IEEE Transactions on Device and Materials Reliability
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
ISSN:
15304388, 15582574
Вы ученый?
Создайте профиль, чтобы получать персональные рекомендации коллег, конференций и новых статей.
SCImago
Q2
WOS
Q3
БС
БС2
Impact factor
2.3
SJR
0.533
CiteScore
4.9
Предметные категории
Electrical and Electronic Engineering
Safety, Risk, Reliability and Quality
Electronic, Optical and Magnetic Materials
Предметные области
Engineering
Materials Science
Годы выпуска
2001-2026
Варианты названий
IEEE Transactions on Device and Materials Reliability
IEEE T DEVICE MAT RE
Публикаций
2 540
Цитирований
39 522
Индекс Хирша
81
Публикаций
575
Цитирований
14 986
Топ-3 цитирующих журналов
Microelectronics Reliability
(2103 цитирования)
IEEE Transactions on Electron Devices
(1904 цитирования)
IEEE Transactions on Device and Materials Reliability
(1783 цитирования)
Топ-3 организаций
Национальный университет Ян Мин Цзяотун
(79 публикаций)
Международный микроэлектронный научно-исследовательский центр
(63 публикации)
Мэрилендский университет, Колледж-Парк
(56 публикаций)
Международный микроэлектронный научно-исследовательский центр
(15 публикаций)
Национальный университет Ян Мин Цзяотун
(12 публикаций)
Харбинский политехнический университет
(12 публикаций)
Топ-3 учёных по количеству статей
1 публикация в журнале
Пандей Рахул
🥼 🤝
256 публикаций,
7 457 цитирований,
71 рецензия
Индекс Хирша 47
Университета Читкара
1 публикация в журнале
Компа Гюнтер
89 публикаций,
1 273 цитирования
Индекс Хирша 14
Университет Касселя
Наиболее цитируемые за 5 лет
Найдено
Ничего не найдено, попробуйте изменить настройки фильтра.
Найдено
Ничего не найдено, попробуйте изменить настройки фильтра.
Топ-100
Цитирующие журналы
Цитирующие издатели
Публикующиеся организации
Публикующиеся организации за 5 лет
Публикующиеся страны
Публикующиеся страны за 5 лет
1 публикация в журнале
Компа Гюнтер
89 публикаций,
1 273 цитирования
Индекс Хирша 14
Университет Касселя
По данным ORCID