Сканирующий электронный микроскоп Quattro S

Микроскоп электронный сканирующий Quattro S предназначен для измерений линейных размеров элементов микро- и нанорельефа поверхности различных твердотельных объектов, в том числе биологических в режиме сверхнизкого вакуума естественной среды.