Всего публикаций
5
Всего цитирований
5
Цитирований на публикацию
1
Среднее число публикаций в год
1.67
Среднее число соавторов
4.6
Годы публикаций
2024-2026 (3 года)
h-index
1
i10-index
0
m-index
0.33
o-index
2
g-index
2
w-index
0
Описание метрик
h-index
Учёный имеет индекс h, если h из его N статей цитируются как минимум h раз каждая, в то время как оставшиеся (N - h) статей цитируются не более чем h раз каждая.
i10-index
Число статей автора, получивших не менее 10 ссылок каждая.
m-index
m-индекс ученого численно равен отношению его h-индекса к количеству лет, прошедших с момента первой публикации.
o-index
Среднее геометрическое h-индекса и числа цитирований наиболее цитируемой статьи ученого.
g-index
Для данного множества статей, отсортированного в порядке убывания количества цитирований, которые получили эти статьи, g-индекс это наибольшее число, такое что g самых цитируемых статей получили (суммарно) не менее g2 цитирований.
w-index
Если w статей ученого имеют не менее 10w цитирований каждая и другие статьи меньше, чем 10(w+1) цитирований, то w-индекс исследователя равен w.

Топ-100

Области наук

1
Radiation, 1, 20%
Radiation
1 публикация, 20%
1

Журналы

1
Journal of Vacuum Science and Technology A: Vacuum, Surfaces and Films
1 публикация, 20%
Optical Materials
1 публикация, 20%
Journal of Applied Physics
1 публикация, 20%
Radiation Physics and Chemistry
1 публикация, 20%
Results in Surfaces and Interfaces
1 публикация, 20%
1

Цитирующие журналы

1
2
Radiation Physics and Chemistry
2 цитирования, 40%
Journal of Vacuum Science and Technology A: Vacuum, Surfaces and Films
1 цитирование, 20%
Journal of Applied Physics
1 цитирование, 20%
Materials Today Advances
1 цитирование, 20%
1
2

Цитируемые журналы

5
10
15
20
25
Journal of Applied Physics
23 цитирования, 13.29%
Applied Physics Letters
11 цитирований, 6.36%
Nuclear Instruments and Methods in Physics Research, Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms
7 цитирований, 4.05%
Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena
6 цитирований, 3.47%
Physical Review B
6 цитирований, 3.47%
Vacuum
5 цитирований, 2.89%
ECS Journal of Solid State Science and Technology
4 цитирования, 2.31%
Physics of the Solid State
4 цитирования, 2.31%
Scanning
4 цитирования, 2.31%
Ultramicroscopy
3 цитирования, 1.73%
Physical Review Letters
3 цитирования, 1.73%
Physica Status Solidi (A) Applications and Materials Science
3 цитирования, 1.73%
Physics-Uspekhi
3 цитирования, 1.73%
Applied Surface Science
3 цитирования, 1.73%
Journal Physics D: Applied Physics
3 цитирования, 1.73%
Semiconductor Science and Technology
3 цитирования, 1.73%
Журнал не определён, 2, 1.16%
Журнал не определён
2 цитирования, 1.16%
Journal of Alloys and Compounds
2 цитирования, 1.16%
Journal of Vacuum Science and Technology A: Vacuum, Surfaces and Films
2 цитирования, 1.16%
Optical Materials
2 цитирования, 1.16%
Physica Status Solidi (B): Basic Research
2 цитирования, 1.16%
Semiconductors
2 цитирования, 1.16%
Journal of Crystal Growth
2 цитирования, 1.16%
Journal of Microscopy
2 цитирования, 1.16%
Optics and Spectroscopy (English translation of Optika i Spektroskopiya)
2 цитирования, 1.16%
Technical Physics
2 цитирования, 1.16%
Journal of Electronic Materials
2 цитирования, 1.16%
IEEE Transactions on Nuclear Science
2 цитирования, 1.16%
Surface and Interface Analysis
2 цитирования, 1.16%
Applied Physics Express
2 цитирования, 1.16%
Journal of Surface Investigation
1 цитирование, 0.58%
Materials Science and Engineering: R: Reports
1 цитирование, 0.58%
Surface Science
1 цитирование, 0.58%
Journal of Nanoparticle Research
1 цитирование, 0.58%
Micron
1 цитирование, 0.58%
Applied Physics Reviews
1 цитирование, 0.58%
Japanese Journal of Applied Physics, Part 1: Regular Papers & Short Notes
1 цитирование, 0.58%
Microscopy and Microanalysis
1 цитирование, 0.58%
Journal of Solid State Chemistry
1 цитирование, 0.58%
Journal of Physics: Conference Series
1 цитирование, 0.58%
Journal of Materials Chemistry C
1 цитирование, 0.58%
Solid-State Electronics
1 цитирование, 0.58%
Springer Series in Materials Science
1 цитирование, 0.58%
Advanced Electronic Materials
1 цитирование, 0.58%
Journal of Physics Condensed Matter
1 цитирование, 0.58%
Electronics (Switzerland)
1 цитирование, 0.58%
IEEE Electron Device Letters
1 цитирование, 0.58%
Radiation Measurements
1 цитирование, 0.58%
Journal of Luminescence
1 цитирование, 0.58%
IEEE Transactions on Dielectrics and Electrical Insulation
1 цитирование, 0.58%
Materials Science in Semiconductor Processing
1 цитирование, 0.58%
APL Materials
1 цитирование, 0.58%
Journal of Physical Chemistry C
1 цитирование, 0.58%
Optics Express
1 цитирование, 0.58%
Reports on Progress in Physics
1 цитирование, 0.58%
Springer Series in Optical Sciences
1 цитирование, 0.58%
Microchimica Acta
1 цитирование, 0.58%
Materials Chemistry and Physics
1 цитирование, 0.58%
Applied Physics B: Lasers and Optics
1 цитирование, 0.58%
Scientific Reports
1 цитирование, 0.58%
Applied Physics A: Materials Science and Processing
1 цитирование, 0.58%
Radiation Physics and Chemistry
1 цитирование, 0.58%
Journal of Physics Communications
1 цитирование, 0.58%
Journal of Materials Chemistry A
1 цитирование, 0.58%
Ceramics International
1 цитирование, 0.58%
Nanotechnology
1 цитирование, 0.58%
Nuclear Instruments and Methods in Physics Research, Section A: Accelerators, Spectrometers, Detectors and Associated Equipment
1 цитирование, 0.58%
Journal of Spacecraft and Rockets
1 цитирование, 0.58%
Thin Solid Films
1 цитирование, 0.58%
Ferroelectrics
1 цитирование, 0.58%
Journal of Materials Science: Materials in Electronics
1 цитирование, 0.58%
Superlattices and Microstructures
1 цитирование, 0.58%
Coatings
1 цитирование, 0.58%
Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering
1 цитирование, 0.58%
IEEE Transactions on Electron Devices
1 цитирование, 0.58%
Materials
1 цитирование, 0.58%
phys stat sol (a)
1 цитирование, 0.58%
Materials & Design (1980-2015)
1 цитирование, 0.58%
Soviet Physics Uspekhi
1 цитирование, 0.58%
Journal of Electron Microscopy
1 цитирование, 0.58%
British Journal of Applied Physics
1 цитирование, 0.58%
Condensed Matter
1 цитирование, 0.58%
Shinku
1 цитирование, 0.58%
IEEE Electron Devices Magazine
1 цитирование, 0.58%
5
10
15
20
25

Издатели

1
2
3
Elsevier
3 публикации, 60%
AIP Publishing
1 публикация, 20%
American Vacuum Society
1 публикация, 20%
1
2
3

Организации из публикаций

1
2
3
4
5
Московский государственный университет имени М.В. Ломоносова
5 публикаций, 100%
Физико-технологический институт имени К.А. Валиева
1 публикация, 20%
Институт проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов РАН
1 публикация, 20%
Нижегородский государственный университет им. Н.И. Лобачевского
1 публикация, 20%
1
2
3
4
5

Страны из публикаций

1
2
3
4
5
Россия, 5, 100%
Россия
5 публикаций, 100%
Страна не определена, 1, 20%
Страна не определена
1 публикация, 20%
1
2
3
4
5

Цитирующие организации

1
Организация не определена, 1, 20%
Организация не определена
1 цитирование, 20%
Московский государственный университет имени М.В. Ломоносова
1 цитирование, 20%
Институт проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов РАН
1 цитирование, 20%
Нижегородский государственный университет им. Н.И. Лобачевского
1 цитирование, 20%
Даляньский технологический университет
1 цитирование, 20%
Даляньский морской университет
1 цитирование, 20%
Сяньтаньский университет
1 цитирование, 20%
1

Цитирующие страны

1
2
Страна не определена, 2, 40%
Страна не определена
2 цитирования, 40%
Россия, 2, 40%
Россия
2 цитирования, 40%
Китай, 2, 40%
Китай
2 цитирования, 40%
1
2
  • Мы не учитываем публикации, у которых нет DOI.
  • Статистика пересчитывается раз в сутки.