Лаборатория ультрамягкой рентгеновской эмиссионной спектроскопии
Публикаций
34
Цитирований
83
Индекс Хирша
5
Необходимо авторизоваться.
Лаборатория специализируется на изучении электронного строения твердого тела методом ультрамягкой рентгеновской эмиссионной спектроскопии. Основным прибором лаборатории является УНУ "Уникальный автоматизированный лабораторный измерительный комплекс РСМ-500". УНУ РСМ-500 используется для неразрушающих исследований электронно-энергетического спектра валентной зоны (распределения локальной парциальной плотности состояний), полуколичественного анализа фазового состава, исследований специфики локального окружения атомов алюминия, кремния и фосфора - одних из основных в современных микро- нано- и оптоэлектронике.
- Ультрамягкая рентгеновская эмиссионная спектроскопия
Всего публикаций
6
Всего цитирований
13
Цитирований на публикацию
2.17
Среднее число публикаций в год
1
Годы публикаций
2018-2023 (6 лет)
h-index
2
i10-index
0
m-index
0.33
o-index
3
g-index
3
w-index
0
Описание метрик
h-index
Учёный имеет индекс h, если h из его N статей цитируются как минимум h раз каждая, в то время как оставшиеся (N - h) статей цитируются не более чем h раз каждая.
i10-index
Число статей автора, получивших не менее 10 ссылок каждая.
m-index
m-индекс ученого численно равен отношению его h-индекса к количеству лет, прошедших с момента первой публикации.
o-index
Среднее геометрическое h-индекса и числа цитирований наиболее цитируемой статьи ученого.
g-index
Для данного множества статей, отсортированного в порядке убывания количества цитирований, которые получили эти статьи, g-индекс это наибольшее число, такое что g самых цитируемых статей получили (суммарно) не менее g2 цитирований.
w-index
Если w статей ученого имеют не менее 10w цитирований каждая и другие статьи меньше, чем 10(w+1) цитирований, то w-индекс исследователя равен w.
Топ-100
Области наук
|
1
2
|
|
|
Materials Chemistry
|
Materials Chemistry, 2, 33.33%
Materials Chemistry
2 публикации, 33.33%
|
|
Electronic, Optical and Magnetic Materials
|
Electronic, Optical and Magnetic Materials, 2, 33.33%
Electronic, Optical and Magnetic Materials
2 публикации, 33.33%
|
|
Condensed Matter Physics
|
Condensed Matter Physics, 2, 33.33%
Condensed Matter Physics
2 публикации, 33.33%
|
|
Surfaces and Interfaces
|
Surfaces and Interfaces, 2, 33.33%
Surfaces and Interfaces
2 публикации, 33.33%
|
|
Metals and Alloys
|
Metals and Alloys, 1, 16.67%
Metals and Alloys
1 публикация, 16.67%
|
|
Surfaces, Coatings and Films
|
Surfaces, Coatings and Films, 1, 16.67%
Surfaces, Coatings and Films
1 публикация, 16.67%
|
|
Ceramics and Composites
|
Ceramics and Composites, 1, 16.67%
Ceramics and Composites
1 публикация, 16.67%
|
|
Chemistry (miscellaneous)
|
Chemistry (miscellaneous), 1, 16.67%
Chemistry (miscellaneous)
1 публикация, 16.67%
|
|
General Materials Science
|
General Materials Science, 1, 16.67%
General Materials Science
1 публикация, 16.67%
|
|
Physics and Astronomy (miscellaneous)
|
Physics and Astronomy (miscellaneous), 1, 16.67%
Physics and Astronomy (miscellaneous)
1 публикация, 16.67%
|
|
General Mathematics
|
General Mathematics, 1, 16.67%
General Mathematics
1 публикация, 16.67%
|
|
Computer Science (miscellaneous)
|
Computer Science (miscellaneous), 1, 16.67%
Computer Science (miscellaneous)
1 публикация, 16.67%
|
|
Mechanical Engineering
|
Mechanical Engineering, 1, 16.67%
Mechanical Engineering
1 публикация, 16.67%
|
|
Mechanics of Materials
|
Mechanics of Materials, 1, 16.67%
Mechanics of Materials
1 публикация, 16.67%
|
|
1
2
|
Журналы
|
1
|
|
|
Materials Science in Semiconductor Processing
1 публикация, 16.67%
|
|
|
Thin Solid Films
1 публикация, 16.67%
|
|
|
Journal of Non-Crystalline Solids
1 публикация, 16.67%
|
|
|
Symmetry
1 публикация, 16.67%
|
|
|
Физика твердого тела
1 публикация, 16.67%
|
|
|
Неорганические материалы
1 публикация, 16.67%
|
|
|
1
|
Цитирующие журналы
|
1
2
|
|
|
Журнал не определён
|
Журнал не определён, 2, 15.38%
Журнал не определён
2 цитирования, 15.38%
|
|
Journal of Surface Investigation
1 цитирование, 7.69%
|
|
|
X-Ray Spectrometry
1 цитирование, 7.69%
|
|
|
Microelectronics Journal
1 цитирование, 7.69%
|
|
|
Applied Physics Letters
1 цитирование, 7.69%
|
|
|
Optical Materials
1 цитирование, 7.69%
|
|
|
Journal of Materials Chemistry A
1 цитирование, 7.69%
|
|
|
Thin Solid Films
1 цитирование, 7.69%
|
|
|
Physica Scripta
1 цитирование, 7.69%
|
|
|
Surface and Interface Analysis
1 цитирование, 7.69%
|
|
|
Symmetry
1 цитирование, 7.69%
|
|
|
AEJ - Alexandria Engineering Journal
1 цитирование, 7.69%
|
|
|
1
2
|
Цитируемые журналы
Издатели
|
1
2
3
|
|
|
Elsevier
3 публикации, 50%
|
|
|
Pleiades Publishing
1 публикация, 16.67%
|
|
|
MDPI
1 публикация, 16.67%
|
|
|
Ioffe Institute Russian Academy of Sciences
1 публикация, 16.67%
|
|
|
1
2
3
|
Организации из публикаций
|
1
2
3
4
5
|
|
|
Воронежский государственный университет
5 публикаций, 83.33%
|
|
|
Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН
2 публикации, 33.33%
|
|
|
Организация не определена
|
Организация не определена, 1, 16.67%
Организация не определена
1 публикация, 16.67%
|
|
Уральский федеральный университет имени первого Президента России Б.Н. Ельцина
1 публикация, 16.67%
|
|
|
Московский энергетический институт
1 публикация, 16.67%
|
|
|
Воронежский государственный технический университет
1 публикация, 16.67%
|
|
|
1
2
3
4
5
|
Страны из публикаций
|
1
2
3
4
5
|
|
|
Россия
|
Россия, 5, 83.33%
Россия
5 публикаций, 83.33%
|
|
Страна не определена
|
Страна не определена, 1, 16.67%
Страна не определена
1 публикация, 16.67%
|
|
1
2
3
4
5
|
Цитирующие организации
|
1
2
3
4
5
|
|
|
Организация не определена
|
Организация не определена, 5, 38.46%
Организация не определена
5 цитирований, 38.46%
|
|
Воронежский государственный университет
3 цитирования, 23.08%
|
|
|
Сидяньский университет
3 цитирования, 23.08%
|
|
|
Московский государственный технический университет им. Н. Э. Баумана
1 цитирование, 7.69%
|
|
|
Санкт-Петербургский государственный университет
1 цитирование, 7.69%
|
|
|
Воронежский государственный технический университет
1 цитирование, 7.69%
|
|
|
Национальный исследовательский университет «Московский институт электронной техники»
1 цитирование, 7.69%
|
|
|
Удмуртский Федеральный Исследовательский центр УрО РАН
1 цитирование, 7.69%
|
|
|
Индийский технологический институт в Мадрасе
1 цитирование, 7.69%
|
|
|
Университет Тунцзи
1 цитирование, 7.69%
|
|
|
Университет Сорбонна
1 цитирование, 7.69%
|
|
|
Институт материаловедческих мастерских
1 цитирование, 7.69%
|
|
|
Кёльнский университет
1 цитирование, 7.69%
|
|
|
1
2
3
4
5
|
Цитирующие страны
|
1
2
3
4
5
|
|
|
Страна не определена
|
Страна не определена, 5, 38.46%
Страна не определена
5 цитирований, 38.46%
|
|
Китай
|
Китай, 4, 30.77%
Китай
4 цитирования, 30.77%
|
|
Россия
|
Россия, 3, 23.08%
Россия
3 цитирования, 23.08%
|
|
Германия
|
Германия, 1, 7.69%
Германия
1 цитирование, 7.69%
|
|
Франция
|
Франция, 1, 7.69%
Франция
1 цитирование, 7.69%
|
|
США
|
США, 1, 7.69%
США
1 цитирование, 7.69%
|
|
Вьетнам
|
Вьетнам, 1, 7.69%
Вьетнам
1 цитирование, 7.69%
|
|
Индия
|
Индия, 1, 7.69%
Индия
1 цитирование, 7.69%
|
|
Италия
|
Италия, 1, 7.69%
Италия
1 цитирование, 7.69%
|
|
1
2
3
4
5
|
- Мы не учитываем публикации, у которых нет DOI.
- Статистика пересчитывается раз в сутки.
Направления исследований
Метастабильные фазы в нанокомпозитах на основе металл-кремний
+
На данный момент наша лаборатория ведет активную работу по исследованию электронного строения метастабильных фаз типа Me3Si, формирующихся в ионно-лучевых и магнетронных пленках.
Анализ электронного строения высокоомных пленок SiOx
+
В настоящее время лаборатория проводит анализ электронного строения кремний-кислородных тетраэдров, формирующихся в пленках SiOx.
Публикации и патенты
Найдено
Ничего не найдено, попробуйте изменить настройки фильтра.
Владимир Андреевич Терехов, Константин Александрович Барков, Эвелина Павловна Домашевская
RU2709687C1,
2019
Адрес лаборатории
Университетская пл., 1, Воронеж, Воронежская обл.
Необходимо авторизоваться.