TXRF Spectrometry in Conditions of Planar X-ray Waveguide-Resonator Application

Тип публикацииBook Chapter
Дата публикации2020-04-02
Для доступа к списку цитирований публикации необходимо авторизоваться.
Для доступа к списку профилей, цитирующих публикацию, необходимо авторизоваться.

Топ-30

Журналы

1
Russian Microelectronics
1 публикация, 50%
Vacuum
1 публикация, 50%
1

Издатели

1
Pleiades Publishing
1 публикация, 50%
Elsevier
1 публикация, 50%
1
  • Мы не учитываем публикации, у которых нет DOI.
  • Статистика публикаций обновляется еженедельно.

Вы ученый?

Создайте профиль, чтобы получать персональные рекомендации коллег, конференций и новых статей.
Метрики
2
Поделиться
Цитировать
ГОСТ |
Цитировать
Egorov V., Egorov, E. V. TXRF Spectrometry in Conditions of Planar X-ray Waveguide-Resonator Application // 21st Century Nanoscience - A Handbook: Advanced Analytic Methods and Instrumentation (Volume Three). 2020. Vol. 3. p. 16-1-16-32.
ГОСТ со всеми авторами (до 50) Скопировать
Egorov V., Egorov, E. V. TXRF Spectrometry in Conditions of Planar X-ray Waveguide-Resonator Application // 21st Century Nanoscience - A Handbook: Advanced Analytic Methods and Instrumentation (Volume Three). 2020. Vol. 3. p. 16-1-16-32.
RIS |
Цитировать
TY - GENERIC
DO - 10.1201/9780429340420-16
UR - https://www.taylorfrancis.com/books/9781000698275/chapters/10.1201/9780429340420-16
TI - TXRF Spectrometry in Conditions of Planar X-ray Waveguide-Resonator Application
T2 - 21st Century Nanoscience - A Handbook: Advanced Analytic Methods and Instrumentation (Volume Three)
AU - Egorov, V.K.
AU - Egorov,, E. V.
PY - 2020
DA - 2020/04/02
PB - Taylor & Francis
SP - 16-1-16-32
VL - 3
ER -
BibTex
Цитировать
BibTex (до 50 авторов) Скопировать
@incollection{2020_Egorov,
author = {V.K. Egorov and E. V. Egorov,},
title = {TXRF Spectrometry in Conditions of Planar X-ray Waveguide-Resonator Application},
publisher = {Taylor & Francis},
year = {2020},
volume = {3},
pages = {16--1--16--32},
month = {apr}
}
Ошибка в публикации?