7103143753

C3RCaIcAAAAJ

Егоров Евгений Владимирович

Evgenii Egorov

Институт проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов РАН

Публикаций

Цитирований

123

Индекс Хирша

Лаборатории

Лаборатория ядерно-физических методов исследования

Инженер

Образование

Национальный исследовательский ядерный университет «МИФИ»

1993 — 2001, Специалитет, Технической физики

Всего публикаций

Всего цитирований

123

Цитирований на публикацию

Среднее число публикаций в год

1.41

Среднее число соавторов

1.85

Годы публикаций

1996-2024 (29 лет)

h-index

i10-index

m-index

0.21

o-index

g-index

w-index

Описание метрик

h-index

Учёный имеет индекс h, если h из его N статей цитируются как минимум h раз каждая, в то время как оставшиеся (N - h) статей цитируются не более чем h раз каждая.

https://www.pnas.org/doi/full/10.1073/pnas.0507655102

i10-index

Число статей автора, получивших не менее 10 ссылок каждая.

https://scholar.googleblog.com/2011/11/google-scholar-citations-open-to-all.html

m-index

m-индекс ученого численно равен отношению его h-индекса к количеству лет, прошедших с момента первой публикации.

https://harzing.com/publications/white-papers/reflections-on-the-h-index

o-index

Среднее геометрическое h-индекса и числа цитирований наиболее цитируемой статьи ученого.

https://arxiv.org/abs/1511.01545

g-index

Для данного множества статей, отсортированного в порядке убывания количества цитирований, которые получили эти статьи, g-индекс это наибольшее число, такое что g самых цитируемых статей получили (суммарно) не менее g² цитирований.

https://doi.org/10.1007/s11192-006-0144-7

w-index

Если w статей ученого имеют не менее 10w цитирований каждая и другие статьи меньше, чем 10(w+1) цитирований, то w-индекс исследователя равен w.

https://doi.org/10.1002/asi.21276

Топ-100

Области наук

	2 4 6 8 10 12
General Physics and Astronomy	General Physics and Astronomy, 11, 26.83% General Physics and Astronomy 11 публикаций, 26.83%
Surfaces, Coatings and Films	Surfaces, Coatings and Films, 10, 24.39% Surfaces, Coatings and Films 10 публикаций, 24.39%
Condensed Matter Physics	Condensed Matter Physics, 6, 14.63% Condensed Matter Physics 6 публикаций, 14.63%
Instrumentation	Instrumentation, 6, 14.63% Instrumentation 6 публикаций, 14.63%
Materials Chemistry	Materials Chemistry, 5, 12.2% Materials Chemistry 5 публикаций, 12.2%
Electronic, Optical and Magnetic Materials	Electronic, Optical and Magnetic Materials, 5, 12.2% Electronic, Optical and Magnetic Materials 5 публикаций, 12.2%
Electrical and Electronic Engineering	Electrical and Electronic Engineering, 4, 9.76% Electrical and Electronic Engineering 4 публикации, 9.76%
Spectroscopy	Spectroscopy, 3, 7.32% Spectroscopy 3 публикации, 7.32%
General Medicine	General Medicine, 2, 4.88% General Medicine 2 публикации, 4.88%
Atomic and Molecular Physics, and Optics	Atomic and Molecular Physics, and Optics, 2, 4.88% Atomic and Molecular Physics, and Optics 2 публикации, 4.88%
Bioengineering	Bioengineering, 2, 4.88% Bioengineering 2 публикации, 4.88%
Surfaces and Interfaces	Surfaces and Interfaces, 2, 4.88% Surfaces and Interfaces 2 публикации, 4.88%
Nuclear and High Energy Physics	Nuclear and High Energy Physics, 2, 4.88% Nuclear and High Energy Physics 2 публикации, 4.88%
Metals and Alloys	Metals and Alloys, 1, 2.44% Metals and Alloys 1 публикация, 2.44%
General Chemistry	General Chemistry, 1, 2.44% General Chemistry 1 публикация, 2.44%
Physical and Theoretical Chemistry	Physical and Theoretical Chemistry, 1, 2.44% Physical and Theoretical Chemistry 1 публикация, 2.44%
Analytical Chemistry	Analytical Chemistry, 1, 2.44% Analytical Chemistry 1 публикация, 2.44%
Applied Mathematics	Applied Mathematics, 1, 2.44% Applied Mathematics 1 публикация, 2.44%
	2 4 6 8 10 12

Журналы

	1 2 3 4 5 6 7 8 9
Journal of Physics: Conference Series	Journal of Physics: Conference Series, 9, 21.95% Journal of Physics: Conference Series 9 публикаций, 21.95%
Journal of Surface Investigation	Journal of Surface Investigation, 8, 19.51% Journal of Surface Investigation 8 публикаций, 19.51%
Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering	Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering, 3, 7.32% Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering 3 публикации, 7.32%
X-Ray Spectrometry	X-Ray Spectrometry, 2, 4.88% X-Ray Spectrometry 2 публикации, 4.88%
Nuclear Instruments and Methods in Physics Research, Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms	Nuclear Instruments and Methods in Physics Research, Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms, 2, 4.88% Nuclear Instruments and Methods in Physics Research, Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms 2 публикации, 4.88%
International Journal of Nanotechnology	International Journal of Nanotechnology, 2, 4.88% International Journal of Nanotechnology 2 публикации, 4.88%
Instruments and Experimental Techniques	Instruments and Experimental Techniques, 2, 4.88% Instruments and Experimental Techniques 2 публикации, 4.88%
Russian Microelectronics	Russian Microelectronics, 2, 4.88% Russian Microelectronics 2 публикации, 4.88%
Measurement Techniques	Measurement Techniques, 1, 2.44% Measurement Techniques 1 публикация, 2.44%
Spectrochimica Acta, Part B: Atomic Spectroscopy	Spectrochimica Acta, Part B: Atomic Spectroscopy, 1, 2.44% Spectrochimica Acta, Part B: Atomic Spectroscopy 1 публикация, 2.44%
IOP Conference Series: Materials Science and Engineering	IOP Conference Series: Materials Science and Engineering, 1, 2.44% IOP Conference Series: Materials Science and Engineering 1 публикация, 2.44%
Physics of the Solid State	Physics of the Solid State, 1, 2.44% Physics of the Solid State 1 публикация, 2.44%
Applied Surface Science	Applied Surface Science, 1, 2.44% Applied Surface Science 1 публикация, 2.44%
High Energy Chemistry	High Energy Chemistry, 1, 2.44% High Energy Chemistry 1 публикация, 2.44%
Optics and Spectroscopy (English translation of Optika i Spektroskopiya)	Optics and Spectroscopy (English translation of Optika i Spektroskopiya), 1, 2.44% Optics and Spectroscopy (English translation of Optika i Spektroskopiya) 1 публикация, 2.44%
Thin Solid Films	Thin Solid Films, 1, 2.44% Thin Solid Films 1 публикация, 2.44%
Bulletin of the Russian Academy of Sciences: Physics	Bulletin of the Russian Academy of Sciences: Physics, 1, 2.44% Bulletin of the Russian Academy of Sciences: Physics 1 публикация, 2.44%
MRS Proceedings	MRS Proceedings, 1, 2.44% MRS Proceedings 1 публикация, 2.44%
21st Century Nanoscience - A Handbook: Advanced Analytic Methods and Instrumentation (Volume Three)	21st Century Nanoscience - A Handbook: Advanced Analytic Methods and Instrumentation (Volume Three), 1, 2.44% 21st Century Nanoscience - A Handbook: Advanced Analytic Methods and Instrumentation (Volume Three) 1 публикация, 2.44%
	1 2 3 4 5 6 7 8 9

Цитирующие журналы

	2 4 6 8 10 12 14 16 18
Journal of Surface Investigation	Journal of Surface Investigation, 17, 13.82% Journal of Surface Investigation 17 цитирований, 13.82%
Журнал не определён	Журнал не определён, 15, 12.2% Журнал не определён 15 цитирований, 12.2%
Russian Microelectronics	Russian Microelectronics, 12, 9.76% Russian Microelectronics 12 цитирований, 9.76%
X-Ray Spectrometry	X-Ray Spectrometry, 11, 8.94% X-Ray Spectrometry 11 цитирований, 8.94%
Journal of Physics: Conference Series	Journal of Physics: Conference Series, 9, 7.32% Journal of Physics: Conference Series 9 цитирований, 7.32%
Applied Surface Science	Applied Surface Science, 6, 4.88% Applied Surface Science 6 цитирований, 4.88%
Spectrochimica Acta, Part B: Atomic Spectroscopy	Spectrochimica Acta, Part B: Atomic Spectroscopy, 4, 3.25% Spectrochimica Acta, Part B: Atomic Spectroscopy 4 цитирования, 3.25%
Analytical Chemistry	Analytical Chemistry, 4, 3.25% Analytical Chemistry 4 цитирования, 3.25%
Journal of Analytical Chemistry	Journal of Analytical Chemistry, 4, 3.25% Journal of Analytical Chemistry 4 цитирования, 3.25%
Inorganic Materials	Inorganic Materials, 3, 2.44% Inorganic Materials 3 цитирования, 2.44%
Optics Communications	Optics Communications, 3, 2.44% Optics Communications 3 цитирования, 2.44%
Analytical Sciences	Analytical Sciences, 2, 1.63% Analytical Sciences 2 цитирования, 1.63%
Nuclear Instruments and Methods in Physics Research, Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms	Nuclear Instruments and Methods in Physics Research, Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms, 2, 1.63% Nuclear Instruments and Methods in Physics Research, Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms 2 цитирования, 1.63%
IOP Conference Series: Materials Science and Engineering	IOP Conference Series: Materials Science and Engineering, 2, 1.63% IOP Conference Series: Materials Science and Engineering 2 цитирования, 1.63%
Instruments and Experimental Techniques	Instruments and Experimental Techniques, 2, 1.63% Instruments and Experimental Techniques 2 цитирования, 1.63%
Optics and Spectroscopy (English translation of Optika i Spektroskopiya)	Optics and Spectroscopy (English translation of Optika i Spektroskopiya), 2, 1.63% Optics and Spectroscopy (English translation of Optika i Spektroskopiya) 2 цитирования, 1.63%
Journal of Analytical Atomic Spectrometry	Journal of Analytical Atomic Spectrometry, 2, 1.63% Journal of Analytical Atomic Spectrometry 2 цитирования, 1.63%
Powder Diffraction $Powder Diffraction$	$Powder Diffraction$ Powder Diffraction, 2, 1.63% Powder Diffraction 2 цитирования, 1.63%
Uspekhi Fizicheskih Nauk	Uspekhi Fizicheskih Nauk, 2, 1.63% Uspekhi Fizicheskih Nauk 2 цитирования, 1.63%
Measurement Techniques	Measurement Techniques, 1, 0.81% Measurement Techniques 1 цитирование, 0.81%
Applied Optics	Applied Optics, 1, 0.81% Applied Optics 1 цитирование, 0.81%
Optics Express	Optics Express, 1, 0.81% Optics Express 1 цитирование, 0.81%
e-Journal of Surface Science and Nanotechnology	e-Journal of Surface Science and Nanotechnology, 1, 0.81% e-Journal of Surface Science and Nanotechnology 1 цитирование, 0.81%
Physics-Uspekhi	Physics-Uspekhi, 1, 0.81% Physics-Uspekhi 1 цитирование, 0.81%
Vacuum	Vacuum, 1, 0.81% Vacuum 1 цитирование, 0.81%
Journal of Applied Crystallography	Journal of Applied Crystallography, 1, 0.81% Journal of Applied Crystallography 1 цитирование, 0.81%
Physics of the Solid State	Physics of the Solid State, 1, 0.81% Physics of the Solid State 1 цитирование, 0.81%
Applied Energy	Applied Energy, 1, 0.81% Applied Energy 1 цитирование, 0.81%
Russian Journal of General Chemistry	Russian Journal of General Chemistry, 1, 0.81% Russian Journal of General Chemistry 1 цитирование, 0.81%
Technical Physics	Technical Physics, 1, 0.81% Technical Physics 1 цитирование, 0.81%
Thin Solid Films	Thin Solid Films, 1, 0.81% Thin Solid Films 1 цитирование, 0.81%
Progress in Organic Coatings	Progress in Organic Coatings, 1, 0.81% Progress in Organic Coatings 1 цитирование, 0.81%
Physica B: Condensed Matter	Physica B: Condensed Matter, 1, 0.81% Physica B: Condensed Matter 1 цитирование, 0.81%
Journal of Fluorescence	Journal of Fluorescence, 1, 0.81% Journal of Fluorescence 1 цитирование, 0.81%
Technical Physics Letters	Technical Physics Letters, 1, 0.81% Technical Physics Letters 1 цитирование, 0.81%
Physical Review B	Physical Review B, 1, 0.81% Physical Review B 1 цитирование, 0.81%
MRS Proceedings	MRS Proceedings, 1, 0.81% MRS Proceedings 1 цитирование, 0.81%
phys stat sol (a)	phys stat sol (a), 1, 0.81% phys stat sol (a) 1 цитирование, 0.81%

	2 4 6 8 10 12 14 16 18

Издатели

	2 4 6 8 10 12 14 16
Pleiades Publishing	Pleiades Publishing, 16, 39.02% Pleiades Publishing 16 публикаций, 39.02%
IOP Publishing	IOP Publishing, 10, 24.39% IOP Publishing 10 публикаций, 24.39%
Elsevier	Elsevier, 5, 12.2% Elsevier 5 публикаций, 12.2%
SPIE-Intl Soc Optical Eng	SPIE-Intl Soc Optical Eng, 3, 7.32% SPIE-Intl Soc Optical Eng 3 публикации, 7.32%
Springer Nature	Springer Nature, 2, 4.88% Springer Nature 2 публикации, 4.88%
Wiley	Wiley, 2, 4.88% Wiley 2 публикации, 4.88%
Inderscience Publishers	Inderscience Publishers, 2, 4.88% Inderscience Publishers 2 публикации, 4.88%
Taylor & Francis	Taylor & Francis, 1, 2.44% Taylor & Francis 1 публикация, 2.44%
	2 4 6 8 10 12 14 16

Организации из публикаций

Страны из публикаций

	5 10 15 20 25 30 35 40
Россия	Россия, 37, 90.24% Россия 37 публикаций, 90.24%
Страна не определена	Страна не определена, 4, 9.76% Страна не определена 4 публикации, 9.76%
Германия	Германия, 1, 2.44% Германия 1 публикация, 2.44%
Беларусь	Беларусь, 1, 2.44% Беларусь 1 публикация, 2.44%
Азербайджан	Азербайджан, 1, 2.44% Азербайджан 1 публикация, 2.44%
	5 10 15 20 25 30 35 40

Цитирующие организации

	5 10 15 20
Организация не определена	Организация не определена, 20, 16.26% Организация не определена 20 цитирований, 16.26%
Институт проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов РАН	Институт проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов РАН, 19, 15.45% Институт проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов РАН 19 цитирований, 15.45%
Институт радиотехники и электроники имени В.А. Котельникова РАН	Институт радиотехники и электроники имени В.А. Котельникова РАН, 9, 7.32% Институт радиотехники и электроники имени В.А. Котельникова РАН 9 цитирований, 7.32%
Финансовый университет при Правительстве РФ	Финансовый университет при Правительстве РФ, 7, 5.69% Финансовый университет при Правительстве РФ 7 цитирований, 5.69%
Киотский университет	Киотский университет, 6, 4.88% Киотский университет 6 цитирований, 4.88%
Национальный исследовательский ядерный университет «МИФИ»	Национальный исследовательский ядерный университет «МИФИ», 5, 4.07% Национальный исследовательский ядерный университет «МИФИ» 5 цитирований, 4.07%
Гёттингенский университет имени Георга Августа	Гёттингенский университет имени Георга Августа, 4, 3.25% Гёттингенский университет имени Георга Августа 4 цитирования, 3.25%
Московский государственный университет имени М.В. Ломоносова	Московский государственный университет имени М.В. Ломоносова, 3, 2.44% Московский государственный университет имени М.В. Ломоносова 3 цитирования, 2.44%
Университет Тунцзи	Университет Тунцзи, 3, 2.44% Университет Тунцзи 3 цитирования, 2.44%
Университет Тохоку	Университет Тохоку, 3, 2.44% Университет Тохоку 3 цитирования, 2.44%
Столичный университет Осаки	Столичный университет Осаки, 3, 2.44% Столичный университет Осаки 3 цитирования, 2.44%
Институт проблем машиноведения РАН	Институт проблем машиноведения РАН, 2, 1.63% Институт проблем машиноведения РАН 2 цитирования, 1.63%
Институт фотоники и нанотехнологий	Институт фотоники и нанотехнологий, 2, 1.63% Институт фотоники и нанотехнологий 2 цитирования, 1.63%
Университет Инха	Университет Инха, 2, 1.63% Университет Инха 2 цитирования, 1.63%
Японское агентство науки и технологий	Японское агентство науки и технологий, 2, 1.63% Японское агентство науки и технологий 2 цитирования, 1.63%
Московский физико-технический институт	Московский физико-технический институт, 1, 0.81% Московский физико-технический институт 1 цитирование, 0.81%
Институт физики металлов имени М. Н. Михеева УрО РАН	Институт физики металлов имени М. Н. Михеева УрО РАН, 1, 0.81% Институт физики металлов имени М. Н. Михеева УрО РАН 1 цитирование, 0.81%
Университет ИТМО	Университет ИТМО, 1, 0.81% Университет ИТМО 1 цитирование, 0.81%
Южно-Уральский Государственный Университет	Южно-Уральский Государственный Университет, 1, 0.81% Южно-Уральский Государственный Университет 1 цитирование, 0.81%
Российский Университет Дружбы Народов	Российский Университет Дружбы Народов, 1, 0.81% Российский Университет Дружбы Народов 1 цитирование, 0.81%
Южный федеральный университет	Южный федеральный университет, 1, 0.81% Южный федеральный университет 1 цитирование, 0.81%
МИРЭА — Российский технологический университет	МИРЭА — Российский технологический университет, 1, 0.81% МИРЭА — Российский технологический университет 1 цитирование, 0.81%
Санкт-Петербургский государственный университет	Санкт-Петербургский государственный университет, 1, 0.81% Санкт-Петербургский государственный университет 1 цитирование, 0.81%
Волгоградский государственный университет	Волгоградский государственный университет, 1, 0.81% Волгоградский государственный университет 1 цитирование, 0.81%
Институт аналитического приборостроения РАН	Институт аналитического приборостроения РАН, 1, 0.81% Институт аналитического приборостроения РАН 1 цитирование, 0.81%
Университет Манипура	Университет Манипура, 1, 0.81% Университет Манипура 1 цитирование, 0.81%
Чжэцзянский университет	Чжэцзянский университет, 1, 0.81% Чжэцзянский университет 1 цитирование, 0.81%
Швейцарская высшая техническая школа Цюриха	Швейцарская высшая техническая школа Цюриха, 1, 0.81% Швейцарская высшая техническая школа Цюриха 1 цитирование, 0.81%
Римский Университет Ла Сапиенца	Римский Университет Ла Сапиенца, 1, 0.81% Римский Университет Ла Сапиенца 1 цитирование, 0.81%
Институт Пауля Шеррера	Институт Пауля Шеррера, 1, 0.81% Институт Пауля Шеррера 1 цитирование, 0.81%
Консорциум научных исследований UGC-DAE	Консорциум научных исследований UGC-DAE, 1, 0.81% Консорциум научных исследований UGC-DAE 1 цитирование, 0.81%
Антверпенский университет	Антверпенский университет, 1, 0.81% Антверпенский университет 1 цитирование, 0.81%
Федеральный университет Рио-де-Жанейро	Федеральный университет Рио-де-Жанейро, 1, 0.81% Федеральный университет Рио-де-Жанейро 1 цитирование, 0.81%
Университет имени Альдо Моро в Бари	Университет имени Альдо Моро в Бари, 1, 0.81% Университет имени Альдо Моро в Бари 1 цитирование, 0.81%
Трентский университет	Трентский университет, 1, 0.81% Трентский университет 1 цитирование, 0.81%
Институт кристаллографии	Институт кристаллографии, 1, 0.81% Институт кристаллографии 1 цитирование, 0.81%
Шанхайский институт керамики Китайской академии наук	Шанхайский институт керамики Китайской академии наук, 1, 0.81% Шанхайский институт керамики Китайской академии наук 1 цитирование, 0.81%
Элеттра Синхротрон Триест	Элеттра Синхротрон Триест, 1, 0.81% Элеттра Синхротрон Триест 1 цитирование, 0.81%
Венский технический университет	Венский технический университет, 1, 0.81% Венский технический университет 1 цитирование, 0.81%
Дебреценский университет	Дебреценский университет, 1, 0.81% Дебреценский университет 1 цитирование, 0.81%
Университет Уотерлу	Университет Уотерлу, 1, 0.81% Университет Уотерлу 1 цитирование, 0.81%
Университет Хиросимы	Университет Хиросимы, 1, 0.81% Университет Хиросимы 1 цитирование, 0.81%
Университет Симанэ	Университет Симанэ, 1, 0.81% Университет Симанэ 1 цитирование, 0.81%

	5 10 15 20

Цитирующие страны

	5 10 15 20 25 30 35 40
Россия	Россия, 38, 30.89% Россия 38 цитирований, 30.89%
Япония	Япония, 10, 8.13% Япония 10 цитирований, 8.13%
Страна не определена	Страна не определена, 8, 6.5% Страна не определена 8 цитирований, 6.5%
Германия	Германия, 5, 4.07% Германия 5 цитирований, 4.07%
Китай	Китай, 5, 4.07% Китай 5 цитирований, 4.07%
Италия	Италия, 5, 4.07% Италия 5 цитирований, 4.07%
Украина	Украина, 2, 1.63% Украина 2 цитирования, 1.63%
Австрия	Австрия, 2, 1.63% Австрия 2 цитирования, 1.63%
Бельгия	Бельгия, 2, 1.63% Бельгия 2 цитирования, 1.63%
Индия	Индия, 2, 1.63% Индия 2 цитирования, 1.63%
Республика Корея	Республика Корея, 2, 1.63% Республика Корея 2 цитирования, 1.63%
Бразилия	Бразилия, 1, 0.81% Бразилия 1 цитирование, 0.81%
Великобритания	Великобритания, 1, 0.81% Великобритания 1 цитирование, 0.81%
Венгрия	Венгрия, 1, 0.81% Венгрия 1 цитирование, 0.81%
Канада	Канада, 1, 0.81% Канада 1 цитирование, 0.81%
Швейцария	Швейцария, 1, 0.81% Швейцария 1 цитирование, 0.81%
	5 10 15 20 25 30 35 40

Мы не учитываем публикации, у которых нет DOI.
Статистика пересчитывается раз в сутки.

В этом разделе отображаются профили ученых, зарегистрированных на платформе. Чтобы отображался полный список, приглашайте коллег зарегистрироваться.

37 общих публикаций

Егоров Владимир

к.ф.-м.н.

57 публикаций, 196 цитирований

Индекс Хирша 8

Институт проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов РАН

Формирователь малорасходящихся потоков излучения

Виктор Александрович Быков, Владимир Константинович Егоров, Евгений Владимирович Егоров

RU2486626C2, 2011

Высокостабильный волноводно-резонансный формирователь потока рентгеновского квазимонохроматического излучения

Виктор Александрович Быков, Владимир Константинович Егоров, Евгений Владимирович Егоров

RU2528561C2, 2011

Устройство для рентгенофлуоресцентного анализа материалов с формированием потока возбуждения плоским рентгеновским волноводом-резонатором

Владимир Константинович Егоров, Евгений Матвеевич Лукьянченко, Вячеслав Николаевич Руденко, Евгений Владимирович Егоров

RU2555191, 2015