Всего публикаций
9
Всего цитирований
31
Цитирований на публикацию
3.44
Среднее число публикаций в год
1.13
Среднее число соавторов
4.56
Годы публикаций
2019-2026 (8 лет)
h-index
4
i10-index
0
m-index
0.5
o-index
6
g-index
5
w-index
0
Описание метрик
h-index
Учёный имеет индекс h, если h из его N статей цитируются как минимум h раз каждая, в то время как оставшиеся (N - h) статей цитируются не более чем h раз каждая.
i10-index
Число статей автора, получивших не менее 10 ссылок каждая.
m-index
m-индекс ученого численно равен отношению его h-индекса к количеству лет, прошедших с момента первой публикации.
o-index
Среднее геометрическое h-индекса и числа цитирований наиболее цитируемой статьи ученого.
g-index
Для данного множества статей, отсортированного в порядке убывания количества цитирований, которые получили эти статьи, g-индекс это наибольшее число, такое что g самых цитируемых статей получили (суммарно) не менее g2 цитирований.
w-index
Если w статей ученого имеют не менее 10w цитирований каждая и другие статьи меньше, чем 10(w+1) цитирований, то w-индекс исследователя равен w.

Топ-100

Области наук

1
2
3
4
5
6
Condensed Matter Physics, 6, 66.67%
Condensed Matter Physics
6 публикаций, 66.67%
Materials Chemistry, 2, 22.22%
Materials Chemistry
2 публикации, 22.22%
Surfaces, Coatings and Films, 2, 22.22%
Surfaces, Coatings and Films
2 публикации, 22.22%
General Chemistry, 2, 22.22%
General Chemistry
2 публикации, 22.22%
Surfaces and Interfaces, 2, 22.22%
Surfaces and Interfaces
2 публикации, 22.22%
Electronic, Optical and Magnetic Materials, 1, 11.11%
Electronic, Optical and Magnetic Materials
1 публикация, 11.11%
Inorganic Chemistry, 1, 11.11%
Inorganic Chemistry
1 публикация, 11.11%
General Physics and Astronomy, 1, 11.11%
General Physics and Astronomy
1 публикация, 11.11%
Atomic and Molecular Physics, and Optics, 1, 11.11%
Atomic and Molecular Physics, and Optics
1 публикация, 11.11%
General Materials Science, 1, 11.11%
General Materials Science
1 публикация, 11.11%
Electrical and Electronic Engineering, 1, 11.11%
Electrical and Electronic Engineering
1 публикация, 11.11%
Instrumentation, 1, 11.11%
Instrumentation
1 публикация, 11.11%
1
2
3
4
5
6

Журналы

1
2
3
Journal of Crystal Growth
3 публикации, 33.33%
Surface Science
1 публикация, 11.11%
Optoelectronics, Instrumentation and Data Processing
1 публикация, 11.11%
Applied Surface Science
1 публикация, 11.11%
Semiconductors
1 публикация, 11.11%
Crystallography Reports
1 публикация, 11.11%
Physical Review B
1 публикация, 11.11%
1
2
3

Цитирующие журналы

1
2
3
4
5
6
7
8
Journal of Crystal Growth
8 цитирований, 25.81%
Surface Science
6 цитирований, 19.35%
Applied Surface Science
5 цитирований, 16.13%
ACS applied materials & interfaces
2 цитирования, 6.45%
Optoelectronics, Instrumentation and Data Processing
2 цитирования, 6.45%
Modern Electronic Materials
2 цитирования, 6.45%
Mechanics of Solids
1 цитирование, 3.23%
Physical Review E
1 цитирование, 3.23%
Applied Sciences (Switzerland)
1 цитирование, 3.23%
Faraday Discussions
1 цитирование, 3.23%
Crystallography Reports
1 цитирование, 3.23%
Physical Review B
1 цитирование, 3.23%
1
2
3
4
5
6
7
8

Издатели

1
2
3
4
5
Elsevier
5 публикаций, 55.56%
Pleiades Publishing
3 публикации, 33.33%
American Physical Society (APS)
1 публикация, 11.11%
1
2
3
4
5

Организации из публикаций

1
2
3
4
5
6
7
Институт физики полупроводников им. А.В. Ржанова СО РАН
7 публикаций, 77.78%
Новосибирский Государственный Университет
5 публикаций, 55.56%
Организация не определена, 2, 22.22%
Организация не определена
2 публикации, 22.22%
Сколковский институт науки и технологий
2 публикации, 22.22%
Институт структуры материи
1 публикация, 11.11%
1
2
3
4
5
6
7

Страны из публикаций

1
2
3
4
5
6
7
Россия, 7, 77.78%
Россия
7 публикаций, 77.78%
Страна не определена, 2, 22.22%
Страна не определена
2 публикации, 22.22%
Италия, 1, 11.11%
Италия
1 публикация, 11.11%
1
2
3
4
5
6
7

Цитирующие организации

1
2
3
4
5
6
7
8
9
Институт физики полупроводников им. А.В. Ржанова СО РАН
9 цитирований, 29.03%
Новосибирский Государственный Университет
5 цитирований, 16.13%
Организация не определена, 4, 12.9%
Организация не определена
4 цитирования, 12.9%
Институт проблем машиноведения РАН
2 цитирования, 6.45%
Институт геологии и минералогии имени В.С. Соболева СО РАН
2 цитирования, 6.45%
Сколковский институт науки и технологий
1 цитирование, 3.23%
Новосибирский государственный технический университет
1 цитирование, 3.23%
Конструкторско-технологический институт научного приборостроения СО РАН
1 цитирование, 3.23%
Нанкинский университет
1 цитирование, 3.23%
Колумбийский университет
1 цитирование, 3.23%
Чаншаский университет науки и технологий
1 цитирование, 3.23%
Центр совместных инноваций передовых микроструктур
1 цитирование, 3.23%
Авейруский университет
1 цитирование, 3.23%
Университет Толидо
1 цитирование, 3.23%
1
2
3
4
5
6
7
8
9

Цитирующие страны

2
4
6
8
10
12
Россия, 11, 35.48%
Россия
11 цитирований, 35.48%
Страна не определена, 4, 12.9%
Страна не определена
4 цитирования, 12.9%
США, 1, 3.23%
США
1 цитирование, 3.23%
Китай, 1, 3.23%
Китай
1 цитирование, 3.23%
Португалия, 1, 3.23%
Португалия
1 цитирование, 3.23%
2
4
6
8
10
12
  • Мы не учитываем публикации, у которых нет DOI.
  • Статистика пересчитывается раз в сутки.
В этом разделе отображаются профили ученых, зарегистрированных на платформе. Чтобы отображался полный список, приглашайте коллег зарегистрироваться.
Должность
Младший научный сотрудник
Тип занятости
Полная
Годы
2022 — нв
Должность
Инженер-исследователь
Тип занятости
Полная
Годы
2017 — 2021