IEEE Transactions on Device and Materials Reliability
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
ISSN:
15304388, 15582574
Вы ученый?
Создайте профиль, чтобы получать персональные рекомендации коллег, конференций и новых статей.
Войти с ORCID
SCImago
Q2
WOS
Q3
БС
БС2
Impact factor
2.7
SJR
0.451
CiteScore
4.6
Предметные категории
Electrical and Electronic Engineering
Safety, Risk, Reliability and Quality
Electronic, Optical and Magnetic Materials
Предметные области
Engineering
Materials Science
Годы выпуска
2001-2026
Варианты названий
IEEE Transactions on Device and Materials Reliability
Публикаций
2 601
Цитирований
40 947
Индекс Хирша
82
Публикаций
636
Цитирований
16 436
Топ-3 цитирующих журналов
Microelectronics Reliability
(2151 цитирование)
IEEE Transactions on Electron Devices
(1969 цитирований)
IEEE Transactions on Device and Materials Reliability
(1851 цитирование)
Топ-3 организаций
Национальный университет Ян Мин Цзяотун
(79 публикаций)
Международный микроэлектронный научно-исследовательский центр
(64 публикации)
Мэрилендский университет, Колледж-Парк
(56 публикаций)
Харбинский политехнический университет
(15 публикаций)
Университет электронных наук и технологий Китая
(14 публикаций)
Индийский институт технологии в Дели
(13 публикаций)
Топ-3 учёных по количеству статей
1 публикация в журнале
Пандей Рахул
🥼 🤝
261 публикация,
8 314 цитирований,
72 рецензии
Индекс Хирша 48
Университета Читкара
1 публикация в журнале
Компа Гюнтер
89 публикаций,
1 285 цитирований
Индекс Хирша 14
Университет Касселя
Наиболее цитируемые за 5 лет
Найдено
Ничего не найдено, попробуйте изменить настройки фильтра.
Найдено
Ничего не найдено, попробуйте изменить настройки фильтра.
Топ-100
Цитирующие журналы
Цитирующие издатели
Публикующиеся организации
Публикующиеся организации за 5 лет
Публикующиеся страны
Публикующиеся страны за 5 лет
1 публикация в журнале
Компа Гюнтер
89 публикаций,
1 285 цитирований
Индекс Хирша 14
Университет Касселя
По данным ORCID