Научная группа "Сенсоры и умные материалы"

Принтер построен на базе жесткой стальной рамы. Помимо достаточно большой толщины (от 2 до 4 мм), решающим фактором является большое количество рёбер жесткости, препятствующих деформации и тепловым расширениям, что является самым главным для достижения высокого качества печати.

Все элементы механики защищены от воздействия высоких температур благодаря тому, что они вынесены в холодную зону.

Водяное охлаждение позволяет получить максимальную температуру печати 450 ℃. Столик и экструдеры — высокотемпературные.

Также принтер оснащен двумя экструдерами, что позволяет печатать двумя цветами, либо печатать растворимые поддержки для создания сложных форм.

Позволяет исследовать морфологию образца методами атомно-силовой и туннельной микроскопии. Сканирующая головка микроскопа находится в вакуумной камере, которая обеспечивает проведение исследований в условиях среднего и высокого вакуума. Наличие активной и пассивной защиты от вибраций позволяет достигать высокой точности измерений. Наличие специализированной измерительной головки позволяется проводить измерения морфологии объектов, находящихся в жидкой среде. Позволяет реализовывать следующие методы измерений:

Атомно-силовая микроскопия (контактная, бесконтактная и полуконтактная моды): изучение морфологии поверхности образца.

Магнитная силовая микроскопия: изучение распределения магнитного момента по поверхности образца.

Метод зонда Кельвина: измерение распределения потенциала поверхности (контактной разности потенциалов) по поверхности образца.

Силовая микроскопия пьезоотклика: Методика СМП основана на обратном пьезоэффекте, который заключается в линейной связи между электрическим полем и механической деформацией.

Сканирующая туннельная микроскопия: изучение морфологии проводящих образцов. Позволяет получать изображение с атомарным разрешением. Также позволяет получать туннельные вольт-амперные характеристики образцов.

Установка для формирования и исследования монослоев методом Ленгмюра-Блоджетт Nima KSV KN-2001 предназначена для формирования на границе раздела вода-воздух тонких мономолекулярных пленок и переноса их на твердые подложки. Позволяет создавать высокоструктурированные пленки из амфифильных (поверхностно-активные вещества) и полимерных молекул, гидрофобных микро- и наночастиц. Имеет электродную секцию, позволяющую исследовать свойства монослоев под действием электрического поля.

Установка безмасковой литографии создана для работы на пластинах 100 мм. Система лазерной литографии позволяет работать без фотошаблона и была специально разработана для исследовательских центров и мелкосерийных производств. Эргономичный дизайн и настольное исполнение позволяет её внедрить в любое производство на участки литографии и цеха микросборок. Пользователи по всему миру уже по достоинству оценили данную систему и произвели продукцию высокого уровня.

Прибор предназначен для изучения структуры и топографии поверхности у прозрачных и непрозрачных образцов. LEXT OLS5000 работает по методам оптического контрастирования: светлое поле, поляризованный свет и ДИК. Объединяет в себе 2 микроскопа — исследовательский оптический моторизованный микроскоп и лазерный конфокальный измерительный микроскоп для измерения линейных размеров, а также лазерный профилометр профилограф и может быть использован как сканирующий микроскоп. Увеличение 17280х и высокое разрешение среди подобных микроскопов. Уникальная возможность исследования наклонных поверхностей с углом наклона до 85.

Прецизионный измеритель LCR Е4980А компании Agilent обеспечивает наилучшее сочетание точности, скорости измерений и универсальности для широкого диапазона измерений компонентов. Обладая высокой скоростью измерений и выдающимися характеристиками как на нижних, так и верхних пределах измерения импеданса, Е4980А является основным инструментом, предназначенным как для разработки и исследований, так и производственных испытаний компонентов и материалов.

Векторный анализатор цепей Anritsu VectorStar MS4644A предназначен для проведения измерений радиофизических свойств материалов и параметров электрических цепей в широком диапазоне частот непрерывного спектра.

Предназначен для измерения коэффициента отражения и коэффициента абсорбции ВЧ и СВЧ излучений физическими объектами и материалами рупорным методом.

Частотный диапазон от 40 ГГц до 10 МГц.

T70 — это высокопроизводительный спектрофотометр с разделенным лучом, доступный с фиксированной (2 нм) или переменной (0,5, 1, 2, 5 нм) спектральной полосой пропускания, что является инновационным с точки зрения применения прибора, механической и оптической конструкции, электронного управления и программного обеспечения при сохранении функции, хорошо зарекомендовавшие себя и принятые в отрасли.

Спектрофотометры УФ-видимого диапазона серии T70 могут выполнять фотометрические измерения, сканирование спектра, количественное определение и анализ ДНК / белков. При подключении к ПК с помощью программного обеспечения UV-Win доступно множество других функций, включая трехмерный спектр, кинетические измерения, метод и хранение данных, экспорт данных в нескольких форматах и функции администрирования GLP. Оба инструмента имеют спектральный диапазон 190-1100 нм

Универсальный лабораторный ИК фурье-спектрометр ФСМ 1202 предназначен для проведения рутинных измерений и научных исследований в средней инфракрасной области спектра.

Спектрометр используется для количественного анализа и контроля качества продукции в химической, нефтехимической, топливной, фармацевтической, пищевой и парфюмерной промышленности, для осуществления экологического контроля, криминалистической и других видов экспертиз.

В основе спектрометра ФСМ 1202 — интерферометр типа Майкельсона с самокомпенсацией, не требующий динамической юстировки.