуза III - Поль Сабатье
1 публикация, 16.67%
Национальный институт прикладных наук Тулузы
1 публикация, 16.67%
1
2
3
4
5
6

Страны из публикаций

1
2
3
4
5
6
Россия, 6, 100%
Россия
6 публикаций, 100%
Польша, 2, 33.33%
Польша
2 публикации, 33.33%
Франция, 1, 16.67%
Франция
1 публикация, 16.67%
Нидерланды, 1, 16.67%
Нидерланды
1 публикация, 16.67%
1
2
3
4
5
6

Цитирующие организации

5
10
15
20
25
Организация не определена, 21, 15.11%
Организация не определена
21 цитирование, 15.11%
Уфимский университет науки и технологий
17 цитирований, 12.23%
Институт проблем сверхпластичности металлов РАН
15 цитирований, 10.79%
Технологический институт Карлсруэ
10 цитирований, 7.19%
Технологический университет Тоёхаси
10 цитирований, 7.19%
Ульмский университет
8 цитирований, 5.76%
Институт металлургии и материаловедения им. А.А. Байкова РАН
6 цитирований, 4.32%
Руанский университет
6 цитирований, 4.32%
Национальный исследовательский технологический университет «МИСиС»
4 цитирования, 2.88%
Институт физики твердого тела РАН
4 цитирования, 2.88%
Центральный южный университет
4 цитирования, 2.88%
Институт экологически чистых материалов Общества Макса Планка
4 цитирования, 2.88%
Институт материаловедения имени Эриха Шмида Австрийской академии наук
4 цитирования, 2.88%
Nippon Steel Corporation (Nippon Steel & Sumitomo Metal Corporation)
4 цитирования, 2.88%
Институт радиотехники и электроники имени В.А. Котельникова РАН
3 цитирования, 2.16%
Институт физики прочности и материаловедения СО РАН
3 цитирования, 2.16%
Институт машиноведения имени Э.С. Горкунова УрО РАН
3 цитирования, 2.16%
Челябинский государственный университет
3 цитирования, 2.16%
Федеральная политехническая школа Лозанны
3 цитирования, 2.16%
Университет Гренобль-Альпы
3 цитирования, 2.16%
Чунцинский университет науки и технологий
3 цитирования, 2.16%
Тайюаньский технологический университет
3 цитирования, 2.16%
Университет Южной Калифорнии
3 цитирования, 2.16%
Саутгемптонский университет
3 цитирования, 2.16%
Гёттингенский университет имени Георга Августа
3 цитирования, 2.16%
Университет Кюсю
3 цитирования, 2.16%
Университет Алабамы
3 цитирования, 2.16%
Университет Жана Монне
3 цитирования, 2.16%
Национальный институт прикладных наук Лиона
3 цитирования, 2.16%
Политехнический институт Гренобля
3 цитирования, 2.16%
Московский государственный университет имени М.В. Ломоносова
2 цитирования, 1.44%
Институт физики металлов имени М. Н. Михеева УрО РАН
2 цитирования, 1.44%
Университет Тегерана
2 цитирования, 1.44%
Технион - израильский технологический институт
2 цитирования, 1.44%
Национальный институт материаловедения
2 цитирования, 1.44%
Университет Цукубы
2 цитирования, 1.44%
Университет Глазго
2 цитирования, 1.44%
Аргоннская национальная лаборатория
2 цитирования, 1.44%
Берлинский технический университет
2 цитирования, 1.44%
Калифорнийский университет в Дейвисе
2 цитирования, 1.44%
Осакский университет
2 цитирования, 1.44%
Институт интеллектуальных систем Макса Планка
2 цитирования, 1.44%
Университет Эрлангена — Нюрнберга
2 цитирования, 1.44%
Университет Акита
2 цитирования, 1.44%
Институт низких температур и структурных исследований им. Влодзимежа Тшебятовского, Польская академия наук
2 цитирования, 1.44%
Институт исследования металлов, Китайская академия наук
2 цитирования, 1.44%
Институт нефтехимического синтеза им. А.В. Топчиева РАН
1 цитирование, 0.72%
Институт физики молекул и кристаллов УФИЦ РАН
1 цитирование, 0.72%
Институт автоматики и электрометрии СО РАН
1 цитирование, 0.72%
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН
1 цитирование, 0.72%
Институт механики им. Р.Р. Мавлютова УФИЦ РАН
1 цитирование, 0.72%
Уральский федеральный университет имени первого Президента России Б.Н. Ельцина
1 цитирование, 0.72%
Томский Государственный Университет
1 цитирование, 0.72%
Национальный Исследовательский Томский Политехнический Университет
1 цитирование, 0.72%
Институт экспериментальной минералогии им. Д.С. Коржинского РАН
1 цитирование, 0.72%
Институт физики им. Х.И. Амирханова ДФИЦ РАН
1 цитирование, 0.72%
Санкт-Петербургский государственный университет
1 цитирование, 0.72%
Новосибирский государственный технический университет
1 цитирование, 0.72%
Национальный медицинский исследовательский центр онкологии им. Н. Н. Блохина Минздрава России
1 цитирование, 0.72%
Московский политехнический университет
1 цитирование, 0.72%
Дагестанский федеральный исследовательский центр РАН
1 цитирование, 0.72%
Технологический университет имени Шарифа
1 цитирование, 0.72%
Институт технологии и науки Бирлы в Пилани
1 цитирование, 0.72%
Индийский технологический институт в Мадрасе
1 цитирование, 0.72%
Индийский институт технологии в Мумбаи
1 цитирование, 0.72%
Организация оборонных исследований и разработок
1 цитирование, 0.72%
Даляньский технологический университет
1 цитирование, 0.72%
Лёвенский католический университет
1 цитирование, 0.72%
Гентский университет
1 цитирование, 0.72%
Университет Неймегена
1 цитирование, 0.72%
Китайский нефтяной университет в Пекине
1 цитирование, 0.72%
Уханьский технологический университет
1 цитирование, 0.72%
Северо-Восточный университет
1 цитирование, 0.72%
Делфтский технический университет
1 цитирование, 0.72%
Миланский технический университет
1 цитирование, 0.72%
Автономный университет Барселоны
1 цитирование, 0.72%
Туринский университет
1 цитирование, 0.72%
Норвежский университет науки и технологий
1 цитирование, 0.72%
Тайюаньский университет науки и технологий
1 цитирование, 0.72%
Шанхайский университет
1 цитирование, 0.72%
Фуянский педагогический университет
1 цитирование, 0.72%
Университет Монаша
1 цитирование, 0.72%
Пхоханский университет науки и технологий
1 цитирование, 0.72%
Университет штата Орегон
1 цитирование, 0.72%
Лос-Аламосская национальная лаборатория
1 цитирование, 0.72%
Кёнсанский национальный университет
1 цитирование, 0.72%
Университет Тохоку
1 цитирование, 0.72%
Цюйцзинский педагогический университет
1 цитирование, 0.72%
Национальный институт передовых промышленных наук и технологий
1 цитирование, 0.72%
Ланьчжоуский технологический университет
1 цитирование, 0.72%
Ганноверский университет имени Готфрида Вильгельма Лейбница
1 цитирование, 0.72%
Университет Макгилла
1 цитирование, 0.72%
Университет Уотерлу
1 цитирование, 0.72%
Миссурийский университет науки и технологий
1 цитирование, 0.72%
Университет Мюнстера
1 цитирование, 0.72%
Технический университет Ильменау
1 цитирование, 0.72%
Венский университет
1 цитирование, 0.72%
Университет Васэда
1 цитирование, 0.72%
Варшавский технологический университет
1 цитирование, 0.72%
Университет Альберты
1 цитирование, 0.72%
5
10
15
20
25

Цитирующие страны

5
10
15
20
25
30
35
40
45
Россия, 45, 32.37%
Россия
45 цитирований, 32.37%
Германия, 29, 20.86%
Германия
29 цитирований, 20.86%
Япония, 22, 15.83%
Япония
22 цитирования, 15.83%
Страна не определена, 19, 13.67%
Страна не определена
19 цитирований, 13.67%
Китай, 17, 12.23%
Китай
17 цитирований, 12.23%
Франция, 16, 11.51%
Франция
16 цитирований, 11.51%
США, 13, 9.35%
США
13 цитирований, 9.35%
Великобритания, 7, 5.04%
Великобритания
7 цитирований, 5.04%
Польша, 6, 4.32%
Польша
6 цитирований, 4.32%
Австрия, 5, 3.6%
Австрия
5 цитирований, 3.6%
Испания, 5, 3.6%
Испания
5 цитирований, 3.6%
Канада, 4, 2.88%
Канада
4 цитирования, 2.88%
Швейцария, 4, 2.88%
Швейцария
4 цитирования, 2.88%
Иран, 3, 2.16%
Иран
3 цитирования, 2.16%
Италия, 3, 2.16%
Италия
3 цитирования, 2.16%
Украина, 2, 1.44%
Украина
2 цитирования, 1.44%
Бельгия, 2, 1.44%
Бельгия
2 цитирования, 1.44%
Израиль, 2, 1.44%
Израиль
2 цитирования, 1.44%
Индия, 2, 1.44%
Индия
2 цитирования, 1.44%
Нидерланды, 2, 1.44%
Нидерланды
2 цитирования, 1.44%
Казахстан, 1, 0.72%
Казахстан
1 цитирование, 0.72%
Австралия, 1, 0.72%
Австралия
1 цитирование, 0.72%
Алжир, 1, 0.72%
Алжир
1 цитирование, 0.72%
Бразилия, 1, 0.72%
Бразилия
1 цитирование, 0.72%
Колумбия, 1, 0.72%
Колумбия
1 цитирование, 0.72%
Норвегия, 1, 0.72%
Норвегия
1 цитирование, 0.72%
Республика Корея, 1, 0.72%
Республика Корея
1 цитирование, 0.72%
Чили, 1, 0.72%
Чили
1 цитирование, 0.72%
СССР, 1, 0.72%
СССР
1 цитирование, 0.72%
5
10
15
20
25
30
35
40
45
  • Мы не учитываем публикации, у которых нет DOI.
  • Статистика пересчитывается раз в сутки.

Направления исследований

Сканирующая и просвечивающая электронная микроскопия

+
Группа располагает двумя просвечивающими электронными микроскопами JEM-2000EX фирмы «JEOL» (Япония), растровыми электронными микроскопами JSM-840А и JXA-6400. Эти микроскопы оснащены рентгеновским дисперсионным и волновым спектрометром для массивных образцов (SERIES II фирмы «Noran») и тонких фольг (INKA ENERGY TEM 200 фирмы Oxfords Instruments), системой анализа кристаллографической структуры массивных поликристаллических образцов методом регистрации обратно отраженных электронов (EBSD) (INKA CRYSTAL 300 фирмы Oxfords Instruments). В лаборатории имеется также оборудование для изготовления образцов как для просвечивающих, так и растровых электронных микроскопов. Это - прибор для электролитического утонения металлических образцов "TENUPOL 5" фирмы "STRUERS", прибор фирмы “GATAN” для утонения методом ионной бомбардировки непроводящих образцов.

Публикации и патенты

Партнёры

Адрес лаборатории

ул. Степана Халтурина, 39, Уфа, Респ. Башкортостан
Необходимо авторизоваться.