Андре Адам Уильям Креттон

Adam William Cretton André
Публикаций
5
Цитирований
0
Индекс Хирша
1
Найдено 
Найдено 
Найдено 
Всего публикаций
5
Всего цитирований
0
Цитирований на публикацию
0
Среднее число публикаций в год
2.5
Среднее число соавторов
8.6
Годы публикаций
2025-2026 (2 года)
h-index
1
i10-index
0
m-index
0.5
o-index
2
g-index
2
w-index
0
Описание метрик
h-index
Учёный имеет индекс h, если h из его N статей цитируются как минимум h раз каждая, в то время как оставшиеся (N - h) статей цитируются не более чем h раз каждая.
i10-index
Число статей автора, получивших не менее 10 ссылок каждая.
m-index
m-индекс ученого численно равен отношению его h-индекса к количеству лет, прошедших с момента первой публикации.
o-index
Среднее геометрическое h-индекса и числа цитирований наиболее цитируемой статьи ученого.
g-index
Для данного множества статей, отсортированного в порядке убывания количества цитирований, которые получили эти статьи, g-индекс это наибольшее число, такое что g самых цитируемых статей получили (суммарно) не менее g2 цитирований.
w-index
Если w статей ученого имеют не менее 10w цитирований каждая и другие статьи меньше, чем 10(w+1) цитирований, то w-индекс исследователя равен w.

Топ-100

Журналы

1
2
Additive Manufacturing
2 публикации, 40%
Materials Research Letters
1 публикация, 20%
Journal of Applied Crystallography
1 публикация, 20%
Scientific Reports
1 публикация, 20%
1
2

Цитирующие журналы

1
Materials Research Letters
1 цитирование, 16.67%
Advanced Science
1 цитирование, 16.67%
Mechanics of Materials
1 цитирование, 16.67%
Scripta Materialia
1 цитирование, 16.67%
MRS Communications
1 цитирование, 16.67%
npj Materials Degradation
1 цитирование, 16.67%
1

Издатели

1
2
Elsevier
2 публикации, 40%
Springer Nature
1 публикация, 20%
Taylor & Francis
1 публикация, 20%
International Union of Crystallography (IUCr)
1 публикация, 20%
1
2

Организации из публикаций

1
2
3
Технический университет Дании
3 публикации, 60%
Организация не определена, 2, 40%
Организация не определена
2 публикации, 40%
European Synchrotron Radiation Facility
2 публикации, 40%
Швейцарская высшая техническая школа Цюриха
1 публикация, 20%
Институт Пауля Шеррера
1 публикация, 20%
1
2
3

Страны из публикаций

1
2
3
Дания, 3, 60%
Дания
3 публикации, 60%
Страна не определена, 2, 40%
Страна не определена
2 публикации, 40%
Франция, 2, 40%
Франция
2 публикации, 40%
Швейцария, 1, 20%
Швейцария
1 публикация, 20%
1
2
3

Цитирующие организации

1
2
3
European Synchrotron Radiation Facility
3 цитирования, 0%
Институт Пауля Шеррера
2 цитирования, 0%
Организация не определена, 1, 0%
Организация не определена
1 цитирование, 0%
Лундский университет
1 цитирование, 0%
Технический университет Дании
1 цитирование, 0%
Университет Джонса Хопкинса
1 цитирование, 0%
Технологический институт Джорджии
1 цитирование, 0%
Университет штата Пенсильвания
1 цитирование, 0%
Национальная ускорительная лаборатория SLAC
1 цитирование, 0%
Стэнфордский университет
1 цитирование, 0%
Национальный институт стандартов и технологий
1 цитирование, 0%
Калифорнийский университет в Лос-Анджелесе
1 цитирование, 0%
Калифорнийский университет в Санта-Барбаре
1 цитирование, 0%
Берлинский центр материалов и энергии имени Гельмгольца
1 цитирование, 0%
Иллинойсский университет в Урбане-Шампейне
1 цитирование, 0%
Мичиганский университет
1 цитирование, 0%
Университет Миннесоты
1 цитирование, 0%
Брауновский университет
1 цитирование, 0%
Монтануниверситет Леобен
1 цитирование, 0%
Пенсильванский университет
1 цитирование, 0%
Университет Хьюстона
1 цитирование, 0%
1
2
3

Цитирующие страны

1
2
3
Франция, 3, 0%
Франция
3 цитирования, 0%
США, 2, 0%
США
2 цитирования, 0%
Швейцария, 2, 0%
Швейцария
2 цитирования, 0%
Страна не определена, 1, 0%
Страна не определена
1 цитирование, 0%
Германия, 1, 0%
Германия
1 цитирование, 0%
Австрия, 1, 0%
Австрия
1 цитирование, 0%
Дания, 1, 0%
Дания
1 цитирование, 0%
Швеция, 1, 0%
Швеция
1 цитирование, 0%
1
2
3
  • Мы не учитываем публикации, у которых нет DOI.
  • Статистика пересчитывается раз в сутки.