Open Access
TXRF spectrometry at ion beam excitation
Тип публикации: Journal Article
Дата публикации: 2017-02-21
SJR: 0.187
CiteScore: 1.3
Impact factor: —
ISSN: 17426588, 17426596
General Physics and Astronomy
Краткое описание
The work presents short discussion of TXRF and PIXE methods peculiarities. Taking into account of these peculiarities we elaborate the experimental scheme for TXRF measurements at ion beam excitation of characteristical fluorescence. The scheme is built on base of the planar X-ray waveguide-resonator with specific design. Features of the new experimental method and possibilities of Sokol-3 ion beam analytical complex were used for the method application in real measurements.
Найдено
Ничего не найдено, попробуйте изменить настройки фильтра.
Найдено
Ничего не найдено, попробуйте изменить настройки фильтра.
Топ-30
Журналы
|
1
|
|
|
Instruments and Experimental Techniques
1 публикация, 50%
|
|
|
1
|
Издатели
|
1
|
|
|
Pleiades Publishing
1 публикация, 50%
|
|
|
IntechOpen
1 публикация, 50%
|
|
|
1
|
- Мы не учитываем публикации, у которых нет DOI.
- Статистика публикаций обновляется еженедельно.
Вы ученый?
Создайте профиль, чтобы получать персональные рекомендации коллег, конференций и новых статей.
Метрики
2
Всего цитирований:
2
Цитирований c 2024:
0
Цитировать
ГОСТ |
RIS |
BibTex |
MLA
Цитировать
ГОСТ
Скопировать
Egorov V., Egorov E., Afanasef M. TXRF spectrometry at ion beam excitation // Journal of Physics: Conference Series. 2017. Vol. 808. No. 1. p. 12002.
ГОСТ со всеми авторами (до 50)
Скопировать
Egorov V., Egorov E., Afanasef M. TXRF spectrometry at ion beam excitation // Journal of Physics: Conference Series. 2017. Vol. 808. No. 1. p. 12002.
Цитировать
RIS
Скопировать
TY - JOUR
DO - 10.1088/1742-6596/808/1/012002
UR - https://iopscience.iop.org/article/10.1088/1742-6596/808/1/012002
TI - TXRF spectrometry at ion beam excitation
T2 - Journal of Physics: Conference Series
AU - Egorov, V.
AU - Egorov, E.
AU - Afanasef, M
PY - 2017
DA - 2017/02/21
PB - IOP Publishing
SP - 12002
IS - 1
VL - 808
SN - 1742-6588
SN - 1742-6596
ER -
Цитировать
BibTex (до 50 авторов)
Скопировать
@article{2017_Egorov,
author = {V. Egorov and E. Egorov and M Afanasef},
title = {TXRF spectrometry at ion beam excitation},
journal = {Journal of Physics: Conference Series},
year = {2017},
volume = {808},
publisher = {IOP Publishing},
month = {feb},
url = {https://iopscience.iop.org/article/10.1088/1742-6596/808/1/012002},
number = {1},
pages = {12002},
doi = {10.1088/1742-6596/808/1/012002}
}
Цитировать
MLA
Скопировать
Egorov, V., et al. “TXRF spectrometry at ion beam excitation.” Journal of Physics: Conference Series, vol. 808, no. 1, Feb. 2017, p. 12002. https://iopscience.iop.org/article/10.1088/1742-6596/808/1/012002.