Лаборатория занимается проектированием и разработкой устройств наноэлектроники: спинтронных приборов, вакуумных наноэлектронных устройств, сенсорных элементов, МЭМС, а также поисковыми работами в области рентгеновской литографии.

  1. Математическое и физическое моделирование
  2. Микромагнитное моделирование
  3. Атомистическое моделирование
  4. Приборно-технологическое моделирование
  5. Молекулярная динамика и квантово-химические расчеты
  6. Квантово-механические ab initio вычисления в квантовой химии и физике твердого тела
Глеб Демин 🥼 🤝
Заведующий
Рындина Татьяна Сергеевна
Татьяна Рындина
Ведущий Инженер
Ким Павел Павлович
Павел Ким
Инженер
Лобанов Богдан Вячеславович
Богдан Лобанов
Лаборант-исследователь
Всего публикаций
57
Всего цитирований
149
Цитирований на публикацию
2.61
Среднее число публикаций в год
4.38
Годы публикаций
2012-2024 (13 лет)
h-index
7
i10-index
4
m-index
0.54
o-index
12
g-index
10
w-index
1
Описание метрик
h-index
Учёный имеет индекс h, если h из его N статей цитируются как минимум h раз каждая, в то время как оставшиеся (N - h) статей цитируются не более чем h раз каждая.
i10-index
Число статей автора, получивших не менее 10 ссылок каждая.
m-index
m-индекс ученого численно равен отношению его h-индекса к количеству лет, прошедших с момента первой публикации.
o-index
Среднее геометрическое h-индекса и числа цитирований наиболее цитируемой статьи ученого.
g-index
Для данного множества статей, отсортированного в порядке убывания количества цитирований, которые получили эти статьи, g-индекс это наибольшее число, такое что g самых цитируемых статей получили (суммарно) не менее g2 цитирований.
w-index
Если w статей ученого имеют не менее 10w цитирований каждая и другие статьи меньше, чем 10(w+1) цитирований, то w-индекс исследователя равен w.

Топ-100

Области наук

1
2
3
4
5
6
7
8
9
Electronic, Optical and Magnetic Materials, 9, 15.79%
Electronic, Optical and Magnetic Materials
9 публикаций, 15.79%
Condensed Matter Physics, 9, 15.79%
Condensed Matter Physics
9 публикаций, 15.79%
General Physics and Astronomy, 6, 10.53%
General Physics and Astronomy
6 публикаций, 10.53%
Physics and Astronomy (miscellaneous), 5, 8.77%
Physics and Astronomy (miscellaneous)
5 публикаций, 8.77%
Atomic and Molecular Physics, and Optics, 4, 7.02%
Atomic and Molecular Physics, and Optics
4 публикации, 7.02%
Materials Chemistry, 3, 5.26%
Materials Chemistry
3 публикации, 5.26%
Surfaces, Coatings and Films, 3, 5.26%
Surfaces, Coatings and Films
3 публикации, 5.26%
Electrical and Electronic Engineering, 3, 5.26%
Electrical and Electronic Engineering
3 публикации, 5.26%
General Materials Science, 2, 3.51%
General Materials Science
2 публикации, 3.51%
General Mathematics, 2, 3.51%
General Mathematics
2 публикации, 3.51%
Instrumentation, 2, 3.51%
Instrumentation
2 публикации, 3.51%
Metals and Alloys, 1, 1.75%
Metals and Alloys
1 публикация, 1.75%
General Chemistry, 1, 1.75%
General Chemistry
1 публикация, 1.75%
General Medicine, 1, 1.75%
General Medicine
1 публикация, 1.75%
Chemistry (miscellaneous), 1, 1.75%
Chemistry (miscellaneous)
1 публикация, 1.75%
Process Chemistry and Technology, 1, 1.75%
Process Chemistry and Technology
1 публикация, 1.75%
Computer Science (miscellaneous), 1, 1.75%
Computer Science (miscellaneous)
1 публикация, 1.75%
General Engineering, 1, 1.75%
General Engineering
1 публикация, 1.75%
1
2
3
4
5
6
7
8
9

Журналы

1
2
3
4
5
International Conference on Micro- and Nano-Electronics 2018
5 публикаций, 8.77%
Technical Physics
4 публикации, 7.02%
2021 34th International Vacuum Nanoelectronics Conference (IVNC)
4 публикации, 7.02%
Bulletin of the Lebedev Physics Institute
3 публикации, 5.26%
Semiconductors
3 публикации, 5.26%
Solid State Phenomena
2 публикации, 3.51%
Journal of Physics: Conference Series
2 публикации, 3.51%
2018 IEEE Conference of Russian Young Researchers in Electrical and Electronic Engineering (EIConRus)
2 публикации, 3.51%
2020 33rd International Vacuum Nanoelectronics Conference (IVNC)
2 публикации, 3.51%
2019 IEEE Sensors Applications Symposium (SAS)
2 публикации, 3.51%
2020 7th All-Russian Microwave Conference (RMC)
2 публикации, 3.51%
Journal of Surface Investigation
1 публикация, 1.75%
Nanotechnologies in Russia
1 публикация, 1.75%
JETP Letters
1 публикация, 1.75%
EPJ Web of Conferences
1 публикация, 1.75%
Solid State Communications
1 публикация, 1.75%
Journal of Experimental and Theoretical Physics
1 публикация, 1.75%
Advances in Condensed Matter Physics
1 публикация, 1.75%
Acta Physica Polonica A
1 публикация, 1.75%
Journal of Siberian Federal University. Mathematics & Physics
1 публикация, 1.75%
Bulletin of the Russian Academy of Sciences: Physics
1 публикация, 1.75%
Symmetry
1 публикация, 1.75%
Sensors and Actuators, A: Physical
1 публикация, 1.75%
Russian Microelectronics
1 публикация, 1.75%
Journal of Vacuum Science and Technology B
1 публикация, 1.75%
2020 IEEE Conference of Russian Young Researchers in Electrical and Electronic Engineering (EIConRus)
1 публикация, 1.75%
2018 31st International Vacuum Nanoelectronics Conference (IVNC)
1 публикация, 1.75%
2018 IEEE Sensors Applications Symposium (SAS)
1 публикация, 1.75%
2016 International Siberian Conference on Control and Communications (SIBCON)
1 публикация, 1.75%
2022 IEEE 23rd International Conference of Young Professionals in Electron Devices and Materials (EDM)
1 публикация, 1.75%
2021 IEEE 22nd International Conference of Young Professionals in Electron Devices and Materials (EDM)
1 публикация, 1.75%
2020 21st International Conference of Young Specialists on Micro/Nanotechnologies and Electron Devices (EDM)
1 публикация, 1.75%
1
2
3
4
5

Цитирующие журналы

5
10
15
20
25
30
Technical Physics
27 цитирований, 18%
Журнал не определён, 13, 8.67%
Журнал не определён
13 цитирований, 8.67%
IEEE Sensors Journal
5 цитирований, 3.33%
Journal of Vacuum Science and Technology B
5 цитирований, 3.33%
2021 34th International Vacuum Nanoelectronics Conference (IVNC)
4 цитирования, 2.67%
International Conference on Micro- and Nano-Electronics 2018
4 цитирования, 2.67%
Nanomaterials
3 цитирования, 2%
Sensors and Actuators, A: Physical
3 цитирования, 2%
Russian Microelectronics
3 цитирования, 2%
Journal of Physics: Conference Series
2 цитирования, 1.33%
JETP Letters
2 цитирования, 1.33%
Semiconductors
2 цитирования, 1.33%
Physics of Metals and Metallography
2 цитирования, 1.33%
Processes
2 цитирования, 1.33%
AIP Conference Proceedings
2 цитирования, 1.33%
Bulletin of the Russian Academy of Sciences: Physics
2 цитирования, 1.33%
Symmetry
2 цитирования, 1.33%
Vestnik of Samara University Natural Science Series
2 цитирования, 1.33%
2018 IEEE Conference of Russian Young Researchers in Electrical and Electronic Engineering (EIConRus)
2 цитирования, 1.33%
2019 IEEE Sensors Applications Symposium (SAS)
2 цитирования, 1.33%
2021 IEEE 22nd International Conference of Young Professionals in Electron Devices and Materials (EDM)
2 цитирования, 1.33%
Advanced Materials Technologies
1 цитирование, 0.67%
IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing
1 цитирование, 0.67%
Journal of Surface Investigation
1 цитирование, 0.67%
Ultramicroscopy
1 цитирование, 0.67%
Low Temperature Physics
1 цитирование, 0.67%
Measurement: Journal of the International Measurement Confederation
1 цитирование, 0.67%
Micromachines
1 цитирование, 0.67%
ACS applied materials & interfaces
1 цитирование, 0.67%
Analytical Sciences
1 цитирование, 0.67%
Journal of Materials Chemistry C
1 цитирование, 0.67%
Journal of Intelligent and Fuzzy Systems
1 цитирование, 0.67%
Journal of Physics Condensed Matter
1 цитирование, 0.67%
IEEE Transactions on Industrial Electronics
1 цитирование, 0.67%
IEEE Transactions on Magnetics
1 цитирование, 0.67%
Mathematics
1 цитирование, 0.67%
The Analyst
1 цитирование, 0.67%
Journal of the European Ceramic Society
1 цитирование, 0.67%
Mechanics of Solids
1 цитирование, 0.67%
Communications in Computer and Information Science
1 цитирование, 0.67%
Physics-Uspekhi
1 цитирование, 0.67%
Results in Engineering
1 цитирование, 0.67%
Review of Scientific Instruments
1 цитирование, 0.67%
Vacuum
1 цитирование, 0.67%
Journal of Robotics and Mechatronics
1 цитирование, 0.67%
E3S Web of Conferences
1 цитирование, 0.67%
Plasma Chemistry and Plasma Processing
1 цитирование, 0.67%
Journal of Applied Physics
1 цитирование, 0.67%
EPJ Web of Conferences
1 цитирование, 0.67%
Physical Review E
1 цитирование, 0.67%
Advances in Condensed Matter Physics
1 цитирование, 0.67%
Journal of Imaging
1 цитирование, 0.67%
Thin Solid Films
1 цитирование, 0.67%
Sensors
1 цитирование, 0.67%
Journal of Energy Storage
1 цитирование, 0.67%
Physica Scripta
1 цитирование, 0.67%
Russian Journal of Nondestructive Testing
1 цитирование, 0.67%
Optoelectronics Letters
1 цитирование, 0.67%
Journal of Microelectromechanical Systems
1 цитирование, 0.67%
Lobachevskii Journal of Mathematics
1 цитирование, 0.67%
Nano Energy
1 цитирование, 0.67%
F1000Research
1 цитирование, 0.67%
Crystallography Reports
1 цитирование, 0.67%
IEEE Transactions on Electron Devices
1 цитирование, 0.67%
IEEE Access
1 цитирование, 0.67%
Physical Review B
1 цитирование, 0.67%
Advanced Intelligent Systems
1 цитирование, 0.67%
ACS Applied Electronic Materials
1 цитирование, 0.67%
Nanoindustry Russia
1 цитирование, 0.67%
Keldysh Institute Preprints
1 цитирование, 0.67%
International Journal of Extreme Manufacturing
1 цитирование, 0.67%
Известия Российской академии наук Серия физическая
1 цитирование, 0.67%
Engineering Research Express
1 цитирование, 0.67%
Springer Proceedings in Physics
1 цитирование, 0.67%
IEEE CANADIAN JOURNAL OF ELECTRICAL AND COMPUTER ENGINEERING
1 цитирование, 0.67%
2020 IEEE Conference of Russian Young Researchers in Electrical and Electronic Engineering (EIConRus)
1 цитирование, 0.67%
2020 33rd International Vacuum Nanoelectronics Conference (IVNC)
1 цитирование, 0.67%
2022 IEEE 23rd International Conference of Young Professionals in Electron Devices and Materials (EDM)
1 цитирование, 0.67%
2020 7th All-Russian Microwave Conference (RMC)
1 цитирование, 0.67%
Moore and More
1 цитирование, 0.67%
5
10
15
20
25
30

Цитируемые журналы

5
10
15
20
25
30
35
40
Журнал не определён, 40, 5.71%
Журнал не определён
40 цитирований, 5.71%
Physical Review B
40 цитирований, 5.71%
Applied Physics Letters
33 цитирования, 4.71%
Journal of Applied Physics
32 цитирования, 4.57%
Sensors and Actuators, A: Physical
19 цитирований, 2.71%
Journal of Vacuum Science and Technology B
19 цитирований, 2.71%
Nature Materials
18 цитирований, 2.57%
Physical Review Letters
17 цитирований, 2.43%
IEEE Transactions on Magnetics
14 цитирований, 2%
Nano Letters
12 цитирований, 1.71%
Journal of Magnetism and Magnetic Materials
12 цитирований, 1.71%
Nature
12 цитирований, 1.71%
Technical Physics
12 цитирований, 1.71%
Micromachines
11 цитирований, 1.57%
Nature Communications
11 цитирований, 1.57%
Nanotechnology
11 цитирований, 1.57%
Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering
11 цитирований, 1.57%
Journal of Physics Condensed Matter
10 цитирований, 1.43%
IEEE Transactions on Nanotechnology
9 цитирований, 1.29%
Journal Physics D: Applied Physics
9 цитирований, 1.29%
Journal of Micromechanics and Microengineering
9 цитирований, 1.29%
Journal of Vacuum Science & Technology B: Microelectronics Processing and Phenomena
9 цитирований, 1.29%
Nature Nanotechnology
8 цитирований, 1.14%
AIP Advances
8 цитирований, 1.14%
IEEE Sensors Journal
8 цитирований, 1.14%
Solid State Communications
8 цитирований, 1.14%
IEEE Transactions on Electron Devices
8 цитирований, 1.14%
Journal of Surface Investigation
7 цитирований, 1%
Physics Letters, Section A: General, Atomic and Solid State Physics
6 цитирований, 0.86%
Applied Optics
6 цитирований, 0.86%
Physical Review A
6 цитирований, 0.86%
Sensors
6 цитирований, 0.86%
Surface Science
5 цитирований, 0.71%
Applied Surface Science
5 цитирований, 0.71%
Microelectronic Engineering
5 цитирований, 0.71%
Journal of Microelectromechanical Systems
5 цитирований, 0.71%
JETP Letters
4 цитирования, 0.57%
Physics-Uspekhi
4 цитирования, 0.57%
Review of Scientific Instruments
4 цитирования, 0.57%
IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques
4 цитирования, 0.57%
Scientific Reports
4 цитирования, 0.57%
Bulletin of the Lebedev Physics Institute
4 цитирования, 0.57%
Nature Electronics
4 цитирования, 0.57%
Nanoscale Research Letters
4 цитирования, 0.57%
Uspekhi Fizicheskih Nauk
4 цитирования, 0.57%
Solid State Phenomena
3 цитирования, 0.43%
Nanoscale
3 цитирования, 0.43%
Ultramicroscopy
3 цитирования, 0.43%
Quantum Electronics
3 цитирования, 0.43%
Journal of Vacuum Science and Technology A: Vacuum, Surfaces and Films
3 цитирования, 0.43%
Science
3 цитирования, 0.43%
Journal of Physical Chemistry C
3 цитирования, 0.43%
IEEE Journal of Solid-State Circuits
3 цитирования, 0.43%
Procedia Engineering
3 цитирования, 0.43%
European Physical Journal B
3 цитирования, 0.43%
Russian Microelectronics
3 цитирования, 0.43%
Materials Today: Proceedings
3 цитирования, 0.43%
2018 IEEE Conference of Russian Young Researchers in Electrical and Electronic Engineering (EIConRus)
3 цитирования, 0.43%
2018 IEEE Sensors Applications Symposium (SAS)
3 цитирования, 0.43%
International Conference on Micro- and Nano-Electronics 2018
3 цитирования, 0.43%
Proceedings of the National Academy of Sciences of the United States of America
2 цитирования, 0.29%
Low Temperature Physics
2 цитирования, 0.29%
Optics Letters
2 цитирования, 0.29%
Applied Physics Reviews
2 цитирования, 0.29%
ACS applied materials & interfaces
2 цитирования, 0.29%
Physical Chemistry Chemical Physics
2 цитирования, 0.29%
Materials Today
2 цитирования, 0.29%
Biosensors
2 цитирования, 0.29%
Journal of Plasma Physics
2 цитирования, 0.29%
Reviews of Modern Physics
2 цитирования, 0.29%
European Physical Journal D
2 цитирования, 0.29%
Optics Express
2 цитирования, 0.29%
Physics of the Solid State
2 цитирования, 0.29%
Microsystem Technologies
2 цитирования, 0.29%
IBM Journal of Research and Development
2 цитирования, 0.29%
Journal of Experimental and Theoretical Physics
2 цитирования, 0.29%
Physical Review Applied
2 цитирования, 0.29%
Springer Series in Advanced Microelectronics
2 цитирования, 0.29%
Journal of Nanotechnology
2 цитирования, 0.29%
Nanophotonics
2 цитирования, 0.29%
Thin Solid Films
2 цитирования, 0.29%
Nature Photonics
2 цитирования, 0.29%
Journal of Physical and Chemical Reference Data
2 цитирования, 0.29%
Journal of Superconductivity and Novel Magnetism
2 цитирования, 0.29%
Annalen der Physik
2 цитирования, 0.29%
phys stat sol (a)
2 цитирования, 0.29%
Journal of Nanoscience and Nanotechnology
2 цитирования, 0.29%
Zeitschrift für Physik A Hadrons and Nuclei
2 цитирования, 0.29%
JALA Journal of the Association for Laboratory Automation
2 цитирования, 0.29%
2018 31st International Vacuum Nanoelectronics Conference (IVNC)
2 цитирования, 0.29%
New Journal of Physics
1 цитирование, 0.14%
Nanotechnologies in Russia
1 цитирование, 0.14%
ACS Applied Nano Materials
1 цитирование, 0.14%
IEEE Journal of the Electron Devices Society
1 цитирование, 0.14%
Japanese Journal of Applied Physics, Part 1: Regular Papers & Short Notes
1 цитирование, 0.14%
Microscopy and Microanalysis
1 цитирование, 0.14%
International Journal of Engineering Science
1 цитирование, 0.14%
Microelectronics Journal
1 цитирование, 0.14%
Journal of Electronic Packaging, Transactions of the ASME
1 цитирование, 0.14%
Journal of Communications Technology and Electronics
1 цитирование, 0.14%
5
10
15
20
25
30
35
40

Издатели

2
4
6
8
10
12
14
16
18
20
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
19 публикаций, 33.33%
Pleiades Publishing
16 публикаций, 28.07%
SPIE-Intl Soc Optical Eng
5 публикаций, 8.77%
Elsevier
2 публикации, 3.51%
Trans Tech Publications
2 публикации, 3.51%
IOP Publishing
2 публикации, 3.51%
EDP Sciences
1 публикация, 1.75%
MDPI
1 публикация, 1.75%
Siberian Federal University
1 публикация, 1.75%
American Vacuum Society
1 публикация, 1.75%
Hindawi Limited
1 публикация, 1.75%
Institute of Physics, Polish Academy of Sciences
1 публикация, 1.75%
2
4
6
8
10
12
14
16
18
20

Организации из публикаций

5
10
15
20
25
30
35
40
45
50
Национальный исследовательский университет «Московский институт электронной техники»
47 публикаций, 82.46%
Московский физико-технический институт
10 публикаций, 17.54%
Организация не определена, 9, 15.79%
Организация не определена
9 публикаций, 15.79%
Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН
4 публикации, 7.02%
Институт физики микроструктур РАН
4 публикации, 7.02%
Московский авиационный институт
3 публикации, 5.26%
Институт общей физики имени А.М. Прохорова РАН
3 публикации, 5.26%
Московский государственный технический университет им. Н. Э. Баумана
2 публикации, 3.51%
Физический институт им. П.Н. Лебедева РАН
2 публикации, 3.51%
Институт машиноведения им. А.А. Благонравова РАН
1 публикация, 1.75%
Институт проблем механики им. А.Ю. Ишлинского РАН
1 публикация, 1.75%
Нижегородский государственный университет им. Н.И. Лобачевского
1 публикация, 1.75%
Санкт-Петербургский Политехнический Университет Петра Великого
1 публикация, 1.75%
Национальный исследовательский центр "Курчатовский институт"
1 публикация, 1.75%
Институт прикладной математики имени М. В. Келдыша РАН
1 публикация, 1.75%
Государственный университет управления
1 публикация, 1.75%
5
10
15
20
25
30
35
40
45
50

Страны из публикаций

10
20
30
40
50
60
Россия, 53, 92.98%
Россия
53 публикации, 92.98%
Страна не определена, 4, 7.02%
Страна не определена
4 публикации, 7.02%
10
20
30
40
50
60

Цитирующие организации

5
10
15
20
25
30
35
40
Национальный исследовательский университет «Московский институт электронной техники»
37 цитирований, 24.83%
Организация не определена, 26, 17.45%
Организация не определена
26 цитирований, 17.45%
Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН
7 цитирований, 4.7%
Московский физико-технический институт
6 цитирований, 4.03%
Институт физики микроструктур РАН
6 цитирований, 4.03%
Институт проблем механики им. А.Ю. Ишлинского РАН
6 цитирований, 4.03%
Юго-Восточный университет
5 цитирований, 3.36%
Институт прикладной математики имени М. В. Келдыша РАН
4 цитирования, 2.68%
Университет Китайской академии наук
3 цитирования, 2.01%
Московский государственный университет имени М.В. Ломоносова
2 цитирования, 1.34%
Московский государственный технический университет им. Н. Э. Баумана
2 цитирования, 1.34%
Институт общей физики имени А.М. Прохорова РАН
2 цитирования, 1.34%
Институт машиноведения им. А.А. Благонравова РАН
2 цитирования, 1.34%
Институт проблем проектирования в микроэлектронике
2 цитирования, 1.34%
Санкт-Петербургский Политехнический Университет Петра Великого
2 цитирования, 1.34%
Бэйханский университет
2 цитирования, 1.34%
Нанкинский университет аэронавтики и астронавтики
2 цитирования, 1.34%
Нанкинский университет информационных наук и технологий
2 цитирования, 1.34%
Университет имени Сунь Ятсена
2 цитирования, 1.34%
Шаньдунский университет
2 цитирования, 1.34%
Федеральный университет Санта-Катарины
2 цитирования, 1.34%
Цзянсиский сельскохозяйственный университет
2 цитирования, 1.34%
Национальный центр нанонауки и технологий Китайской академии наук
2 цитирования, 1.34%
Федеральный университет Баии
2 цитирования, 1.34%
Сколковский институт науки и технологий
1 цитирование, 0.67%
Национальный исследовательский ядерный университет «МИФИ»
1 цитирование, 0.67%
Московский авиационный институт
1 цитирование, 0.67%
Физический институт им. П.Н. Лебедева РАН
1 цитирование, 0.67%
Курчатовский комплекс "Кристаллография и Фотоника"
1 цитирование, 0.67%
Институт радиотехники и электроники имени В.А. Котельникова РАН
1 цитирование, 0.67%
Нижегородский государственный университет им. Н.И. Лобачевского
1 цитирование, 0.67%
Институт кристаллографии имени А. В. Шубникова
1 цитирование, 0.67%
Московский политехнический университет
1 цитирование, 0.67%
Российский квантовый центр
1 цитирование, 0.67%
Институт нанотехнологий микроэлектроники РАН
1 цитирование, 0.67%
Южно-Уральский федеральный научный центр минералогии и геоэкологии УрО РАН
1 цитирование, 0.67%
Научно-технологический университет имени короля Абдаллы
1 цитирование, 0.67%
Университет Тегерана
1 цитирование, 0.67%
Научно-технологический университет Ирана
1 цитирование, 0.67%
Индийский технологический институт в Мадрасе
1 цитирование, 0.67%
Университет Пуны
1 цитирование, 0.67%
Национальный технологический институт в Силчаре
1 цитирование, 0.67%
Сехендский технологический университет
1 цитирование, 0.67%
Шанхайский университет Цзяотун
1 цитирование, 0.67%
Международный институт информационных технологий в Хайдарабаде
1 цитирование, 0.67%
Манипалская академия высшего образования
1 цитирование, 0.67%
Даляньский технологический университет
1 цитирование, 0.67%
Китайский университет наук о Земле в Ухане
1 цитирование, 0.67%
Уханьский университет
1 цитирование, 0.67%
Неаполитанский университет имени Фридриха II
1 цитирование, 0.67%
Южно-Китайский сельскохозяйственный университет
1 цитирование, 0.67%
Хунаньский педагогический университет
1 цитирование, 0.67%
Университет Тяньгун
1 цитирование, 0.67%
Сиань Цзяотун-Ливерпульский университет
1 цитирование, 0.67%
Токийский научный университет
1 цитирование, 0.67%
Массачусетский технологический институт
1 цитирование, 0.67%
Тамканский университет
1 цитирование, 0.67%
Университет Юань Цзе
1 цитирование, 0.67%
Университет Цукубы
1 цитирование, 0.67%
Аньхойский политехнический университет
1 цитирование, 0.67%
Университет Циндао
1 цитирование, 0.67%
Шаньдунский университет технологий и бизнеса
1 цитирование, 0.67%
Университет Ханьян
1 цитирование, 0.67%
Гонконгский университет науки и технологий
1 цитирование, 0.67%
Калифорнийский университет в Беркли
1 цитирование, 0.67%
Калифорнийский университет в Лос-Анджелесе
1 цитирование, 0.67%
Чжэнчжоуский университет
1 цитирование, 0.67%
Хэнаньский политехнический университет
1 цитирование, 0.67%
Нагойский университет
1 цитирование, 0.67%
Университет Центральной Флориды
1 цитирование, 0.67%
Университет Уотерлу
1 цитирование, 0.67%
Сучжоуский институт нанотехнологий и нанобионики Китайской академии наук
1 цитирование, 0.67%
Брауншвейгский технический университет
1 цитирование, 0.67%
Университет Ивате
1 цитирование, 0.67%
Mitsubishi Heavy Industries
1 цитирование, 0.67%
Йоркский университет
1 цитирование, 0.67%
Университет штата Айдахо в Бойсе
1 цитирование, 0.67%
Международный университет бизнеса, сельского хозяйства и технологий
1 цитирование, 0.67%
Университет Суррея
1 цитирование, 0.67%
Институт микроэлектроники, Китайская академия наук
1 цитирование, 0.67%
Синьцзянский технический институт физики и химии, Китайская академия наук
1 цитирование, 0.67%
Чанчуньский университет науки и технологий
1 цитирование, 0.67%
5
10
15
20
25
30
35
40

Цитирующие страны

10
20
30
40
50
60
70
Россия, 64, 42.95%
Россия
64 цитирования, 42.95%
Китай, 27, 18.12%
Китай
27 цитирований, 18.12%
Страна не определена, 12, 8.05%
Страна не определена
12 цитирований, 8.05%
США, 4, 2.68%
США
4 цитирования, 2.68%
Индия, 4, 2.68%
Индия
4 цитирования, 2.68%
Япония, 4, 2.68%
Япония
4 цитирования, 2.68%
Бразилия, 3, 2.01%
Бразилия
3 цитирования, 2.01%
Украина, 2, 1.34%
Украина
2 цитирования, 1.34%
Иран, 2, 1.34%
Иран
2 цитирования, 1.34%
Канада, 2, 1.34%
Канада
2 цитирования, 1.34%
Германия, 1, 0.67%
Германия
1 цитирование, 0.67%
Австрия, 1, 0.67%
Австрия
1 цитирование, 0.67%
Бангладеш, 1, 0.67%
Бангладеш
1 цитирование, 0.67%
Великобритания, 1, 0.67%
Великобритания
1 цитирование, 0.67%
Италия, 1, 0.67%
Италия
1 цитирование, 0.67%
Польша, 1, 0.67%
Польша
1 цитирование, 0.67%
Республика Корея, 1, 0.67%
Республика Корея
1 цитирование, 0.67%
Саудовская Аравия, 1, 0.67%
Саудовская Аравия
1 цитирование, 0.67%
10
20
30
40
50
60
70
  • Мы не учитываем публикации, у которых нет DOI.
  • Статистика пересчитывается раз в сутки.

Направления исследований

Нейроморфная спинтроника: проектирование элементной базы

Кремниевые вакуумные транзисторы с наноразмерным каналом проводимости

Магнитные туннельные гетероструктуры для спинтронных устройств

Наноэлектромеханические системы на основе тонкопленочных мембранных элементов

Спиновая динамика в аморфных ферромагнитных пленках в условиях возбуждения эффекта гигантского магнитоимпеданса

+
Исследование посвящено поиску оптимальной конструкции и состава чувствительного элемента на базе тонкопленочных аморфных ферромагнитных структур, работающих в режиме нелинейного гигантского магнитоимпеданса

Публикации и патенты

Петр Юрьевич Глаголев, Николай Алексеевич Дюжев, Глеб Дмитриевич Демин, Анна Александровна Дедкова, Евгений Эдуардович Гусев
RU2775268C1, 2022

Партнёры

Адрес лаборатории

Москва, Зеленоград, площадь Шокина, 1
Необходимо авторизоваться.