Лаборатория физики и технологии полупроводниковых наногетероструктур для СВЧ-электроники и фотоники (Научная группа технологии гетероструктур)

Нанотехнологии Физика конденсированного состояния Материаловедение

0000-0002-7976-9597

42762051600

E-8522-2014

Заведующий

Пащенко Александр Сергеевич

к.ф.-м.н., доц.

Публикаций

Цитирований

222

Индекс Хирша

0000-0002-7976-9597

42762051600

E-8522-2014

Необходимо авторизоваться.

Сайт лаборатории

Лаборатория создана 9 января 2019 г. Основные направления деятельности - Изучение электрофизических свойств разработанных полупроводниковых наногетероструктур. - Изучение структурных, оптических и фотоэлектрических свойств разработанных полупроводниковых твердых растворов. - Разработка изовалентно легированных потенциальных барьеров на основе твердых растворов соединений III- V группы - Термодинамический анализ спинодальных распадов твердых растворов на их устойчивость и упорядочение. - Разработка методов синтеза из жидкой фазы, молекулярных, ионных и атомарных пучков полупроводниковых твердых растворов, а также создания на их основе гетероструктур для оптоэлектронных и фотонных устройств. - Разработка новых полупроводниковых материалов на основе твердых растворов соединений III- V группы. Использование многокомпонентных твердых растворов на основе полупроводниковых соединений AIIIBV в гетероструктурах вызывает все больший интерес исследователей из-за уникальных возможностей этих материалов. Выгодным преимуществом пятикомпонентных твердых растворов перед тройными и четверными является возможность независимого изменения ширины запрещенной зоны и параметра кристаллической решетки. Однако, твердые растворы характеризуются наличием областей спинодальных распадов, что приводит к ограничениям их состава и ширины запрещенной зоны. Увеличение количества компонентов в составе твердых растворов, несомненно, ведет к изменению структурных и оптических свойств таких гетеростурктур и способов их конструирования. Поэтому синтез новых материалов на основе твердых растворов и создание на их основе полупроводниковых гетероинтерфейсов является важной задачей для физики конденсированного состояния и физики полупроводниковых приборов. В этой связи основные направления деятельности лаборатории включают:

Рентгеновская дифракция
Атомно-силовая микроскопия (АСМ)
ИК-спектроскопия
Спектроскопия КР (Рамановская)

Спектрометр комбинационного рассеяния света Ramos 120

Компактный двухканальный конфокальный рамановский микроскоп RAMOS S120 предназначен для микроспектральных измерений с возможностями на уровне систем высокого класса.

Микроскоп RAMOS S120 имеет жесткую конструкцию без движущихся частей, которая не требует регулировки, обладает как высокой чувствительностью, так и высоким пространственным разрешением.

Широкие возможности, высокая надежность и компактность позволяют использовать RAMOS S120 для решения широкого спектра научных и промышленных задач.

Александр Пащенко

Заведующий

Олег Девицкий 🥼 🤝

Ведущий научный сотрудник

Иван Касьянов

Младший научный сотрудник

Всего публикаций

Всего цитирований

225

Цитирований на публикацию

4.25

Среднее число публикаций в год

3.79

Годы публикаций

2011-2024 (14 лет)

h-index

i10-index

m-index

0.71

o-index

g-index

w-index

Описание метрик

h-index

Учёный имеет индекс h, если h из его N статей цитируются как минимум h раз каждая, в то время как оставшиеся (N - h) статей цитируются не более чем h раз каждая.

https://www.pnas.org/doi/full/10.1073/pnas.0507655102

i10-index

Число статей автора, получивших не менее 10 ссылок каждая.

https://scholar.googleblog.com/2011/11/google-scholar-citations-open-to-all.html

m-index

m-индекс ученого численно равен отношению его h-индекса к количеству лет, прошедших с момента первой публикации.

https://harzing.com/publications/white-papers/reflections-on-the-h-index

o-index

Среднее геометрическое h-индекса и числа цитирований наиболее цитируемой статьи ученого.

https://arxiv.org/abs/1511.01545

g-index

Для данного множества статей, отсортированного в порядке убывания количества цитирований, которые получили эти статьи, g-индекс это наибольшее число, такое что g самых цитируемых статей получили (суммарно) не менее g² цитирований.

https://doi.org/10.1007/s11192-006-0144-7

w-index

Если w статей ученого имеют не менее 10w цитирований каждая и другие статьи меньше, чем 10(w+1) цитирований, то w-индекс исследователя равен w.

https://doi.org/10.1002/asi.21276

Топ-100

Области наук

	2 4 6 8 10 12 14
Condensed Matter Physics	Condensed Matter Physics, 14, 26.42% Condensed Matter Physics 14 публикаций, 26.42%
Electronic, Optical and Magnetic Materials	Electronic, Optical and Magnetic Materials, 13, 24.53% Electronic, Optical and Magnetic Materials 13 публикаций, 24.53%
Physics and Astronomy (miscellaneous)	Physics and Astronomy (miscellaneous), 12, 22.64% Physics and Astronomy (miscellaneous) 12 публикаций, 22.64%
Surfaces, Coatings and Films	Surfaces, Coatings and Films, 10, 18.87% Surfaces, Coatings and Films 10 публикаций, 18.87%
Materials Chemistry	Materials Chemistry, 9, 16.98% Materials Chemistry 9 публикаций, 16.98%
Metals and Alloys	Metals and Alloys, 9, 16.98% Metals and Alloys 9 публикаций, 16.98%
Atomic and Molecular Physics, and Optics	Atomic and Molecular Physics, and Optics, 8, 15.09% Atomic and Molecular Physics, and Optics 8 публикаций, 15.09%
Inorganic Chemistry	Inorganic Chemistry, 7, 13.21% Inorganic Chemistry 7 публикаций, 13.21%
General Chemical Engineering	General Chemical Engineering, 7, 13.21% General Chemical Engineering 7 публикаций, 13.21%
General Materials Science	General Materials Science, 6, 11.32% General Materials Science 6 публикаций, 11.32%
General Physics and Astronomy	General Physics and Astronomy, 3, 5.66% General Physics and Astronomy 3 публикации, 5.66%
Materials Science (miscellaneous)	Materials Science (miscellaneous), 2, 3.77% Materials Science (miscellaneous) 2 публикации, 3.77%
Electrical and Electronic Engineering	Electrical and Electronic Engineering, 2, 3.77% Electrical and Electronic Engineering 2 публикации, 3.77%
Mechanical Engineering	Mechanical Engineering, 2, 3.77% Mechanical Engineering 2 публикации, 3.77%
Surfaces and Interfaces	Surfaces and Interfaces, 2, 3.77% Surfaces and Interfaces 2 публикации, 3.77%
General Chemistry	General Chemistry, 1, 1.89% General Chemistry 1 публикация, 1.89%
Computer Science Applications	Computer Science Applications, 1, 1.89% Computer Science Applications 1 публикация, 1.89%
General Medicine	General Medicine, 1, 1.89% General Medicine 1 публикация, 1.89%
Industrial and Manufacturing Engineering	Industrial and Manufacturing Engineering, 1, 1.89% Industrial and Manufacturing Engineering 1 публикация, 1.89%
General Engineering	General Engineering, 1, 1.89% General Engineering 1 публикация, 1.89%
Mechanics of Materials	Mechanics of Materials, 1, 1.89% Mechanics of Materials 1 публикация, 1.89%
Information Systems	Information Systems, 1, 1.89% Information Systems 1 публикация, 1.89%
Mathematics (miscellaneous)	Mathematics (miscellaneous), 1, 1.89% Mathematics (miscellaneous) 1 публикация, 1.89%
Business and International Management	Business and International Management, 1, 1.89% Business and International Management 1 публикация, 1.89%
	2 4 6 8 10 12 14

Журналы

	2 4 6 8 10 12
Technical Physics Letters	Technical Physics Letters, 12, 22.64% Technical Physics Letters 12 публикаций, 22.64%
Journal of Surface Investigation	Journal of Surface Investigation, 8, 15.09% Journal of Surface Investigation 8 публикаций, 15.09%
Inorganic Materials	Inorganic Materials, 7, 13.21% Inorganic Materials 7 публикаций, 13.21%
Semiconductors	Semiconductors, 7, 13.21% Semiconductors 7 публикаций, 13.21%
Physics of the Solid State	Physics of the Solid State, 3, 5.66% Physics of the Solid State 3 публикации, 5.66%
Thin Solid Films	Thin Solid Films, 2, 3.77% Thin Solid Films 2 публикации, 3.77%
Beilstein Journal of Nanotechnology	Beilstein Journal of Nanotechnology, 2, 3.77% Beilstein Journal of Nanotechnology 2 публикации, 3.77%
Materials Science Forum	Materials Science Forum, 1, 1.89% Materials Science Forum 1 публикация, 1.89%
Nanotechnologies in Russia	Nanotechnologies in Russia, 1, 1.89% Nanotechnologies in Russia 1 публикация, 1.89%
Journal of Physics: Conference Series	Journal of Physics: Conference Series, 1, 1.89% Journal of Physics: Conference Series 1 публикация, 1.89%
Vacuum	Vacuum, 1, 1.89% Vacuum 1 публикация, 1.89%
Journal of Nanotechnology	Journal of Nanotechnology, 1, 1.89% Journal of Nanotechnology 1 публикация, 1.89%
Technical Physics	Technical Physics, 1, 1.89% Technical Physics 1 публикация, 1.89%
Crystallography Reports	Crystallography Reports, 1, 1.89% Crystallography Reports 1 публикация, 1.89%
Kondensirovannye Sredy Mezhfaznye Granitsy (Condensed Matter and Interphases)	Kondensirovannye Sredy Mezhfaznye Granitsy (Condensed Matter and Interphases), 1, 1.89% Kondensirovannye Sredy Mezhfaznye Granitsy (Condensed Matter and Interphases) 1 публикация, 1.89%
Nanosystems: Physics, Chemistry, Mathematics	Nanosystems: Physics, Chemistry, Mathematics, 1, 1.89% Nanosystems: Physics, Chemistry, Mathematics 1 публикация, 1.89%
Scientific and technical journal of information technologies mechanics and optics	Scientific and technical journal of information technologies mechanics and optics, 1, 1.89% Scientific and technical journal of information technologies mechanics and optics 1 публикация, 1.89%
Письма в журнал технической физики	Письма в журнал технической физики, 1, 1.89% Письма в журнал технической физики 1 публикация, 1.89%
	2 4 6 8 10 12

Цитирующие журналы

	5 10 15 20 25 30 35 40
Solid State Phenomena	Solid State Phenomena, 37, 16.44% Solid State Phenomena 37 цитирований, 16.44%
Semiconductors	Semiconductors, 28, 12.44% Semiconductors 28 цитирований, 12.44%
Journal of Physics: Conference Series	Journal of Physics: Conference Series, 21, 9.33% Journal of Physics: Conference Series 21 цитирование, 9.33%
Inorganic Materials	Inorganic Materials, 19, 8.44% Inorganic Materials 19 цитирований, 8.44%
Technical Physics Letters	Technical Physics Letters, 17, 7.56% Technical Physics Letters 17 цитирований, 7.56%
Journal of Surface Investigation	Journal of Surface Investigation, 15, 6.67% Journal of Surface Investigation 15 цитирований, 6.67%
Beilstein Journal of Nanotechnology	Beilstein Journal of Nanotechnology, 10, 4.44% Beilstein Journal of Nanotechnology 10 цитирований, 4.44%
Materials Science Forum	Materials Science Forum, 8, 3.56% Materials Science Forum 8 цитирований, 3.56%
Nanotechnologies in Russia	Nanotechnologies in Russia, 6, 2.67% Nanotechnologies in Russia 6 цитирований, 2.67%
IOP Conference Series: Materials Science and Engineering	IOP Conference Series: Materials Science and Engineering, 6, 2.67% IOP Conference Series: Materials Science and Engineering 6 цитирований, 2.67%
Thin Solid Films	Thin Solid Films, 6, 2.67% Thin Solid Films 6 цитирований, 2.67%
Ceramics International	Ceramics International, 4, 1.78% Ceramics International 4 цитирования, 1.78%
Journal of Nanotechnology	Journal of Nanotechnology, 4, 1.78% Journal of Nanotechnology 4 цитирования, 1.78%
Журнал не определён	Журнал не определён, 3, 1.33% Журнал не определён 3 цитирования, 1.33%
Vacuum	Vacuum, 3, 1.33% Vacuum 3 цитирования, 1.33%
Physics of the Solid State	Physics of the Solid State, 3, 1.33% Physics of the Solid State 3 цитирования, 1.33%
Crystallography Reports	Crystallography Reports, 3, 1.33% Crystallography Reports 3 цитирования, 1.33%
Journal of Vacuum Science and Technology A: Vacuum, Surfaces and Films	Journal of Vacuum Science and Technology A: Vacuum, Surfaces and Films, 2, 0.89% Journal of Vacuum Science and Technology A: Vacuum, Surfaces and Films 2 цитирования, 0.89%
AIP Conference Proceedings	AIP Conference Proceedings, 2, 0.89% AIP Conference Proceedings 2 цитирования, 0.89%
Science in the South of Russia	Science in the South of Russia, 2, 0.89% Science in the South of Russia 2 цитирования, 0.89%
EUREKA, Physics and Engineering	EUREKA, Physics and Engineering, 1, 0.44% EUREKA, Physics and Engineering 1 цитирование, 0.44%
Micromachines	Micromachines, 1, 0.44% Micromachines 1 цитирование, 0.44%
ACS applied materials & interfaces	ACS applied materials & interfaces, 1, 0.44% ACS applied materials & interfaces 1 цитирование, 0.44%
Journal of Alloys and Compounds	Journal of Alloys and Compounds, 1, 0.44% Journal of Alloys and Compounds 1 цитирование, 0.44%
Journal of Contemporary Physics	Journal of Contemporary Physics, 1, 0.44% Journal of Contemporary Physics 1 цитирование, 0.44%
Solar Energy Materials and Solar Cells	Solar Energy Materials and Solar Cells, 1, 0.44% Solar Energy Materials and Solar Cells 1 цитирование, 0.44%
Materials Science-Poland	Materials Science-Poland, 1, 0.44% Materials Science-Poland 1 цитирование, 0.44%
AIP Advances	AIP Advances, 1, 0.44% AIP Advances 1 цитирование, 0.44%
Physica Status Solidi (A) Applications and Materials Science	Physica Status Solidi (A) Applications and Materials Science, 1, 0.44% Physica Status Solidi (A) Applications and Materials Science 1 цитирование, 0.44%
Physica Status Solidi (B): Basic Research	Physica Status Solidi (B): Basic Research, 1, 0.44% Physica Status Solidi (B): Basic Research 1 цитирование, 0.44%
Journal of Applied Physics	Journal of Applied Physics, 1, 0.44% Journal of Applied Physics 1 цитирование, 0.44%
Applied Solar Energy (English translation of Geliotekhnika)	Applied Solar Energy (English translation of Geliotekhnika), 1, 0.44% Applied Solar Energy (English translation of Geliotekhnika) 1 цитирование, 0.44%
Journal of Physics Communications	Journal of Physics Communications, 1, 0.44% Journal of Physics Communications 1 цитирование, 0.44%
Journal Physics D: Applied Physics	Journal Physics D: Applied Physics, 1, 0.44% Journal Physics D: Applied Physics 1 цитирование, 0.44%
Critical Reviews in Solid State and Materials Sciences	Critical Reviews in Solid State and Materials Sciences, 1, 0.44% Critical Reviews in Solid State and Materials Sciences 1 цитирование, 0.44%
Optics and Spectroscopy (English translation of Optika i Spektroskopiya)	Optics and Spectroscopy (English translation of Optika i Spektroskopiya), 1, 0.44% Optics and Spectroscopy (English translation of Optika i Spektroskopiya) 1 цитирование, 0.44%
Technical Physics	Technical Physics, 1, 0.44% Technical Physics 1 цитирование, 0.44%
ACS Omega	ACS Omega, 1, 0.44% ACS Omega 1 цитирование, 0.44%
Semiconductor Science and Technology	Semiconductor Science and Technology, 1, 0.44% Semiconductor Science and Technology 1 цитирование, 0.44%
Russian Microelectronics	Russian Microelectronics, 1, 0.44% Russian Microelectronics 1 цитирование, 0.44%
Journal of the American Ceramic Society	Journal of the American Ceramic Society, 1, 0.44% Journal of the American Ceramic Society 1 цитирование, 0.44%
Izmeritel`naya Tekhnika	Izmeritel`naya Tekhnika, 1, 0.44% Izmeritel`naya Tekhnika 1 цитирование, 0.44%
Global Nuclear Safety	Global Nuclear Safety, 1, 0.44% Global Nuclear Safety 1 цитирование, 0.44%
Pharmacophore	Pharmacophore, 1, 0.44% Pharmacophore 1 цитирование, 0.44%
2022 Conference of Russian Young Researchers in Electrical and Electronic Engineering (ElConRus)	2022 Conference of Russian Young Researchers in Electrical and Electronic Engineering (ElConRus), 1, 0.44% 2022 Conference of Russian Young Researchers in Electrical and Electronic Engineering (ElConRus) 1 цитирование, 0.44%
Computational nanotechnology	Computational nanotechnology, 1, 0.44% Computational nanotechnology 1 цитирование, 0.44%

	5 10 15 20 25 30 35 40

Цитируемые журналы

	10 20 30 40 50 60 70 80
Semiconductors	Semiconductors, 76, 9.88% Semiconductors 76 цитирований, 9.88%
Inorganic Materials	Inorganic Materials, 75, 9.75% Inorganic Materials 75 цитирований, 9.75%
Applied Physics Letters	Applied Physics Letters, 57, 7.41% Applied Physics Letters 57 цитирований, 7.41%
Journal of Applied Physics	Journal of Applied Physics, 47, 6.11% Journal of Applied Physics 47 цитирований, 6.11%
Technical Physics Letters	Technical Physics Letters, 41, 5.33% Technical Physics Letters 41 цитирование, 5.33%
Journal of Crystal Growth	Journal of Crystal Growth, 28, 3.64% Journal of Crystal Growth 28 цитирований, 3.64%
Журнал не определён	Журнал не определён, 26, 3.38% Журнал не определён 26 цитирований, 3.38%
Physical Review B	Physical Review B, 23, 2.99% Physical Review B 23 цитирования, 2.99%
Nanoscale Research Letters	Nanoscale Research Letters, 21, 2.73% Nanoscale Research Letters 21 цитирование, 2.73%
Thin Solid Films	Thin Solid Films, 20, 2.6% Thin Solid Films 20 цитирований, 2.6%
Journal of Surface Investigation	Journal of Surface Investigation, 19, 2.47% Journal of Surface Investigation 19 цитирований, 2.47%
Semiconductor Science and Technology	Semiconductor Science and Technology, 15, 1.95% Semiconductor Science and Technology 15 цитирований, 1.95%
IEEE Journal of Photovoltaics	IEEE Journal of Photovoltaics, 15, 1.95% IEEE Journal of Photovoltaics 15 цитирований, 1.95%
Japanese Journal of Applied Physics, Part 1: Regular Papers & Short Notes	Japanese Journal of Applied Physics, Part 1: Regular Papers & Short Notes, 12, 1.56% Japanese Journal of Applied Physics, Part 1: Regular Papers & Short Notes 12 цитирований, 1.56%
Russian Journal of Physical Chemistry A	Russian Journal of Physical Chemistry A, 10, 1.3% Russian Journal of Physical Chemistry A 10 цитирований, 1.3%
Progress in Photovoltaics: Research and Applications	Progress in Photovoltaics: Research and Applications, 10, 1.3% Progress in Photovoltaics: Research and Applications 10 цитирований, 1.3%
Nanotechnology	Nanotechnology, 8, 1.04% Nanotechnology 8 цитирований, 1.04%
Journal of Electronic Materials	Journal of Electronic Materials, 8, 1.04% Journal of Electronic Materials 8 цитирований, 1.04%
Solar Energy Materials and Solar Cells	Solar Energy Materials and Solar Cells, 7, 0.91% Solar Energy Materials and Solar Cells 7 цитирований, 0.91%
Physics of the Solid State	Physics of the Solid State, 7, 0.91% Physics of the Solid State 7 цитирований, 0.91%
Technical Physics	Technical Physics, 7, 0.91% Technical Physics 7 цитирований, 0.91%
Springer Series in Materials Science	Springer Series in Materials Science, 6, 0.78% Springer Series in Materials Science 6 цитирований, 0.78%
Applied Surface Science	Applied Surface Science, 6, 0.78% Applied Surface Science 6 цитирований, 0.78%
Applied Physics B: Lasers and Optics	Applied Physics B: Lasers and Optics, 6, 0.78% Applied Physics B: Lasers and Optics 6 цитирований, 0.78%
Scientific Reports	Scientific Reports, 6, 0.78% Scientific Reports 6 цитирований, 0.78%
Beilstein Journal of Nanotechnology	Beilstein Journal of Nanotechnology, 6, 0.78% Beilstein Journal of Nanotechnology 6 цитирований, 0.78%
Optics Letters	Optics Letters, 5, 0.65% Optics Letters 5 цитирований, 0.65%
IEEE Photonics Technology Letters	IEEE Photonics Technology Letters, 5, 0.65% IEEE Photonics Technology Letters 5 цитирований, 0.65%
Surface and Coatings Technology	Surface and Coatings Technology, 5, 0.65% Surface and Coatings Technology 5 цитирований, 0.65%
Journal Physics D: Applied Physics	Journal Physics D: Applied Physics, 5, 0.65% Journal Physics D: Applied Physics 5 цитирований, 0.65%
Microelectronic Engineering	Microelectronic Engineering, 5, 0.65% Microelectronic Engineering 5 цитирований, 0.65%
Journal of Alloys and Compounds	Journal of Alloys and Compounds, 4, 0.52% Journal of Alloys and Compounds 4 цитирования, 0.52%
Journal of Lightwave Technology	Journal of Lightwave Technology, 4, 0.52% Journal of Lightwave Technology 4 цитирования, 0.52%
Crystals	Crystals, 4, 0.52% Crystals 4 цитирования, 0.52%
Journal of Materials Science: Materials in Electronics	Journal of Materials Science: Materials in Electronics, 4, 0.52% Journal of Materials Science: Materials in Electronics 4 цитирования, 0.52%
Nature Photonics	Nature Photonics, 4, 0.52% Nature Photonics 4 цитирования, 0.52%
Crystallography Reports	Crystallography Reports, 4, 0.52% Crystallography Reports 4 цитирования, 0.52%
Materials	Materials, 4, 0.52% Materials 4 цитирования, 0.52%
International Journal of Photoenergy	International Journal of Photoenergy, 3, 0.39% International Journal of Photoenergy 3 цитирования, 0.39%
Nuclear Instruments and Methods in Physics Research, Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms	Nuclear Instruments and Methods in Physics Research, Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms, 3, 0.39% Nuclear Instruments and Methods in Physics Research, Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms 3 цитирования, 0.39%
Journal of the Electrochemical Society	Journal of the Electrochemical Society, 3, 0.39% Journal of the Electrochemical Society 3 цитирования, 0.39%
IEEE Journal of Quantum Electronics	IEEE Journal of Quantum Electronics, 3, 0.39% IEEE Journal of Quantum Electronics 3 цитирования, 0.39%
Optical Materials	Optical Materials, 3, 0.39% Optical Materials 3 цитирования, 0.39%
Materials Science and Engineering B: Solid-State Materials for Advanced Technology	Materials Science and Engineering B: Solid-State Materials for Advanced Technology, 3, 0.39% Materials Science and Engineering B: Solid-State Materials for Advanced Technology 3 цитирования, 0.39%
Physica Status Solidi (B): Basic Research	Physica Status Solidi (B): Basic Research, 3, 0.39% Physica Status Solidi (B): Basic Research 3 цитирования, 0.39%
Nature Materials	Nature Materials, 3, 0.39% Nature Materials 3 цитирования, 0.39%
Critical Reviews in Solid State and Materials Sciences	Critical Reviews in Solid State and Materials Sciences, 3, 0.39% Critical Reviews in Solid State and Materials Sciences 3 цитирования, 0.39%
Applied Sciences (Switzerland)	Applied Sciences (Switzerland), 3, 0.39% Applied Sciences (Switzerland) 3 цитирования, 0.39%
AIP Conference Proceedings	AIP Conference Proceedings, 3, 0.39% AIP Conference Proceedings 3 цитирования, 0.39%
Crystal Research and Technology	Crystal Research and Technology, 3, 0.39% Crystal Research and Technology 3 цитирования, 0.39%
Advanced Materials	Advanced Materials, 3, 0.39% Advanced Materials 3 цитирования, 0.39%
IEEE Transactions on Electron Devices	IEEE Transactions on Electron Devices, 3, 0.39% IEEE Transactions on Electron Devices 3 цитирования, 0.39%
Journal of Vacuum Science & Technology B: Microelectronics Processing and Phenomena	Journal of Vacuum Science & Technology B: Microelectronics Processing and Phenomena, 3, 0.39% Journal of Vacuum Science & Technology B: Microelectronics Processing and Phenomena 3 цитирования, 0.39%
Quantum Electronics	Quantum Electronics, 2, 0.26% Quantum Electronics 2 цитирования, 0.26%
Physical Review Letters	Physical Review Letters, 2, 0.26% Physical Review Letters 2 цитирования, 0.26%
Physical Review Materials	Physical Review Materials, 2, 0.26% Physical Review Materials 2 цитирования, 0.26%
Advanced Functional Materials	Advanced Functional Materials, 2, 0.26% Advanced Functional Materials 2 цитирования, 0.26%
IEEE Journal of Selected Topics in Quantum Electronics	IEEE Journal of Selected Topics in Quantum Electronics, 2, 0.26% IEEE Journal of Selected Topics in Quantum Electronics 2 цитирования, 0.26%
Optics Express	Optics Express, 2, 0.26% Optics Express 2 цитирования, 0.26%
Optical Materials Express	Optical Materials Express, 2, 0.26% Optical Materials Express 2 цитирования, 0.26%
Vacuum	Vacuum, 2, 0.26% Vacuum 2 цитирования, 0.26%
Journal of Materials Science	Journal of Materials Science, 2, 0.26% Journal of Materials Science 2 цитирования, 0.26%
Crystal Growth and Design	Crystal Growth and Design, 2, 0.26% Crystal Growth and Design 2 цитирования, 0.26%
Physica E: Low-Dimensional Systems and Nanostructures	Physica E: Low-Dimensional Systems and Nanostructures, 2, 0.26% Physica E: Low-Dimensional Systems and Nanostructures 2 цитирования, 0.26%
Nature Energy	Nature Energy, 2, 0.26% Nature Energy 2 цитирования, 0.26%
Journal of Nanotechnology	Journal of Nanotechnology, 2, 0.26% Journal of Nanotechnology 2 цитирования, 0.26%
Open Physics	Open Physics, 2, 0.26% Open Physics 2 цитирования, 0.26%
Atomic Data and Nuclear Data Tables	Atomic Data and Nuclear Data Tables, 2, 0.26% Atomic Data and Nuclear Data Tables 2 цитирования, 0.26%
Superlattices and Microstructures	Superlattices and Microstructures, 2, 0.26% Superlattices and Microstructures 2 цитирования, 0.26%
Opto-electronics Review	Opto-electronics Review, 2, 0.26% Opto-electronics Review 2 цитирования, 0.26%
Journal of Vacuum Science and Technology B	Journal of Vacuum Science and Technology B, 2, 0.26% Journal of Vacuum Science and Technology B 2 цитирования, 0.26%
Applied Physics Express	Applied Physics Express, 2, 0.26% Applied Physics Express 2 цитирования, 0.26%
Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering	Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering, 2, 0.26% Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering 2 цитирования, 0.26%
physica status solidi (c)	physica status solidi (c), 2, 0.26% physica status solidi (c) 2 цитирования, 0.26%
Electronics and Communications in Japan (Part II Electronics)	Electronics and Communications in Japan (Part II Electronics), 2, 0.26% Electronics and Communications in Japan (Part II Electronics) 2 цитирования, 0.26%
Energy Harvesting and Systems	Energy Harvesting and Systems, 2, 0.26% Energy Harvesting and Systems 2 цитирования, 0.26%
Photovoltaics Bulletin	Photovoltaics Bulletin, 2, 0.26% Photovoltaics Bulletin 2 цитирования, 0.26%
Nanotechnologies in Russia	Nanotechnologies in Russia, 1, 0.13% Nanotechnologies in Russia 1 цитирование, 0.13%
Annual Review of Materials Research	Annual Review of Materials Research, 1, 0.13% Annual Review of Materials Research 1 цитирование, 0.13%
Surface Science Reports	Surface Science Reports, 1, 0.13% Surface Science Reports 1 цитирование, 0.13%
Nature Communications	Nature Communications, 1, 0.13% Nature Communications 1 цитирование, 0.13%
Progress in Quantum Electronics	Progress in Quantum Electronics, 1, 0.13% Progress in Quantum Electronics 1 цитирование, 0.13%
Materials Research Express	Materials Research Express, 1, 0.13% Materials Research Express 1 цитирование, 0.13%
Bulletin of the Polish Academy of Sciences: Technical Sciences	Bulletin of the Polish Academy of Sciences: Technical Sciences, 1, 0.13% Bulletin of the Polish Academy of Sciences: Technical Sciences 1 цитирование, 0.13%
Solid-State Electronics	Solid-State Electronics, 1, 0.13% Solid-State Electronics 1 цитирование, 0.13%
IEEE Electron Device Letters	IEEE Electron Device Letters, 1, 0.13% IEEE Electron Device Letters 1 цитирование, 0.13%
JETP Letters	JETP Letters, 1, 0.13% JETP Letters 1 цитирование, 0.13%
Physica Status Solidi - Rapid Research Letters	Physica Status Solidi - Rapid Research Letters, 1, 0.13% Physica Status Solidi - Rapid Research Letters 1 цитирование, 0.13%
AIP Advances	AIP Advances, 1, 0.13% AIP Advances 1 цитирование, 0.13%
Journal of Luminescence	Journal of Luminescence, 1, 0.13% Journal of Luminescence 1 цитирование, 0.13%
Energy Procedia	Energy Procedia, 1, 0.13% Energy Procedia 1 цитирование, 0.13%
Science	Science, 1, 0.13% Science 1 цитирование, 0.13%
Optics and Laser Technology	Optics and Laser Technology, 1, 0.13% Optics and Laser Technology 1 цитирование, 0.13%
Zeitschrift fur Naturforschung - Section B Journal of Chemical Sciences	Zeitschrift fur Naturforschung - Section B Journal of Chemical Sciences, 1, 0.13% Zeitschrift fur Naturforschung - Section B Journal of Chemical Sciences 1 цитирование, 0.13%
Reports on Progress in Physics	Reports on Progress in Physics, 1, 0.13% Reports on Progress in Physics 1 цитирование, 0.13%
Nanomaterials	Nanomaterials, 1, 0.13% Nanomaterials 1 цитирование, 0.13%
Progress in Crystal Growth and Characterization of Materials	Progress in Crystal Growth and Characterization of Materials, 1, 0.13% Progress in Crystal Growth and Characterization of Materials 1 цитирование, 0.13%
Zeitschrift fur Physikalische Chemie	Zeitschrift fur Physikalische Chemie, 1, 0.13% Zeitschrift fur Physikalische Chemie 1 цитирование, 0.13%
Nano Letters	Nano Letters, 1, 0.13% Nano Letters 1 цитирование, 0.13%
Springer Series in Optical Sciences	Springer Series in Optical Sciences, 1, 0.13% Springer Series in Optical Sciences 1 цитирование, 0.13%

	10 20 30 40 50 60 70 80

Издатели

	5 10 15 20 25 30 35 40
Pleiades Publishing	Pleiades Publishing, 40, 75.47% Pleiades Publishing 40 публикаций, 75.47%
Elsevier	Elsevier, 3, 5.66% Elsevier 3 публикации, 5.66%
Beilstein-Institut	Beilstein-Institut, 2, 3.77% Beilstein-Institut 2 публикации, 3.77%
ITMO University	ITMO University, 2, 3.77% ITMO University 2 публикации, 3.77%
Trans Tech Publications	Trans Tech Publications, 1, 1.89% Trans Tech Publications 1 публикация, 1.89%
IOP Publishing	IOP Publishing, 1, 1.89% IOP Publishing 1 публикация, 1.89%
Voronezh State University	Voronezh State University, 1, 1.89% Voronezh State University 1 публикация, 1.89%
Hindawi Limited	Hindawi Limited, 1, 1.89% Hindawi Limited 1 публикация, 1.89%
Ioffe Institute Russian Academy of Sciences	Ioffe Institute Russian Academy of Sciences, 1, 1.89% Ioffe Institute Russian Academy of Sciences 1 публикация, 1.89%
	5 10 15 20 25 30 35 40

Организации из публикаций

	5 10 15 20 25 30 35 40 45 50
Южный научный центр РАН	Южный научный центр РАН, 49, 92.45% Южный научный центр РАН 49 публикаций, 92.45%
Южно-Российский государственный политехнический университет (НПИ) имени М. И. Платова	Южно-Российский государственный политехнический университет (НПИ) имени М. И. Платова, 24, 45.28% Южно-Российский государственный политехнический университет (НПИ) имени М. И. Платова 24 публикации, 45.28%
Северо-Кавказский федеральный университет	Северо-Кавказский федеральный университет, 10, 18.87% Северо-Кавказский федеральный университет 10 публикаций, 18.87%
Организация не определена	Организация не определена, 3, 5.66% Организация не определена 3 публикации, 5.66%
Кубанский государственный университет	Кубанский государственный университет, 3, 5.66% Кубанский государственный университет 3 публикации, 5.66%
Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН	Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, 1, 1.89% Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН 1 публикация, 1.89%
Университет Экс-Марсель	Университет Экс-Марсель, 1, 1.89% Университет Экс-Марсель 1 публикация, 1.89%
Технический университет Ильменау	Технический университет Ильменау, 1, 1.89% Технический университет Ильменау 1 публикация, 1.89%
	5 10 15 20 25 30 35 40 45 50

Страны из публикаций

	10 20 30 40 50
Россия	Россия, 50, 94.34% Россия 50 публикаций, 94.34%
Страна не определена	Страна не определена, 5, 9.43% Страна не определена 5 публикаций, 9.43%
Германия	Германия, 1, 1.89% Германия 1 публикация, 1.89%
Франция	Франция, 1, 1.89% Франция 1 публикация, 1.89%
	10 20 30 40 50

Цитирующие организации

Цитирующие страны

	10 20 30 40 50 60 70 80
Россия	Россия, 75, 33.33% Россия 75 цитирований, 33.33%
Страна не определена	Страна не определена, 10, 4.44% Страна не определена 10 цитирований, 4.44%
Узбекистан	Узбекистан, 7, 3.11% Узбекистан 7 цитирований, 3.11%
США	США, 3, 1.33% США 3 цитирования, 1.33%
Китай	Китай, 3, 1.33% Китай 3 цитирования, 1.33%
Германия	Германия, 2, 0.89% Германия 2 цитирования, 0.89%
Франция	Франция, 2, 0.89% Франция 2 цитирования, 0.89%
Украина	Украина, 2, 0.89% Украина 2 цитирования, 0.89%
Индия	Индия, 2, 0.89% Индия 2 цитирования, 0.89%
Литва	Литва, 2, 0.89% Литва 2 цитирования, 0.89%
Япония	Япония, 2, 0.89% Япония 2 цитирования, 0.89%
Казахстан	Казахстан, 1, 0.44% Казахстан 1 цитирование, 0.44%
Португалия	Португалия, 1, 0.44% Португалия 1 цитирование, 0.44%
Армения	Армения, 1, 0.44% Армения 1 цитирование, 0.44%
Бангладеш	Бангладеш, 1, 0.44% Бангладеш 1 цитирование, 0.44%
Испания	Испания, 1, 0.44% Испания 1 цитирование, 0.44%
Канада	Канада, 1, 0.44% Канада 1 цитирование, 0.44%
Мексика	Мексика, 1, 0.44% Мексика 1 цитирование, 0.44%
Республика Корея	Республика Корея, 1, 0.44% Республика Корея 1 цитирование, 0.44%
Саудовская Аравия	Саудовская Аравия, 1, 0.44% Саудовская Аравия 1 цитирование, 0.44%
Туркменистан	Туркменистан, 1, 0.44% Туркменистан 1 цитирование, 0.44%
Турция	Турция, 1, 0.44% Турция 1 цитирование, 0.44%
	10 20 30 40 50 60 70 80

Мы не учитываем публикации, у которых нет DOI.
Статистика пересчитывается раз в сутки.

Направления исследований

Импульсное лазерное напыление многокомпонентных тонких пленок III-V-Bi

Синтезированы твердые растворы GaInAsSbBi с различным содержанием Bi на подложках n-GaSb с разориентацией 6° между плоскостями (100) и (111)А. Методами просвечивающей электронной микроскопии и рентгеновской дифракции установлено, что пленки имеют поликристаллическую структуру. Показано, что в пленках с меньшим содержанием Bi толщина переходного аморфного слоя на гетерогранице «слой-подложка» уменьшается.