Лаборатория ядерно-физических методов исследования

Число
публикаций
Общее число
цитирований
Индекс
Хирша
76
192
7
74
208
8
Необходимо авторизоваться.

Организация

  • Институт проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов РАН

Области науки

  • Спектроскопия
  • Физика конденсированного состояния
  • Физика твердого тела

Чем мы занимаемся?

Диагностическая лаборатория, располагает ускорителем заряженных частиц до 2 МэВ и рентгеновским дифрактометром. В нашей лаборатории разработан Волновод-резонатор, позволяющий формировать наноразмерные пучки рентгеновского и электронного излучения.

Используемые методы

  • РФА ПВО
  • PIXE
  • РОР
  • Метод ядер отдачи
  • Каналирование
  • Ионолюминисценция
Владимир Егоров
Заведующий лабораторией

Направления исследований

Диагностика ионно-пучковыми методами исследований

+

Элементная аналитическая диагностика планарных материальных структур с наноразмерным разрешением по толщине мишени. Анализ может выполняться при комплексном применении рентгенофлуоресцентного анализа в условиях полного внешнего отражения потока возбуждения жёсткого рентгеновского излучения совместного с использованием возможностей ионно-пучковой диагностики материалов. Рентгенофлуоресцентный анализ при полном внешнем отражении полезен при элементном анализе поверхностных слоев толщиной 3-8 нанометров, а ионно-пучковые методы позволяют анализировать элементный концентрационный профиль по толщине мишени в диапазоне толщин поверхностных слоев до 2 мкм с разрешением 10-20 нм, а в диапазоне до 20 мкм - с разрешением 50 нм. Комплекс методов являются всеэлементным, неразрушающими, а спектрометрия обратного резерфордовского рассеяния ионов представляет собой единственное абсолютное элемент-диагностическое аппаратное средство, то есть не нуждается при выполнении количественных измерений в эталонах и стандартах.

Рентгеновские волноводы-резонаторы

+
Рентгеновские волноводы-резонаторы

Экспериментально выявлено ранее неизвестное явление природы: Волноводно-резонансное распространение потоков квазимонохроматического электромагнитного излучения (на примере изучения особенностей распространения рентгеновской характеристической радиации), реализуемое в условиях, когда ширина канала, транспортирующего радиационный поток, не превышает половины длины когерентности этого излучения, а во всем пространстве этого канала возникает однородное интерференционное поле стоячей радиационной волны, возбужденное этим потоком.

Публикации и патенты

Optical fluxes propagation in the planar transport layer of multilayer coatings
Egorov E. V., Egorov V. K.
Q4 Journal of Physics: Conference Series 2021 цитирований: 0
Open Access
Open access
Elemental Analysis of Materials by Methods of Ion-Beam Diagnostics
Afanasiev M.S., Egorov E.V., Egorov V.K., Chucheva G.V.
Q3 Journal of Surface Investigation 2021 цитирований: 0
Nondestructive Elemental Diagnostics of the Fuel-Rod Cladding Surface by the Ion-Beam and X-Ray Analytical Methods
Egorov V. K., Egorov E. V., Kalin B. A., Safonov D. A.
Q3 Instruments and Experimental Techniques 2021 цитирований: 0
Nondestructure diagnostics of surface layers elements content for cylindrical shape material objects
Egorov V. K., Egorov E. V.
Q4 Journal of Physics: Conference Series 2020 цитирований: 0
Open Access
Open access
X-Ray Nanophotonics Based on Planar X-Ray Waveguide-Resonator
Egorov V. K., Egorov E. V.
2020 цитирований: 0
TXRF Spectrometry in Conditions of Planar X-ray Waveguide-Resonator Application
Egorov V. K., Egorov E. V.
2020 цитирований: 0
Elaboration of pulsed X-ray laser on base of radiation fluxes waveguide-resonance propagation phenomenon
Egorov V. K., Egorov E. V.
Q4 Journal of Physics: Conference Series 2019 цитирований: 1
Open Access
Open access
About cold fusion possibilities in frame of the waveguide-resonance propagation of radiation fluxes
Egorov V.K., Egorov E.V.
Q4 Journal of Physics: Conference Series 2019 цитирований: 1
Open Access
Open access
The Total-Reflection X-Ray Fluorescence Yield Formed by a Waveguide Resonator under Conditions of Ion Beam Excitation
Afanasiev M. S., Egorov V. K., Egorov E. V., Kuharskaya N. F., Nabiev A. E., Naryshkina V. G.
Q3 Instruments and Experimental Techniques 2019 цитирований: 0
Element analysis of thin films and liquid dry residue by X-ray and ion beam methods
Egorov V.K., Egorov E.V., Afanas’ev M.S.
Q4 Journal of Physics: Conference Series 2019 цитирований: 0
Open Access
Open access
Study of a SiO2/Si Structure Implanted with 64Zn+ and 16O+ Ions and Heat Treated in a Neutral Inert Environment
Privezentsev V. V., Kulikauskas V. S., Zatekin V. V., Zinenko V. I., Agafonov Y. A., Egorov V. K., Steinman E. A., Tereshchenko A. N., Shcherbachev K. D.
Q3 Journal of Surface Investigation 2019 цитирований: 1
Formation technology of X-ray quasimonochromatic fluxes with nanosize width and small angular divergence
Egorov V.K., Egorov E.V.
Q4 International Journal of Nanotechnology 2019 цитирований: 0
X-ray fluorescence material analysis initiated by high energy proton beams
Egorov V. K., Egorov E. V., Afanas'Ev M. S.
Q4 Journal of Physics: Conference Series 2018 цитирований: 1
Open Access
Open access
Ion Beams for Materials Analysis: Conventional and Advanced Approaches
Egorov V., Egorov E.
2018 цитирований: 1
The phenomenon model of X-ray beam angular divergence decreasing formed by composite waveguide-resonator
Egorov V.K., Egorov E.V.
Q4 IOP Conference Series: Materials Science and Engineering 2018 цитирований: 0
Open Access
Open access
Виктор Александрович Быков, Владимир Константинович Егоров, Евгений Владимирович Егоров
RU2486626C2, 2011
Виктор Александрович Быков, Владимир Константинович Егоров, Евгений Владимирович Егоров
RU2528561C2, 2011
Владимир Константинович Егоров, Евгений Матвеевич Лукьянченко, Вячеслав Николаевич Руденко, Евгений Владимирович Егоров
RU2555191, 2015

Партнёры

Местонахождение лаборатории

Черноголовка, ИПТМ РАН, Корпус нейтронного генератора
Необходимо авторизоваться.