Микроскоп электронный сканирующий SU-8000, Hitachi (ЦКП ИОХ РАН)
Исследование микроструктуры, морфологии и локального состава материалов (в т.ч. наноматериалов)
Технические характеристики
Ускоряющее напряжение 100 В - 30 кВ
Макс. увеличение 800000
Разрешение 1 нм
Разрешение EDX детектора 129 эВ на линии Kα(Mn), скорость счета до 100000 имп/с.
