Possibilities of the use of ion-beam methods for the diagnostics of planar nanostructures
Тип публикации: Journal Article
Дата публикации: 2013-07-01
scimago Q4
wos Q4
БС4
SJR: 0.165
CiteScore: 0.8
Impact factor: 0.4
ISSN: 10274510, 18197094
Surfaces, Coatings and Films
Краткое описание
The possibilities of the nondestructive ion-beam diagnostics of planar nanostructures by the Rutherford backscattering (RBS) of H+ and He+ ion beams with energies of 0.9–1.6 MeV is briefly reviewed. The results of the ion-beam testing of Ba1−x Sr x TiO3 deposited onto Si (100), MgO (100), and NdGaO3 (100) single-crystal substrates are discussed. The degree of element inhomogeneity over the thickness of the coatings under study and the level of the diffuse contamination of the films by substrate atoms are determined by means of RBS measurements.
Найдено
Ничего не найдено, попробуйте изменить настройки фильтра.
Найдено
Ничего не найдено, попробуйте изменить настройки фильтра.
Топ-30
Журналы
|
1
|
|
|
Instruments and Experimental Techniques
1 публикация, 50%
|
|
|
Journal of Physics: Conference Series
1 публикация, 50%
|
|
|
1
|
Издатели
|
1
|
|
|
Pleiades Publishing
1 публикация, 50%
|
|
|
IOP Publishing
1 публикация, 50%
|
|
|
1
|
- Мы не учитываем публикации, у которых нет DOI.
- Статистика публикаций обновляется еженедельно.
Вы ученый?
Создайте профиль, чтобы получать персональные рекомендации коллег, конференций и новых статей.
Метрики
2
Всего цитирований:
2
Цитирований c 2025:
0
Цитировать
ГОСТ |
RIS |
BibTex |
MLA
Цитировать
ГОСТ
Скопировать
Egorov V., Egorov, E. V., Afanasev M. S. Possibilities of the use of ion-beam methods for the diagnostics of planar nanostructures // Journal of Surface Investigation. 2013. Vol. 7. No. 4. pp. 640-648.
ГОСТ со всеми авторами (до 50)
Скопировать
Egorov V., Egorov, E. V., Afanasev M. S. Possibilities of the use of ion-beam methods for the diagnostics of planar nanostructures // Journal of Surface Investigation. 2013. Vol. 7. No. 4. pp. 640-648.
Цитировать
RIS
Скопировать
TY - JOUR
DO - 10.1134/S1027451013040083
UR - https://doi.org/10.1134/S1027451013040083
TI - Possibilities of the use of ion-beam methods for the diagnostics of planar nanostructures
T2 - Journal of Surface Investigation
AU - Egorov, V.K.
AU - Egorov,, E. V.
AU - Afanasev, M S
PY - 2013
DA - 2013/07/01
PB - Pleiades Publishing
SP - 640-648
IS - 4
VL - 7
SN - 1027-4510
SN - 1819-7094
ER -
Цитировать
BibTex (до 50 авторов)
Скопировать
@article{2013_Egorov,
author = {V.K. Egorov and E. V. Egorov, and M S Afanasev},
title = {Possibilities of the use of ion-beam methods for the diagnostics of planar nanostructures},
journal = {Journal of Surface Investigation},
year = {2013},
volume = {7},
publisher = {Pleiades Publishing},
month = {jul},
url = {https://doi.org/10.1134/S1027451013040083},
number = {4},
pages = {640--648},
doi = {10.1134/S1027451013040083}
}
Цитировать
MLA
Скопировать
Egorov, V.K., et al. “Possibilities of the use of ion-beam methods for the diagnostics of planar nanostructures.” Journal of Surface Investigation, vol. 7, no. 4, Jul. 2013, pp. 640-648. https://doi.org/10.1134/S1027451013040083.