Лаборатория роста тонких пленок и неорганических наноструктур

JCM-6000Plus, представляет собой многофункциональный настольный сканирующий микроскоп с сенсорной панелью управления, который отвечает разнообразным потребностям пользователей. JCM-6000Plus оснащен высокочувствительными полупроводниковыми детекторами, используемыми в высококлассных приборах, что упрощает получение информации о контрастности состава образца и обеспечивает эффективный анализ.

Профессиональный потенциостат-гальваностат PS-50 является бескомпромиссной разработкой, воплотившей в себе все лучшие возможности SmartStat. Одной из ключевых особенностей является наличие шестиэлектродной схемы подключения. Она может быть использована, например, для одновременной регистрации спектров импеданса катода и анода.

Основные особенности:

Потенциостат-гальваностат PS-50 внесен в Госреестр Средств Измерений, номер сертификата 88875-23

Шестиэлектродная схема подключения (2 AUX входа, синхронных с током и потенциалом) в базовой комплектации

Максимально широкий размах рабочих токов и потенциалов

Высококачественный импеданс 50 кГц с возможностью установки FRA до 1.5 МГц

Аналого-цифровой интерфейс SmartStat с двумя аналоговыми входами и цифровым выходом

Наличие IR-компенсации методом ПОС

Спектрофотометр UV-VIS PB 2201 ColorCheck – это высокоточный спектрофотометр, который применяется для измерения цветности прозрачных жидкостей или твердых тел. Измерение цветности является важной частью производственного процесса, тк является показателем типа и качества сырья и готовой продукции. Спектр применения прибора крайне широк: нефтехимическая промышленность, пищевая промышленность, химическая и фармацевтическая промышленность, легкая промышленность и др.

Автоматизированная установка для измерения термоэлектрических свойств в нанопленках СТН 300.600.3Omega. Установка предназначена для измерения коэффициента термо-ЭДС, электропроводности и коэффициента теплопроводности в нанопленках. Коэффициент теплопроводности в нанопленках измеряется с помощью 3 омега метода.

Регистрация эмиссионных спектров различных элементов и дальнейшего расчета содержаний различных элементов на основе полученных спектральных данных.

Прибор для комплексного исследования физико-механических свойств в диапазоне нагрузок до 100 мН. Нанотвердомер оснащен оптическим микроскопом и моторизованным предметным столиком для позиционирования объекта исследования. Высокая степень автоматизации измерений позволяет существенно повысить производительность исследований.

Установка предназначена для проведения следующих экспериментов:

– исследование поверхностных процессов при молекулярно-лучевой эпитаксии на кристалле CdTe методом масс-спектрометрии in situ. Для измерения кинетических параметров используются модулированные молекулярные пучки Cd и Te2.

– изучение начальных стадий роста плёнки CdTe на сапфире и условия зарождения островков при МЛЭ из пучков Cd и Te2.

– исследования начальных стадий роста плёнки Te на сапфире и условия зарождения островков из пучка Te2.

Используемый измерительный комплекс отличается от типичной технологической установки МЛЭ. В камере роста имеются четыре источника молекулярных пучков, два из которых можно модулировать с частотой до 1 кГц. Потоки десорбции с поверхности кристалла регистрируются встроенным масс-спектрометром, что позволяет непосредственно измерять временные характеристики переходных процессов на поверхности кристалла. Знание этих характеристик даёт возможность определять параметры элементарных процессов взаимодействия молекулярных пучков с поверхностью твердых тел (концентрация адсорбированных частиц, время адсорбции, длина диффузионного пробега по поверхности). Именно эти параметры определяют режим роста плёнки, особенно на начальной стадии. Изучение начальных стадий роста плёнок, т. е. процессов происходящих на поверхности подложки при нанесении исходных компонентов получаемых плёнок, позволяет в дальнейшем управлять процессом роста и получать совершенные монокристаллические плёнки.

Оборудование позволяет получать информацию о поверхностной структуре материала с пространственным разрешением в нанометровом диапазоне (Исследование топографии, фазового распределения, локальной жесткости, измерение силы адгезии в различных областях материала и т.д.). Также предусматривает возможность изучения физических и химических свойств поверхности образца с большой точностью и высоким разрешением.

Предназначен для исследования нанобобъектов со сверхвысоким пространственным разрешением (до 0,1 нм по вертикали и до 1 нм по горизонтали). Solver PRO-M позволяет исследовать профиль поверхности образцов с площадью до 100x100 мкм.