Лаймер Маттиас

Matthias Laimer
Публикаций
5
Цитирований
18
Индекс Хирша
2
Всего публикаций
5
Всего цитирований
18
Цитирований на публикацию
3.6
Среднее число публикаций в год
1
Среднее число соавторов
3.8
Годы публикаций
2022-2026 (5 лет)
h-index
2
i10-index
1
m-index
0.4
o-index
4
g-index
4
w-index
1
Описание метрик
h-index
Учёный имеет индекс h, если h из его N статей цитируются как минимум h раз каждая, в то время как оставшиеся (N - h) статей цитируются не более чем h раз каждая.
i10-index
Число статей автора, получивших не менее 10 ссылок каждая.
m-index
m-индекс ученого численно равен отношению его h-индекса к количеству лет, прошедших с момента первой публикации.
o-index
Среднее геометрическое h-индекса и числа цитирований наиболее цитируемой статьи ученого.
g-index
Для данного множества статей, отсортированного в порядке убывания количества цитирований, которые получили эти статьи, g-индекс это наибольшее число, такое что g самых цитируемых статей получили (суммарно) не менее g2 цитирований.
w-index
Если w статей ученого имеют не менее 10w цитирований каждая и другие статьи меньше, чем 10(w+1) цитирований, то w-индекс исследователя равен w.

Топ-100

Области наук

1
Electrical and Electronic Engineering, 1, 20%
Electrical and Electronic Engineering
1 публикация, 20%
Instrumentation, 1, 20%
Instrumentation
1 публикация, 20%
1

Журналы

1
2
3
4
IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement
4 публикации, 80%
IEEE/ASME Transactions on Mechatronics
1 публикация, 20%
1
2
3
4

Цитирующие журналы

1
2
3
4
5
IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement
5 цитирований, 27.78%
Журнал не определён, 4, 22.22%
Журнал не определён
4 цитирования, 22.22%
Measurement: Journal of the International Measurement Confederation
2 цитирования, 11.11%
Micromachines
1 цитирование, 5.56%
Optics and Laser Technology
1 цитирование, 5.56%
Optics Express
1 цитирование, 5.56%
Measurement Science and Technology
1 цитирование, 5.56%
Sensors
1 цитирование, 5.56%
Results in Physics
1 цитирование, 5.56%
Nanomanufacturing and Metrology
1 цитирование, 5.56%
1
2
3
4
5

Издатели

1
2
3
4
5
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
5 публикаций, 100%
1
2
3
4
5

Организации из публикаций

1
2
3
Венский технический университет
3 публикации, 60%
Московский энергетический институт
2 публикации, 40%
1
2
3

Страны из публикаций

1
2
3
Австрия, 3, 60%
Австрия
3 публикации, 60%
Россия, 2, 40%
Россия
2 публикации, 40%
1
2
3

Цитирующие организации

1
2
3
4
5
6
Организация не определена, 6, 33.33%
Организация не определена
6 цитирований, 33.33%
Чжэцзянский университет
2 цитирования, 11.11%
Московский энергетический институт
1 цитирование, 5.56%
Университет Цинхуа
1 цитирование, 5.56%
Хуачжунский университет науки и технологии
1 цитирование, 5.56%
Харбинский политехнический университет
1 цитирование, 5.56%
Центральный южный университет
1 цитирование, 5.56%
Нанкинский университет информационных наук и технологий
1 цитирование, 5.56%
Нанкинский университет почты и телекоммуникаций
1 цитирование, 5.56%
Нанкинский технологический институт
1 цитирование, 5.56%
Яньшаньский университет
1 цитирование, 5.56%
Харбинский университет науки и технологий
1 цитирование, 5.56%
Китайский университет Цзилианг
1 цитирование, 5.56%
Шаньдунский университет
1 цитирование, 5.56%
1
2
3
4
5
6

Цитирующие страны

2
4
6
8
10
Китай, 10, 55.56%
Китай
10 цитирований, 55.56%
Страна не определена, 4, 22.22%
Страна не определена
4 цитирования, 22.22%
Австрия, 2, 11.11%
Австрия
2 цитирования, 11.11%
Россия, 1, 5.56%
Россия
1 цитирование, 5.56%
2
4
6
8
10
  • Мы не учитываем публикации, у которых нет DOI.
  • Статистика пересчитывается раз в сутки.
По данным ORCID
В этом разделе отображаются профили ученых, зарегистрированных на платформе. Чтобы отображался полный список, приглашайте коллег зарегистрироваться.