Thermal Atomic Layer Etching of Silicon Using O2, HF, and Al(CH3)3 as the Reactants
Тип публикации: Journal Article
Дата публикации: 2018-11-05
SCImago Q1
Tоп 10% SCImago
WOS Q1
БС1
SJR: 1.796
CiteScore: 11.9
Impact factor: 7.1
ISSN: 08974756, 15205002
Materials Chemistry
General Chemistry
General Chemical Engineering
Краткое описание
Thermal atomic layer etching (ALE) of silicon was performed using O2, HF, and Al(CH3)3 as the reactants at temperatures from 225 to 290 °C. This thermal etching process is based on Si oxidation usi...
Найдено
Ничего не найдено, попробуйте изменить настройки фильтра.
Для доступа к списку цитирований публикации необходимо авторизоваться.
Топ-30
Журналы
|
2
4
6
8
10
12
14
16
|
|
|
Journal of Vacuum Science and Technology A: Vacuum, Surfaces and Films
16 публикаций, 28.07%
|
|
|
Chemistry of Materials
15 публикаций, 26.32%
|
|
|
Journal of Physical Chemistry C
4 публикации, 7.02%
|
|
|
Applied Physics Letters
2 публикации, 3.51%
|
|
|
Applied Surface Science
2 публикации, 3.51%
|
|
|
Journal of Applied Physics
1 публикация, 1.75%
|
|
|
Nanomaterials
1 публикация, 1.75%
|
|
|
Nanomanufacturing and Metrology
1 публикация, 1.75%
|
|
|
Light: Science and Applications
1 публикация, 1.75%
|
|
|
Chemical Engineering Research and Design
1 публикация, 1.75%
|
|
|
Science advances
1 публикация, 1.75%
|
|
|
Chemical Engineering Journal
1 публикация, 1.75%
|
|
|
Advanced Materials Technologies
1 публикация, 1.75%
|
|
|
Nano Letters
1 публикация, 1.75%
|
|
|
ACS applied materials & interfaces
1 публикация, 1.75%
|
|
|
Accounts of Chemical Research
1 публикация, 1.75%
|
|
|
Journal of Materials Chemistry C
1 публикация, 1.75%
|
|
|
Acta Physica Sinica
1 публикация, 1.75%
|
|
|
Solid State Phenomena
1 публикация, 1.75%
|
|
|
Advanced Materials Interfaces
1 публикация, 1.75%
|
|
|
Journal of Micromechanics and Microengineering
1 публикация, 1.75%
|
|
|
2
4
6
8
10
12
14
16
|
Издатели
|
5
10
15
20
25
|
|
|
American Chemical Society (ACS)
22 публикации, 38.6%
|
|
|
American Vacuum Society
16 публикаций, 28.07%
|
|
|
Elsevier
4 публикации, 7.02%
|
|
|
AIP Publishing
3 публикации, 5.26%
|
|
|
Wiley
3 публикации, 5.26%
|
|
|
Springer Nature
2 публикации, 3.51%
|
|
|
MDPI
1 публикация, 1.75%
|
|
|
American Association for the Advancement of Science (AAAS)
1 публикация, 1.75%
|
|
|
Royal Society of Chemistry (RSC)
1 публикация, 1.75%
|
|
|
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
1 публикация, 1.75%
|
|
|
Acta Physica Sinica, Chinese Physical Society and Institute of Physics, Chinese Academy of Sciences
1 публикация, 1.75%
|
|
|
Trans Tech Publications
1 публикация, 1.75%
|
|
|
IOP Publishing
1 публикация, 1.75%
|
|
|
5
10
15
20
25
|
- Мы не учитываем публикации, у которых нет DOI.
- Статистика публикаций обновляется еженедельно.
Вы ученый?
Создайте профиль, чтобы получать персональные рекомендации коллег, конференций и новых статей.
Войти с ORCID
Метрики
57
Всего цитирований:
57
Цитирований c 2025:
4
(7.02%)
Самый цитирующий журнал
Цитирований в журнале:
16
Цитировать
ГОСТ |
RIS |
BibTex |
MLA
Цитировать
ГОСТ
Скопировать
Abdulagatov A. I., George S. M. Thermal Atomic Layer Etching of Silicon Using O2, HF, and Al(CH3)3 as the Reactants // Chemistry of Materials. 2018. Vol. 30. No. 23. pp. 8465-8475.
ГОСТ со всеми авторами (до 50)
Скопировать
Abdulagatov A. I., George S. M. Thermal Atomic Layer Etching of Silicon Using O2, HF, and Al(CH3)3 as the Reactants // Chemistry of Materials. 2018. Vol. 30. No. 23. pp. 8465-8475.
Цитировать
RIS
Скопировать
TY - JOUR
DO - 10.1021/acs.chemmater.8b02745
UR - https://doi.org/10.1021/acs.chemmater.8b02745
TI - Thermal Atomic Layer Etching of Silicon Using O2, HF, and Al(CH3)3 as the Reactants
T2 - Chemistry of Materials
AU - Abdulagatov, Aziz I.
AU - George, Steven M.
PY - 2018
DA - 2018/11/05
PB - American Chemical Society (ACS)
SP - 8465-8475
IS - 23
VL - 30
SN - 0897-4756
SN - 1520-5002
ER -
Цитировать
BibTex (до 50 авторов)
Скопировать
@article{2018_Abdulagatov,
author = {Aziz I. Abdulagatov and Steven M. George},
title = {Thermal Atomic Layer Etching of Silicon Using O2, HF, and Al(CH3)3 as the Reactants},
journal = {Chemistry of Materials},
year = {2018},
volume = {30},
publisher = {American Chemical Society (ACS)},
month = {nov},
url = {https://doi.org/10.1021/acs.chemmater.8b02745},
number = {23},
pages = {8465--8475},
doi = {10.1021/acs.chemmater.8b02745}
}
Цитировать
MLA
Скопировать
Abdulagatov, Aziz I., and Steven M. George. “Thermal Atomic Layer Etching of Silicon Using O2, HF, and Al(CH3)3 as the Reactants.” Chemistry of Materials, vol. 30, no. 23, Nov. 2018, pp. 8465-8475. https://doi.org/10.1021/acs.chemmater.8b02745.
Ошибка в публикации?