2015 IEEE Radiation Effects Data Workshop (REDW)
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Вы ученый?
Создайте профиль, чтобы получать персональные рекомендации коллег, конференций и новых статей.
Войти с ORCID
Варианты названий
2015 IEEE Radiation Effects Data Workshop (REDW)
Публикаций
1
Цитирований
43
Индекс Хирша
1
Публикаций
0
Цитирований
33
Топ-3 цитирующих журналов
IEEE Transactions on Nuclear Science
(13 цитирований)
IEEE Transactions on Electron Devices
(4 цитирования)
IEEE Transactions on Device and Materials Reliability
(2 цитирования)
Топ-3 организаций
Вандербильтский университет
(1 публикация)
Лаборатория военно-морских исследований США
(1 публикация)
Топ-3 стран
США
(1 публикация)
Наиболее цитируемые за 5 лет
Найдено
Ничего не найдено, попробуйте изменить настройки фильтра.
Найдено
Ничего не найдено, попробуйте изменить настройки фильтра.
Топ-100
Цитирующие журналы
|
2
4
6
8
10
12
14
|
|
|
IEEE Transactions on Nuclear Science
13 цитирований, 30.23%
|
|
|
IEEE Transactions on Electron Devices
4 цитирования, 9.3%
|
|
|
IEEE Transactions on Device and Materials Reliability
2 цитирования, 4.65%
|
|
|
Semiconductor Science and Technology
2 цитирования, 4.65%
|
|
|
Microelectronics Reliability
1 цитирование, 2.33%
|
|
|
IEEE Transactions on Circuits and Systems I: Regular Papers
1 цитирование, 2.33%
|
|
|
Advanced Electronic Materials
1 цитирование, 2.33%
|
|
|
IEEE Electron Device Letters
1 цитирование, 2.33%
|
|
|
IEEE Journal of Solid-State Circuits
1 цитирование, 2.33%
|
|
|
Nature Electronics
1 цитирование, 2.33%
|
|
|
IFIP Advances in Information and Communication Technology
1 цитирование, 2.33%
|
|
|
Russian Microelectronics
1 цитирование, 2.33%
|
|
|
IEEE Access
1 цитирование, 2.33%
|
|
|
Nanoindustry Russia
1 цитирование, 2.33%
|
|
|
Micro and Nanostructures
1 цитирование, 2.33%
|
|
|
Eng—Advances in Engineering
1 цитирование, 2.33%
|
|
|
Электронная техника. Серия 3. Микроэлектроника
1 цитирование, 2.33%
|
|
|
2
4
6
8
10
12
14
|
Цитирующие издатели
|
5
10
15
20
25
30
|
|
|
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
30 цитирований, 69.77%
|
|
|
Springer Nature
2 цитирования, 4.65%
|
|
|
Elsevier
2 цитирования, 4.65%
|
|
|
IOP Publishing
2 цитирования, 4.65%
|
|
|
Wiley
1 цитирование, 2.33%
|
|
|
Pleiades Publishing
1 цитирование, 2.33%
|
|
|
MDPI
1 цитирование, 2.33%
|
|
|
Technosphera JSC
1 цитирование, 2.33%
|
|
|
Akademizdatcenter Nauka
1 цитирование, 2.33%
|
|
|
5
10
15
20
25
30
|
Публикующиеся организации
|
1
|
|
|
Вандербильтский университет
1 публикация, 100%
|
|
|
Лаборатория военно-морских исследований США
1 публикация, 100%
|
|
|
1
|
Публикующиеся страны
|
1
|
|
|
США
|
США, 1, 100%
США
1 публикация, 100%
|
|
1
|