Laboratory of Reflectometry and Small Angle Scattering
Publications
165
Citations
853
h-index
13
Authorization required.
The laboratory specializes in the study of partially ordered systems by X-ray methods with a resolution from 1 A to 10 microns. Developed methods: X-ray microtomography and microscopy, small angle X-ray scattering, X-ray reflectometry and diffractometry
- X-ray microtomography
- X-ray reflectometry
- Small-angle X-ray scattering
- X-ray topography
Victor Asadchikov
Head of Laboratory
Aleksey Buzmakov
Senior Researcher
Research directions
Investigation of biological objects by X-ray phase contrast methods
+
The use of X-ray phase contrast makes it possible to visualize the fine structures of biological objects with a resolution of up to 10 microns
Publications and patents
Виктор Евгеньевич Асадчиков, Алексей Владимирович Бузмаков, Юрий Меерович Дымшиц, Денис Александрович Золотов, Владимир Анатольевич Шишков
RU2674584C1,
2018
Виктор Евгеньевич Асадчиков, Нур Киямович Бухардинов, Александр Теодорович Дембо, Юрий Михайлович Козелихин, Леонид Юрьевич Могилевский, Александр Львович Слепаков, Лев Абрамович Фейгин, Юрий Николаевич Шилин
SU1157422A1,
1985
Михаил Валентинович Ковальчук (RU), Михаил Валентинович Ковальчук, Виктор Евгеньевич Асадчиков (RU), Виктор Евгеньевич Асадчиков, Анатолий Васильевич Андреев (RU), Анатолий Васильевич Андреев, Андрей Андреевич Коновко (RU), Андрей Андреевич Коновко, Валентин Иванович Белоглазов (RU), Валентин Иванович Белоглазов, Юлия Сергеевна Скибина (RU), Юлия Сергеевна Скибина, Валерий Викторович Тучин (RU), Валерий Викторович Тучин, Иван Викторович Якимчук (RU), et. al.
RU2009139985A,
2011
Lab address
Москва, Ленинский проспект, 59
Authorization required.