Необходимо авторизоваться.

Диагностическая лаборатория, располагает ускорителем заряженных частиц до 2 МэВ и рентгеновским дифрактометром. В нашей лаборатории разработан Волновод-резонатор, позволяющий формировать наноразмерные пучки рентгеновского и электронного излучения.

  1. РФА ПВО
  2. PIXE
  3. РОР
  4. Метод ядер отдачи
  5. Каналирование
  6. Ионолюминисценция
Всего публикаций
55
Всего цитирований
190
Цитирований на публикацию
3.45
Среднее число публикаций в год
0.98
Годы публикаций
1969-2024 (56 лет)
h-index
8
i10-index
6
m-index
0.14
o-index
14
g-index
12
w-index
2
Описание метрик
h-index
Учёный имеет индекс h, если h из его N статей цитируются как минимум h раз каждая, в то время как оставшиеся (N - h) статей цитируются не более чем h раз каждая.
i10-index
Число статей автора, получивших не менее 10 ссылок каждая.
m-index
m-индекс ученого численно равен отношению его h-индекса к количеству лет, прошедших с момента первой публикации.
o-index
Среднее геометрическое h-индекса и числа цитирований наиболее цитируемой статьи ученого.
g-index
Для данного множества статей, отсортированного в порядке убывания количества цитирований, которые получили эти статьи, g-индекс это наибольшее число, такое что g самых цитируемых статей получили (суммарно) не менее g2 цитирований.
w-index
Если w статей ученого имеют не менее 10w цитирований каждая и другие статьи меньше, чем 10(w+1) цитирований, то w-индекс исследователя равен w.

Топ-100

Области наук

2
4
6
8
10
12
Surfaces, Coatings and Films, 11, 20%
Surfaces, Coatings and Films
11 публикаций, 20%
General Physics and Astronomy, 11, 20%
General Physics and Astronomy
11 публикаций, 20%
Materials Chemistry, 9, 16.36%
Materials Chemistry
9 публикаций, 16.36%
Condensed Matter Physics, 9, 16.36%
Condensed Matter Physics
9 публикаций, 16.36%
General Medicine, 8, 14.55%
General Medicine
8 публикаций, 14.55%
Electronic, Optical and Magnetic Materials, 7, 12.73%
Electronic, Optical and Magnetic Materials
7 публикаций, 12.73%
Instrumentation, 7, 12.73%
Instrumentation
7 публикаций, 12.73%
General Materials Science, 4, 7.27%
General Materials Science
4 публикации, 7.27%
Electrical and Electronic Engineering, 4, 7.27%
Electrical and Electronic Engineering
4 публикации, 7.27%
Surfaces and Interfaces, 4, 7.27%
Surfaces and Interfaces
4 публикации, 7.27%
Metals and Alloys, 3, 5.45%
Metals and Alloys
3 публикации, 5.45%
Spectroscopy, 3, 5.45%
Spectroscopy
3 публикации, 5.45%
Mechanics of Materials, 3, 5.45%
Mechanics of Materials
3 публикации, 5.45%
Nuclear and High Energy Physics, 3, 5.45%
Nuclear and High Energy Physics
3 публикации, 5.45%
Ceramics and Composites, 2, 3.64%
Ceramics and Composites
2 публикации, 3.64%
Atomic and Molecular Physics, and Optics, 2, 3.64%
Atomic and Molecular Physics, and Optics
2 публикации, 3.64%
Bioengineering, 2, 3.64%
Bioengineering
2 публикации, 3.64%
General Chemistry, 1, 1.82%
General Chemistry
1 публикация, 1.82%
Analytical Chemistry, 1, 1.82%
Analytical Chemistry
1 публикация, 1.82%
Mechanical Engineering, 1, 1.82%
Mechanical Engineering
1 публикация, 1.82%
Geochemistry and Petrology, 1, 1.82%
Geochemistry and Petrology
1 публикация, 1.82%
Radiation, 1, 1.82%
Radiation
1 публикация, 1.82%
Applied Mathematics, 1, 1.82%
Applied Mathematics
1 публикация, 1.82%
2
4
6
8
10
12

Журналы

1
2
3
4
5
6
7
8
Journal of Physics: Conference Series
8 публикаций, 14.55%
Journal of Surface Investigation
7 публикаций, 12.73%
MRS Proceedings
6 публикаций, 10.91%
Nuclear Instruments and Methods in Physics Research, Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms
3 публикации, 5.45%
Thin Solid Films
3 публикации, 5.45%
Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering
3 публикации, 5.45%
Glass and Ceramics (English translation of Steklo i Keramika)
2 публикации, 3.64%
X-Ray Spectrometry
2 публикации, 3.64%
International Journal of Nanotechnology
2 публикации, 3.64%
Instruments and Experimental Techniques
2 публикации, 3.64%
Russian Microelectronics
2 публикации, 3.64%
Measurement Techniques
1 публикация, 1.82%
Materials Letters
1 публикация, 1.82%
Defect and Diffusion Forum
1 публикация, 1.82%
Physics and Chemistry of Minerals
1 публикация, 1.82%
Spectrochimica Acta, Part B: Atomic Spectroscopy
1 публикация, 1.82%
IOP Conference Series: Materials Science and Engineering
1 публикация, 1.82%
Physics of the Solid State
1 публикация, 1.82%
Journal of Applied Physics
1 публикация, 1.82%
Applied Surface Science
1 публикация, 1.82%
Journal of Nano Research
1 публикация, 1.82%
Optics and Spectroscopy (English translation of Optika i Spektroskopiya)
1 публикация, 1.82%
Bulletin of the Russian Academy of Sciences: Physics
1 публикация, 1.82%
Nanostructured Materials
1 публикация, 1.82%
Proceedings of the International Conference on Ion Implantation Technology
1 публикация, 1.82%
21st Century Nanoscience - A Handbook: Advanced Analytic Methods and Instrumentation (Volume Three)
1 публикация, 1.82%
1
2
3
4
5
6
7
8

Цитирующие журналы

5
10
15
20
25
Журнал не определён, 23, 11.73%
Журнал не определён
23 цитирования, 11.73%
Journal of Surface Investigation
14 цитирований, 7.14%
Russian Microelectronics
12 цитирований, 6.12%
X-Ray Spectrometry
11 цитирований, 5.61%
Journal of Physics: Conference Series
9 цитирований, 4.59%
Applied Surface Science
8 цитирований, 4.08%
Acta Materialia
6 цитирований, 3.06%
Nuclear Instruments and Methods in Physics Research, Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms
5 цитирований, 2.55%
Defect and Diffusion Forum
5 цитирований, 2.55%
Thin Solid Films
5 цитирований, 2.55%
Spectrochimica Acta, Part B: Atomic Spectroscopy
4 цитирования, 2.04%
Inorganic Materials
4 цитирования, 2.04%
Analytical Chemistry
4 цитирования, 2.04%
Journal of Analytical Chemistry
4 цитирования, 2.04%
Physical Review B
4 цитирования, 2.04%
Optics Communications
3 цитирования, 1.53%
MRS Proceedings
3 цитирования, 1.53%
Analytical Sciences
2 цитирования, 1.02%
IOP Conference Series: Materials Science and Engineering
2 цитирования, 1.02%
Journal of Applied Physics
2 цитирования, 1.02%
Instruments and Experimental Techniques
2 цитирования, 1.02%
Scripta Materialia
2 цитирования, 1.02%
Journal Physics D: Applied Physics
2 цитирования, 1.02%
Optics and Spectroscopy (English translation of Optika i Spektroskopiya)
2 цитирования, 1.02%
Journal of Analytical Atomic Spectrometry
2 цитирования, 1.02%
Powder Diffraction
2 цитирования, 1.02%
Nanostructured Materials
2 цитирования, 1.02%
Uspekhi Fizicheskih Nauk
2 цитирования, 1.02%
Measurement Techniques
1 цитирование, 0.51%
Materials Letters
1 цитирование, 0.51%
Journal of Materials Research
1 цитирование, 0.51%
IEEE Journal of the Electron Devices Society
1 цитирование, 0.51%
Computational Materials Science
1 цитирование, 0.51%
Journal of Phase Equilibria and Diffusion
1 цитирование, 0.51%
Materials Transactions
1 цитирование, 0.51%
Journal of Alloys and Compounds
1 цитирование, 0.51%
Applied Physics Letters
1 цитирование, 0.51%
Journal of the American Chemical Society
1 цитирование, 0.51%
Journal of Vacuum Science and Technology A: Vacuum, Surfaces and Films
1 цитирование, 0.51%
Physics and Chemistry of Minerals
1 цитирование, 0.51%
Applied Optics
1 цитирование, 0.51%
Metallofizika i Noveishie Tekhnologii
1 цитирование, 0.51%
Physical Review Materials
1 цитирование, 0.51%
Materials Science in Semiconductor Processing
1 цитирование, 0.51%
Optics Express
1 цитирование, 0.51%
e-Journal of Surface Science and Nanotechnology
1 цитирование, 0.51%
Physics-Uspekhi
1 цитирование, 0.51%
Meteoritics and Planetary Science
1 цитирование, 0.51%
Russian Chemical Bulletin
1 цитирование, 0.51%
Vacuum
1 цитирование, 0.51%
Journal of Applied Crystallography
1 цитирование, 0.51%
Physics of the Solid State
1 цитирование, 0.51%
Photonics
1 цитирование, 0.51%
Frontiers of Nanoscience
1 цитирование, 0.51%
Journal of Geophysical Research
1 цитирование, 0.51%
Russian Journal of General Chemistry
1 цитирование, 0.51%
Scientific Reports
1 цитирование, 0.51%
Applied Physics A: Materials Science and Processing
1 цитирование, 0.51%
Ceramics International
1 цитирование, 0.51%
Protection of Metals and Physical Chemistry of Surfaces
1 цитирование, 0.51%
Uspehi Fiziki Metallov
1 цитирование, 0.51%
Electronic Materials Letters
1 цитирование, 0.51%
Technical Physics
1 цитирование, 0.51%
Microelectronic Engineering
1 цитирование, 0.51%
Progress in Organic Coatings
1 цитирование, 0.51%
Physica B: Condensed Matter
1 цитирование, 0.51%
IEEE Transactions on Nuclear Science
1 цитирование, 0.51%
Journal of Fluorescence
1 цитирование, 0.51%
Semiconductor Science and Technology
1 цитирование, 0.51%
Fuel
1 цитирование, 0.51%
Materials Science & Engineering A: Structural Materials: Properties, Microstructure and Processing
1 цитирование, 0.51%
Journal of Thermal Analysis and Calorimetry
1 цитирование, 0.51%
Lithos
1 цитирование, 0.51%
Technical Physics Letters
1 цитирование, 0.51%
phys stat sol (a)
1 цитирование, 0.51%
Zeitschrift für Metallkunde
1 цитирование, 0.51%
Journal of Metastable and Nanocrystalline Materials
1 цитирование, 0.51%
ACS Applied Engineering Materials
1 цитирование, 0.51%
5
10
15
20
25

Издатели

2
4
6
8
10
12
14
Pleiades Publishing
14 публикаций, 25.45%
Springer Nature
10 публикаций, 18.18%
Elsevier
10 публикаций, 18.18%
IOP Publishing
9 публикаций, 16.36%
SPIE-Intl Soc Optical Eng
3 публикации, 5.45%
Wiley
2 публикации, 3.64%
Trans Tech Publications
2 публикации, 3.64%
Inderscience Publishers
2 публикации, 3.64%
Taylor & Francis
1 публикация, 1.82%
AIP Publishing
1 публикация, 1.82%
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
1 публикация, 1.82%
2
4
6
8
10
12
14

Организации из публикаций

5
10
15
20
25
30
35
Институт проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов РАН
34 публикации, 61.82%
Организация не определена, 15, 27.27%
Организация не определена
15 публикаций, 27.27%
Институт радиотехники и электроники имени В.А. Котельникова РАН
10 публикаций, 18.18%
Финансовый университет при Правительстве РФ
9 публикаций, 16.36%
Национальный исследовательский технологический университет «МИСиС»
8 публикаций, 14.55%
Национальный исследовательский ядерный университет «МИФИ»
6 публикаций, 10.91%
Институт физики твердого тела РАН
4 публикации, 7.27%
Московский государственный университет имени М.В. Ломоносова
1 публикация, 1.82%
Институт проблем машиноведения РАН
1 публикация, 1.82%
Физико-технологический институт имени К.А. Валиева
1 публикация, 1.82%
Университет ИТМО
1 публикация, 1.82%
Санкт-Петербургский Политехнический Университет Петра Великого
1 публикация, 1.82%
Российский Университет Дружбы Народов
1 публикация, 1.82%
Институт экспериментальной минералогии им. Д.С. Коржинского РАН
1 публикация, 1.82%
Санкт-Петербургский национальный исследовательский Академический университет имени Ж. И. Алфёрова РАН
1 публикация, 1.82%
МИРЭА — Российский технологический университет
1 публикация, 1.82%
Белорусский государственный университет
1 публикация, 1.82%
Азербайджанский государственный педагогический университет
1 публикация, 1.82%
5
10
15
20
25
30
35

Страны из публикаций

5
10
15
20
25
30
35
40
45
50
Россия, 46, 83.64%
Россия
46 публикаций, 83.64%
Страна не определена, 8, 14.55%
Страна не определена
8 публикаций, 14.55%
СССР, 4, 7.27%
СССР
4 публикации, 7.27%
Украина, 2, 3.64%
Украина
2 публикации, 3.64%
Беларусь, 1, 1.82%
Беларусь
1 публикация, 1.82%
Азербайджан, 1, 1.82%
Азербайджан
1 публикация, 1.82%
5
10
15
20
25
30
35
40
45
50

Цитирующие организации

5
10
15
20
25
30
35
40
Организация не определена, 38, 20%
Организация не определена
38 цитирований, 20%
Институт проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов РАН
24 цитирования, 12.63%
Институт радиотехники и электроники имени В.А. Котельникова РАН
9 цитирований, 4.74%
Университет Мюнстера
9 цитирований, 4.74%
Финансовый университет при Правительстве РФ
7 цитирований, 3.68%
Киотский университет
7 цитирований, 3.68%
Национальный исследовательский технологический университет «МИСиС»
6 цитирований, 3.16%
Национальный исследовательский ядерный университет «МИФИ»
4 цитирования, 2.11%
Гёттингенский университет имени Георга Августа
4 цитирования, 2.11%
Московский государственный университет имени М.В. Ломоносова
3 цитирования, 1.58%
Федеральный исследовательский центр проблем химической физики и медицинской химии РАН
3 цитирования, 1.58%
Университет Тунцзи
3 цитирования, 1.58%
Университет Ханьян
3 цитирования, 1.58%
Университет Тохоку
3 цитирования, 1.58%
Столичный университет Осаки
3 цитирования, 1.58%
Институт проблем машиноведения РАН
2 цитирования, 1.05%
Технологический университет имени Шарифа
2 цитирования, 1.05%
Технион - израильский технологический институт
2 цитирования, 1.05%
Массачусетский технологический институт
2 цитирования, 1.05%
Институт фотоники и нанотехнологий
2 цитирования, 1.05%
Брукхейвенская национальная лаборатория
2 цитирования, 1.05%
Университет Инха
2 цитирования, 1.05%
Йенский университет имени Фридриха Шиллера
2 цитирования, 1.05%
Осакский университет
2 цитирования, 1.05%
Японское агентство науки и технологий
2 цитирования, 1.05%
Японское агентство по атомной энергии
2 цитирования, 1.05%
Университет Бингемтона
2 цитирования, 1.05%
Университет Питтсбурга
2 цитирования, 1.05%
Московский физико-технический институт
1 цитирование, 0.53%
Университет ИТМО
1 цитирование, 0.53%
Нижегородский государственный университет им. Н.И. Лобачевского
1 цитирование, 0.53%
Российский Университет Дружбы Народов
1 цитирование, 0.53%
Институт экспериментальной минералогии им. Д.С. Коржинского РАН
1 цитирование, 0.53%
Южный федеральный университет
1 цитирование, 0.53%
МИРЭА — Российский технологический университет
1 цитирование, 0.53%
Санкт-Петербургский государственный университет
1 цитирование, 0.53%
Самарский государственный технический университет
1 цитирование, 0.53%
Волгоградский государственный университет
1 цитирование, 0.53%
Белорусский государственный университет
1 цитирование, 0.53%
Институт аналитического приборостроения РАН
1 цитирование, 0.53%
Научно-практический центр Национальной академии наук Беларуси по материаловедению
1 цитирование, 0.53%
Университет Тегерана
1 цитирование, 0.53%
Индийский технологический институт в Мадрасе
1 цитирование, 0.53%
Азербайджанский университет имени Шахида Мадани
1 цитирование, 0.53%
Университет Манипура
1 цитирование, 0.53%
Чжэцзянский университет
1 цитирование, 0.53%
Южно-китайский технологический университет
1 цитирование, 0.53%
Университет Экс-Марсель
1 цитирование, 0.53%
Уппсальский университет
1 цитирование, 0.53%
Гейдельбергский университет имени Рупрехта и Карла
1 цитирование, 0.53%
Байройтский университет
1 цитирование, 0.53%
Центральный южный университет
1 цитирование, 0.53%
Швейцарская высшая техническая школа Цюриха
1 цитирование, 0.53%
Римский Университет Ла Сапиенца
1 цитирование, 0.53%
Институт Пауля Шеррера
1 цитирование, 0.53%
Шведский музей естественной истории
1 цитирование, 0.53%
Университет имени Сунь Ятсена
1 цитирование, 0.53%
Консорциум научных исследований UGC-DAE
1 цитирование, 0.53%
Наньянский технологический университет
1 цитирование, 0.53%
Антверпенский университет
1 цитирование, 0.53%
Университет Карнеги — Меллона
1 цитирование, 0.53%
Национальный университет Ян Мин Цзяотун
1 цитирование, 0.53%
Федеральный университет Рио-де-Жанейро
1 цитирование, 0.53%
Университет имени Альдо Моро в Бари
1 цитирование, 0.53%
Трентский университет
1 цитирование, 0.53%
Институт кристаллографии
1 цитирование, 0.53%
Шанхайский институт керамики Китайской академии наук
1 цитирование, 0.53%
Элеттра Синхротрон Триест
1 цитирование, 0.53%
Университет Монаша
1 цитирование, 0.53%
Государственное объединение научных и прикладных исследований
1 цитирование, 0.53%
Университет Нельсона Манделы
1 цитирование, 0.53%
Американский университет
1 цитирование, 0.53%
Университет Чунан
1 цитирование, 0.53%
Гонконгский университет науки и технологий
1 цитирование, 0.53%
Ливерморская национальная лаборатория
1 цитирование, 0.53%
Венский технический университет
1 цитирование, 0.53%
Университет Де Ла Саль
1 цитирование, 0.53%
Дебреценский университет
1 цитирование, 0.53%
Ок-Риджская национальная лаборатория
1 цитирование, 0.53%
Университет Центральной Флориды
1 цитирование, 0.53%
Вандербильтский университет
1 цитирование, 0.53%
Афинский национальный университет имени Каподистрии
1 цитирование, 0.53%
Университет Западной Аттики
1 цитирование, 0.53%
Институт интеллектуальных систем Макса Планка
1 цитирование, 0.53%
Университет науки и технологий Китая
1 цитирование, 0.53%
Университет Южного Иллинойса в Карбондейле
1 цитирование, 0.53%
Иллинойсский университет в Урбане-Шампейне
1 цитирование, 0.53%
Мичиганский технологический университет
1 цитирование, 0.53%
Университет Отто фон Герике в Магдебурге
1 цитирование, 0.53%
Штутгартский университет
1 цитирование, 0.53%
Университет Васэда
1 цитирование, 0.53%
Университет Хиросимы
1 цитирование, 0.53%
Университет Симанэ
1 цитирование, 0.53%
Университет Николая Коперника
1 цитирование, 0.53%
Быдгощский университет науки и техники
1 цитирование, 0.53%
Университет штата Монтана
1 цитирование, 0.53%
5
10
15
20
25
30
35
40

Цитирующие страны

10
20
30
40
50
60
Россия, 52, 27.37%
Россия
52 цитирования, 27.37%
Страна не определена, 19, 10%
Страна не определена
19 цитирований, 10%
Германия, 19, 10%
Германия
19 цитирований, 10%
США, 18, 9.47%
США
18 цитирований, 9.47%
Япония, 13, 6.84%
Япония
13 цитирований, 6.84%
Китай, 10, 5.26%
Китай
10 цитирований, 5.26%
Республика Корея, 6, 3.16%
Республика Корея
6 цитирований, 3.16%
Индия, 5, 2.63%
Индия
5 цитирований, 2.63%
Италия, 5, 2.63%
Италия
5 цитирований, 2.63%
Украина, 3, 1.58%
Украина
3 цитирования, 1.58%
Иран, 3, 1.58%
Иран
3 цитирования, 1.58%
Франция, 2, 1.05%
Франция
2 цитирования, 1.05%
Австрия, 2, 1.05%
Австрия
2 цитирования, 1.05%
Бельгия, 2, 1.05%
Бельгия
2 цитирования, 1.05%
Греция, 2, 1.05%
Греция
2 цитирования, 1.05%
Израиль, 2, 1.05%
Израиль
2 цитирования, 1.05%
СССР, 2, 1.05%
СССР
2 цитирования, 1.05%
Беларусь, 1, 0.53%
Беларусь
1 цитирование, 0.53%
Австралия, 1, 0.53%
Австралия
1 цитирование, 0.53%
Бразилия, 1, 0.53%
Бразилия
1 цитирование, 0.53%
Великобритания, 1, 0.53%
Великобритания
1 цитирование, 0.53%
Венгрия, 1, 0.53%
Венгрия
1 цитирование, 0.53%
Гонконг (САР), 1, 0.53%
Гонконг (САР)
1 цитирование, 0.53%
Польша, 1, 0.53%
Польша
1 цитирование, 0.53%
Сингапур, 1, 0.53%
Сингапур
1 цитирование, 0.53%
Филиппины, 1, 0.53%
Филиппины
1 цитирование, 0.53%
Швейцария, 1, 0.53%
Швейцария
1 цитирование, 0.53%
Швеция, 1, 0.53%
Швеция
1 цитирование, 0.53%
ЮАР, 1, 0.53%
ЮАР
1 цитирование, 0.53%
10
20
30
40
50
60
  • Мы не учитываем публикации, у которых нет DOI.
  • Статистика пересчитывается раз в сутки.

Направления исследований

Рентгеновские волноводы-резонаторы

+
Рентгеновские волноводы-резонаторы

Экспериментально выявлено ранее неизвестное явление природы: Волноводно-резонансное распространение потоков квазимонохроматического электромагнитного излучения (на примере изучения особенностей распространения рентгеновской характеристической радиации), реализуемое в условиях, когда ширина канала, транспортирующего радиационный поток, не превышает половины длины когерентности этого излучения, а во всем пространстве этого канала возникает однородное интерференционное поле стоячей радиационной волны, возбужденное этим потоком.

Диагностика ионно-пучковыми методами исследований

+

Элементная аналитическая диагностика планарных материальных структур с наноразмерным разрешением по толщине мишени. Анализ может выполняться при комплексном применении рентгенофлуоресцентного анализа в условиях полного внешнего отражения потока возбуждения жёсткого рентгеновского излучения совместного с использованием возможностей ионно-пучковой диагностики материалов. Рентгенофлуоресцентный анализ при полном внешнем отражении полезен при элементном анализе поверхностных слоев толщиной 3-8 нанометров, а ионно-пучковые методы позволяют анализировать элементный концентрационный профиль по толщине мишени в диапазоне толщин поверхностных слоев до 2 мкм с разрешением 10-20 нм, а в диапазоне до 20 мкм - с разрешением 50 нм. Комплекс методов являются всеэлементным, неразрушающими, а спектрометрия обратного резерфордовского рассеяния ионов представляет собой единственное абсолютное элемент-диагностическое аппаратное средство, то есть не нуждается при выполнении количественных измерений в эталонах и стандартах.

Публикации и патенты

Владимир Константинович Егоров, Евгений Матвеевич Лукьянченко, Вячеслав Николаевич Руденко, Евгений Владимирович Егоров
RU2555191, 2015
Виктор Александрович Быков, Владимир Константинович Егоров, Евгений Владимирович Егоров
RU2528561C2, 2011
Виктор Александрович Быков, Владимир Константинович Егоров, Евгений Владимирович Егоров
RU2486626C2, 2011

Партнёры

Адрес лаборатории

Черноголовка, ИПТМ РАН, Корпус нейтронного генератора
Необходимо авторизоваться.