Группа Электронно-микроскопических исследований
Публикаций
36
Цитирований
462
Индекс Хирша
11
Необходимо авторизоваться.
Группа Электронно-микроскопических исследований решает задачи аналитической и количественной микроскопии, локального элементного анализа, кристаллографического анализа в микрообластях.
- Просвечивающая микроскопия высокого разрешения
- Сканирующая электронная микроскопия (СЭМ)
- Энергодисперсионная рентгеновская спектроскопия
- Атомно-эмиссионная спектрометрия с индуктивно-связанной плазмой
Растровый электронный микроскоп предназначен для исследований микроструктуры материалов в режиме регистрации вторичных электронов (рельеф) и обратно отраженных электронов (фазовый контраст). Оснащен детектором Inca X-Act (Oxford Instruments, Англия) для энерго-дисперсионного анализа (ЭДА) элементного состава материалов.
Растровый электронный микроскоп высокого разрешения предназначен для исследований микроструктуры материалов в режиме регистрации вторичных электронов (рельеф) и обратно отраженных электронов (фазовый контраст). Оснащен детектором Nordlys (Oxford Instruments, Англия) для EBSD анализа кристаллографических ориентировок структуры материалов.
Микроскоп позволяет проводить исследования атомно-кристаллической и аморфной структуры с высоким разрешением различных объектов (металлических керамических, биологических). Микроскоп оснащен приставкой для нагрева и охлаждения непосредственно в колоне микроскопа (in situ).
Направления исследований
Сканирующая и просвечивающая электронная микроскопия
+
Группа располагает двумя просвечивающими электронными микроскопами JEM-2000EX фирмы «JEOL» (Япония), растровыми электронными микроскопами JSM-840А и JXA-6400. Эти микроскопы оснащены рентгеновским дисперсионным и волновым спектрометром для массивных образцов (SERIES II фирмы «Noran») и тонких фольг (INKA ENERGY TEM 200 фирмы Oxfords Instruments), системой анализа кристаллографической структуры массивных поликристаллических образцов методом регистрации обратно отраженных электронов (EBSD) (INKA CRYSTAL 300 фирмы Oxfords Instruments). В лаборатории имеется также оборудование для изготовления образцов как для просвечивающих, так и растровых электронных микроскопов. Это - прибор для электролитического утонения металлических образцов "TENUPOL 5" фирмы "STRUERS", прибор фирмы “GATAN” для утонения методом ионной бомбардировки непроводящих образцов.
Публикации и патенты
Найдено
Ничего не найдено, попробуйте изменить настройки фильтра.
Партнёры
Адрес лаборатории
ул. Степана Халтурина, 39, Уфа, Респ. Башкортостан
Необходимо авторизоваться.