Статистика

Всего публикаций
9
Всего цитирований
32
Цитирований на публикацию
3.56
Среднее число публикаций в год
1.29
Среднее число соавторов
4.44
Годы публикаций
2020-2026 (7 лет)
h-index
3
i10-index
1
m-index
0.43
o-index
5
g-index
5
w-index
1
Описание метрик
h-index
Учёный имеет индекс h, если h из его N статей цитируются как минимум h раз каждая, в то время как оставшиеся (N - h) статей цитируются не более чем h раз каждая.
i10-index
Число статей автора, получивших не менее 10 ссылок каждая.
m-index
m-индекс ученого численно равен отношению его h-индекса к количеству лет, прошедших с момента первой публикации.
o-index
Среднее геометрическое h-индекса и числа цитирований наиболее цитируемой статьи ученого.
g-index
Для данного множества статей, отсортированного в порядке убывания количества цитирований, которые получили эти статьи, g-индекс это наибольшее число, такое что g самых цитируемых статей получили (суммарно) не менее g2 цитирований.
w-index
Если w статей ученого имеют не менее 10w цитирований каждая и другие статьи меньше, чем 10(w+1) цитирований, то w-индекс исследователя равен w.

Области наук

1
2
3
Condensed Matter Physics, 3, 33.33%
Condensed Matter Physics
3 публикации, 33.33%
Materials Chemistry, 1, 11.11%
Materials Chemistry
1 публикация, 11.11%
Surfaces, Coatings and Films, 1, 11.11%
Surfaces, Coatings and Films
1 публикация, 11.11%
Electronic, Optical and Magnetic Materials, 1, 11.11%
Electronic, Optical and Magnetic Materials
1 публикация, 11.11%
General Physics and Astronomy, 1, 11.11%
General Physics and Astronomy
1 публикация, 11.11%
Atomic and Molecular Physics, and Optics, 1, 11.11%
Atomic and Molecular Physics, and Optics
1 публикация, 11.11%
Electrical and Electronic Engineering, 1, 11.11%
Electrical and Electronic Engineering
1 публикация, 11.11%
Instrumentation, 1, 11.11%
Instrumentation
1 публикация, 11.11%
Surfaces and Interfaces, 1, 11.11%
Surfaces and Interfaces
1 публикация, 11.11%
1
2
3

Журналы

1
2
Optoelectronics, Instrumentation and Data Processing
2 публикации, 22.22%
Applied Surface Science
2 публикации, 22.22%
Surface Science
1 публикация, 11.11%
Journal of Physics: Conference Series
1 публикация, 11.11%
Semiconductors
1 публикация, 11.11%
1
2

Цитирующие журналы

1
2
3
4
5
6
7
8
Optoelectronics, Instrumentation and Data Processing
8 цитирований, 25%
Journal of Physics: Conference Series
3 цитирования, 9.38%
Журнал не определён, 2, 6.25%
Журнал не определён
2 цитирования, 6.25%
Nanomaterials
2 цитирования, 6.25%
Applied Surface Science
2 цитирования, 6.25%
Russian Microelectronics
2 цитирования, 6.25%
ACS Applied Nano Materials
1 цитирование, 3.13%
Molecules
1 цитирование, 3.13%
Journal of Vacuum Science and Technology A: Vacuum, Surfaces and Films
1 цитирование, 3.13%
Vacuum
1 цитирование, 3.13%
Crystal Growth and Design
1 цитирование, 3.13%
Physics of Fluids
1 цитирование, 3.13%
Journal of Crystal Growth
1 цитирование, 3.13%
Chinese Journal of Lasers
1 цитирование, 3.13%
Journal of Semiconductors
1 цитирование, 3.13%
European Physical Journal Plus
1 цитирование, 3.13%
Nano-Structures and Nano-Objects
1 цитирование, 3.13%
Sensors and Actuators, B: Chemical
1 цитирование, 3.13%
Micro and Nanostructures
1 цитирование, 3.13%
1
2
3
4
5
6
7
8

Цитируемые журналы

5
10
15
20
25
30
35
Applied Physics Letters
33 цитирования, 8.31%
Journal of Applied Physics
28 цитирований, 7.05%
ACS applied materials & interfaces
23 цитирования, 5.79%
Surface Science
21 цитирование, 5.29%
Physical Review B
20 цитирований, 5.04%
Applied Surface Science
19 цитирований, 4.79%
Журнал не определён, 12, 3.02%
Журнал не определён
12 цитирований, 3.02%
Journal of Vacuum Science and Technology A: Vacuum, Surfaces and Films
10 цитирований, 2.52%
Journal Physics D: Applied Physics
10 цитирований, 2.52%
Thin Solid Films
9 цитирований, 2.27%
Journal of Crystal Growth
8 цитирований, 2.02%
Applied Physics A: Materials Science and Processing
7 цитирований, 1.76%
Advanced Materials
7 цитирований, 1.76%
Nanoscale
6 цитирований, 1.51%
Scientific Reports
6 цитирований, 1.51%
Semiconductors
6 цитирований, 1.51%
Journal of Vacuum Science & Technology B: Microelectronics Processing and Phenomena
6 цитирований, 1.51%
Acta Materialia
5 цитирований, 1.26%
Progress in Surface Science
5 цитирований, 1.26%
Nanotechnology
5 цитирований, 1.26%
Nature Communications
4 цитирования, 1.01%
Advanced Functional Materials
4 цитирования, 1.01%
IOP Conference Series: Materials Science and Engineering
4 цитирования, 1.01%
IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques
4 цитирования, 1.01%
Nature
4 цитирования, 1.01%
Physics of Fluids
4 цитирования, 1.01%
Journal of Electronic Materials
4 цитирования, 1.01%
Nature Photonics
4 цитирования, 1.01%
Technical Physics Letters
4 цитирования, 1.01%
Carbon
3 цитирования, 0.76%
Advanced Optical Materials
3 цитирования, 0.76%
ACS Nano
3 цитирования, 0.76%
Small
3 цитирования, 0.76%
ACS Photonics
3 цитирования, 0.76%
Chemical Reviews
3 цитирования, 0.76%
Nanophotonics
3 цитирования, 0.76%
Nano Energy
3 цитирования, 0.76%
IEEE Transactions on Electron Devices
3 цитирования, 0.76%
ACS Applied Nano Materials
2 цитирования, 0.5%
RSC Advances
2 цитирования, 0.5%
Nuclear Instruments and Methods in Physics Research, Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms
2 цитирования, 0.5%
Journal of Physics: Conference Series
2 цитирования, 0.5%
Advanced Electronic Materials
2 цитирования, 0.5%
Journal of the Electrochemical Society
2 цитирования, 0.5%
Solar Energy Materials and Solar Cells
2 цитирования, 0.5%
Chemistry of Materials
2 цитирования, 0.5%
IEEE Journal of Selected Topics in Quantum Electronics
2 цитирования, 0.5%
Nano Letters
2 цитирования, 0.5%
Optoelectronics, Instrumentation and Data Processing
2 цитирования, 0.5%
Review of Scientific Instruments
2 цитирования, 0.5%
Physical Review A
2 цитирования, 0.5%
Nanoscale Advances
2 цитирования, 0.5%
Journal of Chemical Thermodynamics
2 цитирования, 0.5%
Journal of Physics and Chemistry of Solids
2 цитирования, 0.5%
Computational Mathematics and Mathematical Physics
2 цитирования, 0.5%
Langmuir
2 цитирования, 0.5%
Journal of the Physical Society of Japan
2 цитирования, 0.5%
Advanced Energy Materials
2 цитирования, 0.5%
Science advances
2 цитирования, 0.5%
Applied Superconductivity
2 цитирования, 0.5%
Materials Science and Engineering: R: Reports
1 цитирование, 0.25%
Nature Nanotechnology
1 цитирование, 0.25%
Ultramicroscopy
1 цитирование, 0.25%
Journal of Chemical Physics
1 цитирование, 0.25%
Materials Horizons
1 цитирование, 0.25%
Materials Today Nano
1 цитирование, 0.25%
Surface Science Reports
1 цитирование, 0.25%
Japanese Journal of Applied Physics, Part 1: Regular Papers & Short Notes
1 цитирование, 0.25%
Physics Letters, Section A: General, Atomic and Solid State Physics
1 цитирование, 0.25%
Journal of Materials Chemistry C
1 цитирование, 0.25%
Materials Research Express
1 цитирование, 0.25%
Physical Review Letters
1 цитирование, 0.25%
Springer Series in Materials Science
1 цитирование, 0.25%
Journal of Physics Condensed Matter
1 цитирование, 0.25%
Plasma Sources Science and Technology
1 цитирование, 0.25%
Inorganic Materials
1 цитирование, 0.25%
Physica Status Solidi (A) Applications and Materials Science
1 цитирование, 0.25%
Laser and Particle Beams
1 цитирование, 0.25%
Materials Science and Engineering B: Solid-State Materials for Advanced Technology
1 цитирование, 0.25%
Vacuum
1 цитирование, 0.25%
Nano Research
1 цитирование, 0.25%
Journal of Materials Chemistry A
1 цитирование, 0.25%
Crystals
1 цитирование, 0.25%
Optical and Quantum Electronics
1 цитирование, 0.25%
APL Photonics
1 цитирование, 0.25%
Journal of Electroceramics
1 цитирование, 0.25%
Advanced Materials Interfaces
1 цитирование, 0.25%
Chemical Society Reviews
1 цитирование, 0.25%
Bulletin of the Russian Academy of Sciences: Physics
1 цитирование, 0.25%
Results in Physics
1 цитирование, 0.25%
Journal of Applied Mechanics and Technical Physics
1 цитирование, 0.25%
ECS Transactions
1 цитирование, 0.25%
Thermophysics and Aeromechanics
1 цитирование, 0.25%
Journal of Colloid and Interface Science
1 цитирование, 0.25%
Journal of the American Ceramic Society
1 цитирование, 0.25%
MRS Bulletin
1 цитирование, 0.25%
Journal of Micromechanics and Microengineering
1 цитирование, 0.25%
Materials
1 цитирование, 0.25%
Nanostructured Materials
1 цитирование, 0.25%
ArXiv
1 цитирование, 0.25%
Journal of Nanoscience and Nanotechnology
1 цитирование, 0.25%
Journal of Vacuum Science and Technology
1 цитирование, 0.25%
Journal of the Optical Society of America
1 цитирование, 0.25%
Philosophical Transactions of the Royal Society of London Series A Mathematical and Physical Sciences
1 цитирование, 0.25%
5
10
15
20
25
30
35

Издатели

1
2
3
Elsevier
3 публикации, 33.33%
Pleiades Publishing
3 публикации, 33.33%
IOP Publishing
1 публикация, 11.11%
1
2
3

Организации из публикаций

1
2
3
4
5
6
Институт физики полупроводников им. А.В. Ржанова СО РАН
6 публикаций, 66.67%
Новосибирский Государственный Университет
4 публикации, 44.44%
Институт теплофизики им. С.С. Кутателадзе СО РАН
3 публикации, 33.33%
Организация не определена, 2, 22.22%
Организация не определена
2 публикации, 22.22%
Институт автоматики и процессов управления ДВО РАН
1 публикация, 11.11%
Дальневосточный федеральный университет
1 публикация, 11.11%
Национальный фонд греческих исследований
1 публикация, 11.11%
1
2
3
4
5
6

Страны из публикаций

1
2
3
4
5
6
7
8
9
Россия, 9, 100%
Россия
9 публикаций, 100%
Греция, 1, 11.11%
Греция
1 публикация, 11.11%
1
2
3
4
5
6
7
8
9

Цитирующие организации

1
2
3
4
5
6
7
Организация не определена, 7, 21.88%
Организация не определена
7 цитирований, 21.88%
Институт физики полупроводников им. А.В. Ржанова СО РАН
7 цитирований, 21.88%
Институт теплофизики им. С.С. Кутателадзе СО РАН
4 цитирования, 12.5%
Новосибирский Государственный Университет
3 цитирования, 9.38%
Шеффилдский университет
2 цитирования, 6.25%
Сколковский институт науки и технологий
1 цитирование, 3.13%
Национальный исследовательский университет «Высшая школа экономики»
1 цитирование, 3.13%
Институт химии и химической технологии СО РАН
1 цитирование, 3.13%
Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН
1 цитирование, 3.13%
Институт автоматики и процессов управления ДВО РАН
1 цитирование, 3.13%
Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН
1 цитирование, 3.13%
Дальневосточный федеральный университет
1 цитирование, 3.13%
Сибирский Федеральный Университет
1 цитирование, 3.13%
Санкт-Петербургский национальный исследовательский Академический университет имени Ж. И. Алфёрова РАН
1 цитирование, 3.13%
ФИЦ "Красноярский научный центр" СО РАН
1 цитирование, 3.13%
Институт вычислительного моделирования СО РАН
1 цитирование, 3.13%
Федеральный исследовательский центр "Информатика и управление" РАН
1 цитирование, 3.13%
Воронежский государственный лесотехнический университет имени Г. Ф. Морозова
1 цитирование, 3.13%
Университет короля Халида
1 цитирование, 3.13%
Университет Альфейсала
1 цитирование, 3.13%
Университет Биша
1 цитирование, 3.13%
Университет Каид-и Азама
1 цитирование, 3.13%
Университет Пенджаба
1 цитирование, 3.13%
Технологический университет Малайзии
1 цитирование, 3.13%
Технологический университет МАРА
1 цитирование, 3.13%
Технический университет Эйндховена
1 цитирование, 3.13%
Национальный институт передовых промышленных наук и технологий
1 цитирование, 3.13%
Национальный фонд греческих исследований
1 цитирование, 3.13%
Университет Уотерлу
1 цитирование, 3.13%
Токийский городской университет
1 цитирование, 3.13%
1
2
3
4
5
6
7

Цитирующие страны

2
4
6
8
10
12
Россия, 12, 37.5%
Россия
12 цитирований, 37.5%
Страна не определена, 6, 18.75%
Страна не определена
6 цитирований, 18.75%
Великобритания, 2, 6.25%
Великобритания
2 цитирования, 6.25%
Греция, 1, 3.13%
Греция
1 цитирование, 3.13%
Канада, 1, 3.13%
Канада
1 цитирование, 3.13%
Малайзия, 1, 3.13%
Малайзия
1 цитирование, 3.13%
Нидерланды, 1, 3.13%
Нидерланды
1 цитирование, 3.13%
Пакистан, 1, 3.13%
Пакистан
1 цитирование, 3.13%
Саудовская Аравия, 1, 3.13%
Саудовская Аравия
1 цитирование, 3.13%
Япония, 1, 3.13%
Япония
1 цитирование, 3.13%
2
4
6
8
10
12
  • Мы не учитываем публикации, у которых нет DOI.
  • Статистика пересчитывается раз в сутки.