2006 21st IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems
Вы ученый?
Создайте профиль, чтобы получать персональные рекомендации коллег, конференций и новых статей.
Войти с ORCID
SJR
0.212
Варианты названий
2006 21st IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems
Публикаций
41
Цитирований
364
Индекс Хирша
11
Публикаций
0
Цитирований
58
Топ-3 цитирующих журналов
IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems
(13 цитирований)
Lecture Notes in Computer Science
(13 цитирований)
Journal of Electronic Testing: Theory and Applications (JETTA)
(9 цитирований)
Наиболее цитируемые за 5 лет
Найдено
Ничего не найдено, попробуйте изменить настройки фильтра.
Найдено
Ничего не найдено, попробуйте изменить настройки фильтра.
Топ-100
Цитирующие журналы
Цитирующие издатели
|
20
40
60
80
100
120
140
160
|
|
|
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
153 цитирования, 42.03%
|
|
|
Springer Nature
46 цитирований, 12.64%
|
|
|
Elsevier
19 цитирований, 5.22%
|
|
|
Association for Computing Machinery (ACM)
8 цитирований, 2.2%
|
|
|
Institution of Engineering and Technology (IET)
5 цитирований, 1.37%
|
|
|
Wiley
4 цитирования, 1.1%
|
|
|
Institute of Electronics, Information and Communications Engineers (IEICE)
4 цитирования, 1.1%
|
|
|
Hindawi Limited
3 цитирования, 0.82%
|
|
|
IGI Global
3 цитирования, 0.82%
|
|
|
Taylor & Francis
2 цитирования, 0.55%
|
|
|
MDPI
2 цитирования, 0.55%
|
|
|
Emerald
1 цитирование, 0.27%
|
|
|
1 цитирование, 0.27%
|
|
|
American Association for the Advancement of Science (AAAS)
1 цитирование, 0.27%
|
|
|
IOP Publishing
1 цитирование, 0.27%
|
|
|
proceedings of the international symposium on multiple-valued logic
1 цитирование, 0.27%
|
|
|
Thomas Telford
1 цитирование, 0.27%
|
|
|
SAE International
1 цитирование, 0.27%
|
|
|
20
40
60
80
100
120
140
160
|