1999 IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings. 37th Annual (Cat. No.99CH36296)

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)

Создайте профиль, чтобы получать персональные рекомендации коллег, конференций и новых статей.

Варианты названий

за всё время с 2021

Публикаций

Цитирований

Индекс Хирша

Публикаций

Цитирований

Топ-3 цитирующих журналов

Microelectronics Reliability (5 цитирований)

IEEE Transactions on Device and Materials Reliability (2 цитирования)

IEEE Transactions on Electron Devices (2 цитирования)

Название публикации

	1 2 3 4 5
Microelectronics Reliability	Microelectronics Reliability, 5, 41.67% Microelectronics Reliability 5 цитирований, 41.67%
IEEE Transactions on Device and Materials Reliability	IEEE Transactions on Device and Materials Reliability, 2, 16.67% IEEE Transactions on Device and Materials Reliability 2 цитирования, 16.67%
IEEE Transactions on Electron Devices	IEEE Transactions on Electron Devices, 2, 16.67% IEEE Transactions on Electron Devices 2 цитирования, 16.67%
25th IEEE VLSI Test Symmposium (VTS'07)	25th IEEE VLSI Test Symmposium (VTS'07), 1, 8.33% 25th IEEE VLSI Test Symmposium (VTS'07) 1 цитирование, 8.33%
	1 2 3 4 5

	1 2 3 4 5 6 7
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)	Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 7, 58.33% Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) 7 цитирований, 58.33%
Elsevier	Elsevier, 5, 41.67% Elsevier 5 цитирований, 41.67%
	1 2 3 4 5 6 7