Просвечивающий электронный микроскоп JEM-2000EX (JEOL), Япония

Микроскоп позволяет проводить исследования атомно-кристаллической и аморфной структуры с высоким разрешением различных объектов (металлических керамических, биологических). Микроскоп оснащен приставкой для нагрева и охлаждения непосредственно в колоне микроскопа (in situ).

Технические характеристики

1) ускоряющее напряжение до 200 кВ; 2) увеличение до 1 000 000; 3) разрешение по точкам 0,30 нм; 4) разрешение по линиям 0,14 нм; 5) разрешаемые размеры зерен, частиц, элементов дислокационной структуры до 1 нм и менее;