Микроскоп электронный сканирующий SU-8000, Hitachi (ЦКП ИОХ РАН)

Описание

Исследование микроструктуры, морфологии и локального состава материалов (в т.ч. наноматериалов)

Технические характеристики

Ускоряющее напряжение 100 В - 30 кВ

 

Макс. увеличение 800000

 

Разрешение 1 нм

 

Разрешение EDX детектора 129 эВ на линии Kα(Mn), скорость счета до 100000 имп/с.