Статистика

Всего публикаций
27
Всего цитирований
104
Цитирований на публикацию
3.85
Среднее число публикаций в год
2.25
Среднее число соавторов
2.63
Годы публикаций
2015-2026 (12 лет)
h-index
6
i10-index
5
m-index
0.5
o-index
11
g-index
9
w-index
1
Описание метрик
h-index
Учёный имеет индекс h, если h из его N статей цитируются как минимум h раз каждая, в то время как оставшиеся (N - h) статей цитируются не более чем h раз каждая.
i10-index
Число статей автора, получивших не менее 10 ссылок каждая.
m-index
m-индекс ученого численно равен отношению его h-индекса к количеству лет, прошедших с момента первой публикации.
o-index
Среднее геометрическое h-индекса и числа цитирований наиболее цитируемой статьи ученого.
g-index
Для данного множества статей, отсортированного в порядке убывания количества цитирований, которые получили эти статьи, g-индекс это наибольшее число, такое что g самых цитируемых статей получили (суммарно) не менее g2 цитирований.
w-index
Если w статей ученого имеют не менее 10w цитирований каждая и другие статьи меньше, чем 10(w+1) цитирований, то w-индекс исследователя равен w.

Области наук

1
2
3
4
5
6
7
8
Surfaces, Coatings and Films, 8, 29.63%
Surfaces, Coatings and Films
8 публикаций, 29.63%
Electronic, Optical and Magnetic Materials, 7, 25.93%
Electronic, Optical and Magnetic Materials
7 публикаций, 25.93%
Condensed Matter Physics, 6, 22.22%
Condensed Matter Physics
6 публикаций, 22.22%
Materials Chemistry, 3, 11.11%
Materials Chemistry
3 публикации, 11.11%
Atomic and Molecular Physics, and Optics, 3, 11.11%
Atomic and Molecular Physics, and Optics
3 публикации, 11.11%
Electrical and Electronic Engineering, 3, 11.11%
Electrical and Electronic Engineering
3 публикации, 11.11%
Instrumentation, 3, 11.11%
Instrumentation
3 публикации, 11.11%
Mechanical Engineering, 3, 11.11%
Mechanical Engineering
3 публикации, 11.11%
Process Chemistry and Technology, 2, 7.41%
Process Chemistry and Technology
2 публикации, 7.41%
Metals and Alloys, 1, 3.7%
Metals and Alloys
1 публикация, 3.7%
General Chemistry, 1, 3.7%
General Chemistry
1 публикация, 3.7%
General Physics and Astronomy, 1, 3.7%
General Physics and Astronomy
1 публикация, 3.7%
General Materials Science, 1, 3.7%
General Materials Science
1 публикация, 3.7%
Polymers and Plastics, 1, 3.7%
Polymers and Plastics
1 публикация, 3.7%
Physics and Astronomy (miscellaneous), 1, 3.7%
Physics and Astronomy (miscellaneous)
1 публикация, 3.7%
Surfaces and Interfaces, 1, 3.7%
Surfaces and Interfaces
1 публикация, 3.7%
Biomaterials, 1, 3.7%
Biomaterials
1 публикация, 3.7%
1
2
3
4
5
6
7
8

Журналы

1
2
3
4
5
6
Semiconductors
6 публикаций, 22.22%
Journal of Surface Investigation
5 публикаций, 18.52%
Поверхность Рентгеновские синхротронные и нейтронные исследования
3 публикации, 11.11%
Applied Surface Science
2 публикации, 7.41%
Journal of Vacuum Science and Technology B
2 публикации, 7.41%
Nanoscale
1 публикация, 3.7%
Materials Research Express
1 публикация, 3.7%
Vacuum
1 публикация, 3.7%
Russian Microelectronics
1 публикация, 3.7%
Beilstein Journal of Nanotechnology
1 публикация, 3.7%
Technical Physics Letters
1 публикация, 3.7%
Письма в журнал технической физики
1 публикация, 3.7%
Proceedings of Universities ELECTRONICS
1 публикация, 3.7%
Поверхность Рентгеновские синхротронные и нейтронные исследования
1 публикация, 3.7%
1
2
3
4
5
6

Цитирующие журналы

2
4
6
8
10
12
14
16
18
20
Semiconductors
19 цитирований, 18.27%
Journal of Surface Investigation
16 цитирований, 15.38%
Applied Surface Science
9 цитирований, 8.65%
Nanoscale
8 цитирований, 7.69%
Vacuum
8 цитирований, 7.69%
Beilstein Journal of Nanotechnology
6 цитирований, 5.77%
Journal of Vacuum Science and Technology B
4 цитирования, 3.85%
Materials and Manufacturing Processes
3 цитирования, 2.88%
Applied Physics Reviews
2 цитирования, 1.92%
Materials Research Express
2 цитирования, 1.92%
Microsystem Technologies
2 цитирования, 1.92%
Sensors and Actuators, A: Physical
2 цитирования, 1.92%
Physical Review B
2 цитирования, 1.92%
Поверхность Рентгеновские синхротронные и нейтронные исследования
2 цитирования, 1.92%
Журнал не определён, 1, 0.96%
Журнал не определён
1 цитирование, 0.96%
Microscopy and Microanalysis
1 цитирование, 0.96%
Journal of Physics: Conference Series
1 цитирование, 0.96%
OSA Continuum
1 цитирование, 0.96%
Applied Physics Letters
1 цитирование, 0.96%
Advanced Electronic Materials
1 цитирование, 0.96%
Applied Optics
1 цитирование, 0.96%
Optics and Laser Technology
1 цитирование, 0.96%
Materials and Design
1 цитирование, 0.96%
Nanomaterials
1 цитирование, 0.96%
Journal of the Korean Society for Precision Engineering
1 цитирование, 0.96%
Nanotechnology
1 цитирование, 0.96%
Langmuir
1 цитирование, 0.96%
Journal of Microelectromechanical Systems
1 цитирование, 0.96%
Letters on Materials
1 цитирование, 0.96%
Nano Energy
1 цитирование, 0.96%
Russian Microelectronics
1 цитирование, 0.96%
Nanomanufacturing
1 цитирование, 0.96%
Engineering Research Express
1 цитирование, 0.96%
2
4
6
8
10
12
14
16
18
20

Цитируемые журналы

10
20
30
40
50
60
Nuclear Instruments and Methods in Physics Research, Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms
56 цитирований, 7.71%
Nanotechnology
40 цитирований, 5.51%
Journal of Vacuum Science and Technology B
32 цитирования, 4.41%
Physical Review B
29 цитирований, 3.99%
Applied Surface Science
28 цитирований, 3.86%
Microelectronic Engineering
25 цитирований, 3.44%
Journal of Applied Physics
24 цитирования, 3.31%
Journal of Surface Investigation
20 цитирований, 2.75%
Журнал не определён, 19, 2.62%
Журнал не определён
19 цитирований, 2.62%
Ultramicroscopy
18 цитирований, 2.48%
MRS Bulletin
17 цитирований, 2.34%
Technical Physics Letters
16 цитирований, 2.2%
Vacuum
15 цитирований, 2.07%
Journal of Vacuum Science & Technology B: Microelectronics Processing and Phenomena
15 цитирований, 2.07%
Applied Physics A: Materials Science and Processing
13 цитирований, 1.79%
Applied Physics Reviews
12 цитирований, 1.65%
Scientific Reports
11 цитирований, 1.52%
Journal of Micromechanics and Microengineering
11 цитирований, 1.52%
Micron
10 цитирований, 1.38%
Materials Research Express
10 цитирований, 1.38%
Applied Physics Letters
9 цитирований, 1.24%
Nanoscale
8 цитирований, 1.1%
Microscopy and Microanalysis
8 цитирований, 1.1%
Microsystem Technologies
8 цитирований, 1.1%
Surface and Interface Analysis
8 цитирований, 1.1%
Computer Physics Communications
8 цитирований, 1.1%
Springer Series in Materials Science
7 цитирований, 0.96%
Journal of the Electrochemical Society
7 цитирований, 0.96%
Optics Express
7 цитирований, 0.96%
Physical Review Letters
6 цитирований, 0.83%
Journal Physics D: Applied Physics
6 цитирований, 0.83%
Journal of Computational Physics
6 цитирований, 0.83%
International Journal of Advanced Manufacturing Technology
6 цитирований, 0.83%
Sensors and Actuators, A: Physical
6 цитирований, 0.83%
Beilstein Journal of Nanotechnology
6 цитирований, 0.83%
Microelectronics Reliability
5 цитирований, 0.69%
Small
5 цитирований, 0.69%
Physical Review A
5 цитирований, 0.69%
Journal of Nuclear Materials
5 цитирований, 0.69%
Journal of Vacuum Science & Technology B Microelectronics and Nanometer Structures Processing Measurement and Phenomena
5 цитирований, 0.69%
Nuclear Instruments and Methods
5 цитирований, 0.69%
ACS applied materials & interfaces
4 цитирования, 0.55%
Computational Materials Science
4 цитирования, 0.55%
Journal of Vacuum Science and Technology A: Vacuum, Surfaces and Films
4 цитирования, 0.55%
International Journal of Precision Engineering and Manufacturing
4 цитирования, 0.55%
Physical Review E
4 цитирования, 0.55%
Procedia Computer Science
4 цитирования, 0.55%
Semiconductors
4 цитирования, 0.55%
Nature Nanotechnology
3 цитирования, 0.41%
Surface Science
3 цитирования, 0.41%
Journal of Chemical Physics
3 цитирования, 0.41%
Journal of Physics: Conference Series
3 цитирования, 0.41%
Journal of Physics Condensed Matter
3 цитирования, 0.41%
IEEE Electron Device Letters
3 цитирования, 0.41%
Materials Science in Semiconductor Processing
3 цитирования, 0.41%
ACS Nano
3 цитирования, 0.41%
Nano Letters
3 цитирования, 0.41%
Materials Characterization
3 цитирования, 0.41%
Surface and Coatings Technology
3 цитирования, 0.41%
Scripta Materialia
3 цитирования, 0.41%
Journal of Microscopy
3 цитирования, 0.41%
Advanced Materials
3 цитирования, 0.41%
Advanced Materials Technologies
2 цитирования, 0.28%
New Journal of Physics
2 цитирования, 0.28%
Japanese Journal of Applied Physics, Part 1: Regular Papers & Short Notes
2 цитирования, 0.28%
Nature Communications
2 цитирования, 0.28%
IEEE Transactions on Pattern Analysis and Machine Intelligence
2 цитирования, 0.28%
Advanced Functional Materials
2 цитирования, 0.28%
Optical Materials
2 цитирования, 0.28%
Materials and Design
2 цитирования, 0.28%
Nanomaterials
2 цитирования, 0.28%
Modelling and Simulation in Materials Science and Engineering
2 цитирования, 0.28%
Materials and Manufacturing Processes
2 цитирования, 0.28%
Journal of Crystal Growth
2 цитирования, 0.28%
Journal of Nanotechnology
2 цитирования, 0.28%
Thin Solid Films
2 цитирования, 0.28%
Precision Engineering
2 цитирования, 0.28%
Semiconductor Science and Technology
2 цитирования, 0.28%
Journal of Computational Electronics
2 цитирования, 0.28%
Current Opinion in Solid State and Materials Science
2 цитирования, 0.28%
Journal of Electron Microscopy
2 цитирования, 0.28%
Известия Российской академии наук Серия физическая
2 цитирования, 0.28%
Journal of Surface Analysis
2 цитирования, 0.28%
Carbon
1 цитирование, 0.14%
Materials Science and Engineering: R: Reports
1 цитирование, 0.14%
Proceedings of the National Academy of Sciences of the United States of America
1 цитирование, 0.14%
Materials Letters
1 цитирование, 0.14%
Optics Letters
1 цитирование, 0.14%
Nanotechnologies in Russia
1 цитирование, 0.14%
Journal of Materials Research
1 цитирование, 0.14%
IEEE Transactions on Nanotechnology
1 цитирование, 0.14%
ACS Applied Nano Materials
1 цитирование, 0.14%
Microelectronics Journal
1 цитирование, 0.14%
Materials Research Letters
1 цитирование, 0.14%
Nanoscale Horizons
1 цитирование, 0.14%
Solid-State Electronics
1 цитирование, 0.14%
Advanced Electronic Materials
1 цитирование, 0.14%
Applied Optics
1 цитирование, 0.14%
Science
1 цитирование, 0.14%
Astrophysical Journal Letters
1 цитирование, 0.14%
IEEE Journal of Selected Topics in Quantum Electronics
1 цитирование, 0.14%
Chemical Communications
1 цитирование, 0.14%
Optical Materials Express
1 цитирование, 0.14%
Nano Futures
1 цитирование, 0.14%
The Analyst
1 цитирование, 0.14%
Reports on Progress in Physics
1 цитирование, 0.14%
SIAM Review
1 цитирование, 0.14%
Annual Review of Chemical and Biomolecular Engineering
1 цитирование, 0.14%
Journal of Materials Science
1 цитирование, 0.14%
Radiation Effects and Defects in Solids
1 цитирование, 0.14%
Diamond and Related Materials
1 цитирование, 0.14%
Journal of Physical Chemistry B
1 цитирование, 0.14%
Critical Reviews in Solid State and Materials Sciences
1 цитирование, 0.14%
Studies in Fuzziness and Soft Computing
1 цитирование, 0.14%
Nanoscale Advances
1 цитирование, 0.14%
Developments in Mathematics
1 цитирование, 0.14%
European Physical Journal B
1 цитирование, 0.14%
Journal of Electronic Materials
1 цитирование, 0.14%
Microsystems and Nanoengineering
1 цитирование, 0.14%
IEEE Transactions on Nuclear Science
1 цитирование, 0.14%
Advanced Engineering Materials
1 цитирование, 0.14%
Journal of Microelectromechanical Systems
1 цитирование, 0.14%
Advances in Imaging and Electron Physics
1 цитирование, 0.14%
Lecture Notes in Mathematics
1 цитирование, 0.14%
Biomicrofluidics
1 цитирование, 0.14%
Journal of Physical Chemistry Letters
1 цитирование, 0.14%
Journal of Physical and Chemical Reference Data
1 цитирование, 0.14%
Materials Science & Engineering A: Structural Materials: Properties, Microstructure and Processing
1 цитирование, 0.14%
Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering
1 цитирование, 0.14%
IEEE Transactions on Electron Devices
1 цитирование, 0.14%
Radiation Effects
1 цитирование, 0.14%
Applied Science and Convergence Technology
1 цитирование, 0.14%
Journal of Display Technology
1 цитирование, 0.14%
ACM SIGGRAPH Computer Graphics
1 цитирование, 0.14%
Journal of Physics Photonics
1 цитирование, 0.14%
The Journal of Open Source Software
1 цитирование, 0.14%
Поверхность Рентгеновские синхротронные и нейтронные исследования
1 цитирование, 0.14%
Nanofabrication
1 цитирование, 0.14%
Proceedings of Universities ELECTRONICS
1 цитирование, 0.14%
Analytical Methods and Instruments for Micro- and Nanomaterials
1 цитирование, 0.14%
10
20
30
40
50
60

Издатели

2
4
6
8
10
12
14
16
Pleiades Publishing
16 публикаций, 59.26%
Elsevier
3 публикации, 11.11%
American Vacuum Society
2 публикации, 7.41%
Royal Society of Chemistry (RSC)
1 публикация, 3.7%
IOP Publishing
1 публикация, 3.7%
Beilstein-Institut
1 публикация, 3.7%
The Russian Academy of Sciences
1 публикация, 3.7%
Ioffe Institute Russian Academy of Sciences
1 публикация, 3.7%
National Research University of Electronic Technology (MIET)
1 публикация, 3.7%
2
4
6
8
10
12
14
16

Организации из публикаций

5
10
15
20
25
Национальный исследовательский университет «Московский институт электронной техники»
21 публикация, 77.78%
Организация не определена, 6, 22.22%
Организация не определена
6 публикаций, 22.22%
Московский государственный университет имени М.В. Ломоносова
2 публикации, 7.41%
5
10
15
20
25

Страны из публикаций

5
10
15
20
25
Россия, 23, 85.19%
Россия
23 публикации, 85.19%
Страна не определена, 4, 14.81%
Страна не определена
4 публикации, 14.81%
5
10
15
20
25

Цитирующие организации

5
10
15
20
Национальный исследовательский университет «Московский институт электронной техники»
20 цитирований, 19.23%
Организация не определена, 5, 4.81%
Организация не определена
5 цитирований, 4.81%
Юго-Восточный университет
5 цитирований, 4.81%
Физико-технологический институт имени К.А. Валиева
4 цитирования, 3.85%
Венский технический университет
3 цитирования, 2.88%
Московский государственный университет имени М.В. Ломоносова
2 цитирования, 1.92%
Манчестерский университет
2 цитирования, 1.92%
Люксембургский институт науки и технологий
2 цитирования, 1.92%
Мельбурнский университет
2 цитирования, 1.92%
Венский университет
2 цитирования, 1.92%
Национальный исследовательский ядерный университет «МИФИ»
1 цитирование, 0.96%
Национальный исследовательский технологический университет «МИСиС»
1 цитирование, 0.96%
Институт проблем экологии и эволюции им. А.Н. Северцова РАН
1 цитирование, 0.96%
Институт прикладной физики имени А. В. Гапонова-Грехова РАН
1 цитирование, 0.96%
Институт физики микроструктур РАН
1 цитирование, 0.96%
Институт проблем сверхпластичности металлов РАН
1 цитирование, 0.96%
Институт проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов РАН
1 цитирование, 0.96%
МИРЭА — Российский технологический университет
1 цитирование, 0.96%
Ракетно-космическая корпорация «Энергия» имени С. П. Королёва
1 цитирование, 0.96%
Уфимский университет науки и технологий
1 цитирование, 0.96%
Университет Тегерана
1 цитирование, 0.96%
Научно-технологический университет Ирана
1 цитирование, 0.96%
Университет Эль-Мустансирия
1 цитирование, 0.96%
Тюбингенский университет
1 цитирование, 0.96%
Университет технологий знаний Раджива Ганди
1 цитирование, 0.96%
Пекинский технологический институт
1 цитирование, 0.96%
Пекинский университет
1 цитирование, 0.96%
Сианьский университет Цзяотун
1 цитирование, 0.96%
Университет Малайя
1 цитирование, 0.96%
Научный Университет Малайзии
1 цитирование, 0.96%
Национальный университет Малайзии
1 цитирование, 0.96%
Уппсальский университет
1 цитирование, 0.96%
Страсбургский университет
1 цитирование, 0.96%
Хельсинкский университет
1 цитирование, 0.96%
Пекинский технологический университет
1 цитирование, 0.96%
Китайский университет наук о Земле в Пекине
1 цитирование, 0.96%
Швейцарские федеральные лаборатории материаловедения и технологий
1 цитирование, 0.96%
Венский медицинский университет
1 цитирование, 0.96%
Норвежский университет науки и технологий
1 цитирование, 0.96%
Университет Сучжоу (Сучжоу)
1 цитирование, 0.96%
Институт физики Хельсинки
1 цитирование, 0.96%
Центр им. Гельмгольца Дрезден-Россендорф
1 цитирование, 0.96%
Университет Осло
1 цитирование, 0.96%
Янчжоуский университет
1 цитирование, 0.96%
Южный университет науки и технологий
1 цитирование, 0.96%
Национальный университет Сингапура
1 цитирование, 0.96%
Даляньский университет Цзяотун
1 цитирование, 0.96%
Бирмингемский университет
1 цитирование, 0.96%
Институт Нанотехнологий
1 цитирование, 0.96%
Университет Юго-Восточной Норвегии
1 цитирование, 0.96%
Университет штата Пенсильвания
1 цитирование, 0.96%
Калифорнийский университет в Беркли
1 цитирование, 0.96%
Университет Вэньчжоу
1 цитирование, 0.96%
Институт структуры и динамики материи Общества Макса Планка
1 цитирование, 0.96%
Университет науки и технологий Китая
1 цитирование, 0.96%
Гельмгольц-Центр Хереон
1 цитирование, 0.96%
Берлинский центр материалов и энергии имени Гельмгольца
1 цитирование, 0.96%
Центр экологических исследований имени Гельмгольца
1 цитирование, 0.96%
Институт Фердинанда Брауна, Институт высокочастотных технологий Лейбница
1 цитирование, 0.96%
Ланкастерский университет
1 цитирование, 0.96%
Университет Уотерлу
1 цитирование, 0.96%
Штутгартский университет
1 цитирование, 0.96%
Институт молекулярной биотехнологии Австрийской академии наук
1 цитирование, 0.96%
Билефельдский университет
1 цитирование, 0.96%
Токийский университет
1 цитирование, 0.96%
Новый Лиссабонский Университет
1 цитирование, 0.96%
AGH Научно-технический университет
1 цитирование, 0.96%
Университет Сарагосы
1 цитирование, 0.96%
Институт фотонных наук
1 цитирование, 0.96%
Университет Валенсии
1 цитирование, 0.96%
Институт микроэлектроники Барселоны
1 цитирование, 0.96%
Университет Флориды
1 цитирование, 0.96%
Национальный центр микроэлектроники
1 цитирование, 0.96%
Университет Луисвилля
1 цитирование, 0.96%
Институт нанонауки и материалов Арагона
1 цитирование, 0.96%
Университет Юты
1 цитирование, 0.96%
Университет Клода Бернара Лион 1
1 цитирование, 0.96%
Центральная школа Лиона
1 цитирование, 0.96%
Национальный институт прикладных наук Лиона
1 цитирование, 0.96%
Высшая школа химии, физики и электроники Лиона
1 цитирование, 0.96%
Университет штата Нью-Мексико
1 цитирование, 0.96%
5
10
15
20

Цитирующие страны

5
10
15
20
25
30
Россия, 28, 26.92%
Россия
28 цитирований, 26.92%
Китай, 11, 10.58%
Китай
11 цитирований, 10.58%
Страна не определена, 6, 5.77%
Страна не определена
6 цитирований, 5.77%
США, 5, 4.81%
США
5 цитирований, 4.81%
Австрия, 3, 2.88%
Австрия
3 цитирования, 2.88%
Великобритания, 3, 2.88%
Великобритания
3 цитирования, 2.88%
Германия, 2, 1.92%
Германия
2 цитирования, 1.92%
Франция, 2, 1.92%
Франция
2 цитирования, 1.92%
Австралия, 2, 1.92%
Австралия
2 цитирования, 1.92%
Испания, 2, 1.92%
Испания
2 цитирования, 1.92%
Люксембург, 2, 1.92%
Люксембург
2 цитирования, 1.92%
Португалия, 1, 0.96%
Португалия
1 цитирование, 0.96%
Дания, 1, 0.96%
Дания
1 цитирование, 0.96%
Индия, 1, 0.96%
Индия
1 цитирование, 0.96%
Ирак, 1, 0.96%
Ирак
1 цитирование, 0.96%
Иран, 1, 0.96%
Иран
1 цитирование, 0.96%
Италия, 1, 0.96%
Италия
1 цитирование, 0.96%
Канада, 1, 0.96%
Канада
1 цитирование, 0.96%
Малайзия, 1, 0.96%
Малайзия
1 цитирование, 0.96%
Мексика, 1, 0.96%
Мексика
1 цитирование, 0.96%
Норвегия, 1, 0.96%
Норвегия
1 цитирование, 0.96%
Польша, 1, 0.96%
Польша
1 цитирование, 0.96%
Сингапур, 1, 0.96%
Сингапур
1 цитирование, 0.96%
Финляндия, 1, 0.96%
Финляндия
1 цитирование, 0.96%
Швейцария, 1, 0.96%
Швейцария
1 цитирование, 0.96%
Швеция, 1, 0.96%
Швеция
1 цитирование, 0.96%
Япония, 1, 0.96%
Япония
1 цитирование, 0.96%
5
10
15
20
25
30
  • Мы не учитываем публикации, у которых нет DOI.
  • Статистика пересчитывается раз в сутки.