Scanning helium ion microscope: Distribution of secondary electrons and ion channeling
Тип публикации: Journal Article
Дата публикации: 2010-10-13
SCImago Q4
WOS Q4
БС4
SJR: 0.162
CiteScore: 0.8
Impact factor: 0.4
ISSN: 10274510, 18197094
Surfaces, Coatings and Films
Краткое описание
The principles and features of operation of a scanning helium microscope are reviewed briefly. The measurement data on the energy distribution of secondary electrons excited by the ion beam in an Au film and on the angular dependence of the backscattered ion yield are obtained and presented for the first time. The effect of ion channeling in silicon single crystal with the (110) orientation is demonstrated.
Найдено
Ничего не найдено, попробуйте изменить настройки фильтра.
Для доступа к списку цитирований публикации необходимо авторизоваться.
Для доступа к списку профилей, цитирующих публикацию, необходимо авторизоваться.
Топ-30
Журналы
|
1
2
3
|
|
|
Beilstein Journal of Nanotechnology
3 публикации, 10.71%
|
|
|
NanoScience and Technology
2 публикации, 7.14%
|
|
|
Journal of Vacuum Science and Technology B
2 публикации, 7.14%
|
|
|
AIP Conference Proceedings
1 публикация, 3.57%
|
|
|
Nuclear Instruments and Methods in Physics Research, Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms
1 публикация, 3.57%
|
|
|
Optics Letters
1 публикация, 3.57%
|
|
|
Journal of Surface Investigation
1 публикация, 3.57%
|
|
|
Journal of Physical Chemistry C
1 публикация, 3.57%
|
|
|
C – Journal of Carbon Research
1 публикация, 3.57%
|
|
|
AAPPS Bulletin
1 публикация, 3.57%
|
|
|
Applied Physics A: Materials Science and Processing
1 публикация, 3.57%
|
|
|
MRS Communications
1 публикация, 3.57%
|
|
|
Nanotechnology
1 публикация, 3.57%
|
|
|
Micron
1 публикация, 3.57%
|
|
|
Ultramicroscopy
1 публикация, 3.57%
|
|
|
Springer Series in Surface Sciences
1 публикация, 3.57%
|
|
|
IEEE Transactions on Electron Devices
1 публикация, 3.57%
|
|
|
Microscopy and Microanalysis
1 публикация, 3.57%
|
|
|
Springer Handbooks
1 публикация, 3.57%
|
|
|
Advances in Imaging and Electron Physics
1 публикация, 3.57%
|
|
|
Applied Physics Reviews
1 публикация, 3.57%
|
|
|
Crystallography Reports
1 публикация, 3.57%
|
|
|
1
2
3
|
Издатели
|
1
2
3
4
5
6
|
|
|
Springer Nature
6 публикаций, 21.43%
|
|
|
Elsevier
4 публикации, 14.29%
|
|
|
Beilstein-Institut
3 публикации, 10.71%
|
|
|
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
3 публикации, 10.71%
|
|
|
AIP Publishing
2 публикации, 7.14%
|
|
|
Pleiades Publishing
2 публикации, 7.14%
|
|
|
American Vacuum Society
2 публикации, 7.14%
|
|
|
Optica Publishing Group
1 публикация, 3.57%
|
|
|
American Chemical Society (ACS)
1 публикация, 3.57%
|
|
|
MDPI
1 публикация, 3.57%
|
|
|
Cambridge University Press
1 публикация, 3.57%
|
|
|
IOP Publishing
1 публикация, 3.57%
|
|
|
Oxford University Press
1 публикация, 3.57%
|
|
|
1
2
3
4
5
6
|
- Мы не учитываем публикации, у которых нет DOI.
- Статистика публикаций обновляется еженедельно.
Вы ученый?
Создайте профиль, чтобы получать персональные рекомендации коллег, конференций и новых статей.
Войти с ORCID
Метрики
28
Всего цитирований:
28
Цитирований c 2025:
0
Цитировать
ГОСТ |
RIS |
BibTex |
MLA
Цитировать
ГОСТ
Скопировать
PETROV Y. V., Vyvenko O. F., Bondarenko A. Scanning helium ion microscope: Distribution of secondary electrons and ion channeling // Journal of Surface Investigation. 2010. Vol. 4. No. 5. pp. 792-795.
ГОСТ со всеми авторами (до 50)
Скопировать
PETROV Y. V., Vyvenko O. F., Bondarenko A. Scanning helium ion microscope: Distribution of secondary electrons and ion channeling // Journal of Surface Investigation. 2010. Vol. 4. No. 5. pp. 792-795.
Цитировать
RIS
Скопировать
TY - JOUR
DO - 10.1134/S1027451010050186
UR - https://doi.org/10.1134/S1027451010050186
TI - Scanning helium ion microscope: Distribution of secondary electrons and ion channeling
T2 - Journal of Surface Investigation
AU - PETROV, YU. V.
AU - Vyvenko, O F
AU - Bondarenko, A.S
PY - 2010
DA - 2010/10/13
PB - Pleiades Publishing
SP - 792-795
IS - 5
VL - 4
SN - 1027-4510
SN - 1819-7094
ER -
Цитировать
BibTex (до 50 авторов)
Скопировать
@article{2010_PETROV,
author = {YU. V. PETROV and O F Vyvenko and A.S Bondarenko},
title = {Scanning helium ion microscope: Distribution of secondary electrons and ion channeling},
journal = {Journal of Surface Investigation},
year = {2010},
volume = {4},
publisher = {Pleiades Publishing},
month = {oct},
url = {https://doi.org/10.1134/S1027451010050186},
number = {5},
pages = {792--795},
doi = {10.1134/S1027451010050186}
}
Цитировать
MLA
Скопировать
PETROV, YU. V., et al. “Scanning helium ion microscope: Distribution of secondary electrons and ion channeling.” Journal of Surface Investigation, vol. 4, no. 5, Oct. 2010, pp. 792-795. https://doi.org/10.1134/S1027451010050186.
Ошибка в публикации?