Рамановская спектроскопия Ntegra Spectra (NT MDT)

NTEGRA Spectra в расширенном варианте «зондовая микроскопия + оптическая микроспектроскопия» позволяет проводить измерения по отдельности методами СЗМ, конфокальной микроскопии, рамановской и фотолюминесцентной микроспектроскопии, а также исследовать один и тот же образец комбинированно и одновременно вышеуказанными методами, со сканированием образцом и/или зондом и/или фокусом лазера, с построением колокализованных карт любых собираемых сигналов, поточечно привязанных друг к другу. Система в расширенной конфигурации позволяет решать следующие экспериментальные задачи, дополнительно к базовому варианту: с нанометровым разрешением проводить измерения топографии и морфологии поверхности образца, а также его электрических, магнитных, механических и других локальных свойств методами атомно-силовой микроскопии; с нанометровым разрешением проводить измерения поверхности образца методами сканирующей туннельной микроскопии; реализовать с нанометровым разрешением измерения различных оптических характеристик поверхности образца методами сканирующей ближнепольной оптической микроскопии, апертурной и безапертурной; реализовать оптические/спектральные измерения с использованием различных эффектов волновой оптики, в частности, в режимах зондово-усиленной рамановской и фотолюминесцентной спектроскопии (TERS/TEPL), поточечно локально и с построением оптических спектральных карт, с пространственным разрешением

Оптическая спектроскопия Спектрометр с 3-мя или 4-мя моторизованными дифракционными решетками на турели Видимый, ближний ультрафиолетовый и ближний инфракрасный спектральные диапазоны Возможна установка различных детекторов: ПЗС-камера — для одномоментной визуализации всего спектра эмиссии ФЭУ или ЛФД в режиме счета фотонов для регистрации слабых сигналов эмиссии ФЭУ для быстрой конфокальной лазерной (рэлеевской) визуализаци Моторизованная поляризационная оптика в каналах возбуждения и регистрации Полностью автоматизированное переключение между лазерными линиями АСМ/СТМ объединение с спектроскопией Конфигурации с прямым и инвертированным оптическим микроскопом Дополнительный боковой канал для возбуждения и регистрации Возможность использовать одновременно с АСМ оптику с максимально возможной числовой апертурой: 0.7 NA для прямого, 1.3-1.4 NA для инвертированного варианта АСМ/СТМ и конфокальные рамановские/флуоресцентные изображения получаются одновременно и строго колокализованы Доступны все стандартные режимы визуализации СЗМ (более 40) в сочетании с конфокальной микроспектроскопией комбинационного рассеяния и фотолюминесценции Минимальные вибрации и тепловые дрейфы благодаря специальной конструкции оптических головок АСМ Образец всегда в фокусе благодаря обратной связи АСМ по Z; можно получать высококачественные конфокальные изображения очень рельефных или наклонных образцов Атомарное разрешение в режиме СТМ Оптимизация для зондово-усиленной микроспектроскопии (TERS, TEPL) Доступны все существующие геометрии засветки и сбора излучения для TERS/TEPL: снизу, сверху и/или сбоку Возможно использовать различные методики зондовой микроскопии и специализированные зонды для максимизации усиления: СТМ зонды, АСМ зонды, кварцевый зонд-вилка в режиме нормальных и сдвиговых сил Независимое сканирование образцом, зондом, пятном лазера для поиска оптимальной точки фокусировки и максимизации зондового усиления Моторизованная поляризационная оптика для подстройки направления вектора электрического поля падающей световой волны вблизи зонда нано-антенны